用純相位空間光調制器對高斯分布的入射光進行相位調制，產生無衍射貝塞爾光束，并將生成的無衍射貝塞爾光束以一定的功率照射光折變材料，產生環形封閉的光波導包層。而且采用加熱或者均勻光照的方法均可擦除材料中的光波導痕跡，材料可重復利用，也變相降低了成本。空間光調制器的原理？本文所使用的空間光調制器是純相位空間光調制器，即空間光調制器對入射光的相位空間分布根據輸入圖像的信息進行對應的調制。目前主流純相位空間光調制器使用的是液晶調制機制。液晶器件，除了用于顯示以外，其以良好的穩定性、可進行編程實時控制、制作簡單、低價格以及易控制等優點在很多非顯示方面也有著重要應用。純相位空間光調制器分為透射型和反射型，其 ...

結構：SLM是基于LCOS（Liquid Crystal On Silicon液晶覆硅）工藝開發出來的，由蓋板玻璃，前透明電極，液晶層，反射鏡像素，集成電路背板（CMOS工藝）等結構組成。SLM有著廣泛的應用，可以用于光束轉向、分束、調焦，光鑷，脈沖整形，衍射光學等領域。SLM的剖面圖和相位調制原理圖如圖一所示：圖1 SLM截面圖及相位調制原理蓋板玻璃起到保護和封裝液晶的作用，針對實際使用中光源的不同波長范圍，蓋板玻璃表面鍍有相應波長范圍的寬譜AR膜，可以大大減少反射光，提高系統效率。前透明電極層位于液晶層的頂部，加載有恒定電壓。液晶層是SLM中的工作物質，液晶分子的排列狀況可以在電場作用下 ...

一、簡介激光引起的損傷的原因主要有兩類：熱吸收-產生于SLM中一種或多種材料對激光能量的吸收。這種損傷形式一般適用于連續波(CW)激光器、長脈沖(單脈沖長度≥1 ns)激光器和高重復率的激光器，這些激光器的平均功率可以非常高。介電擊穿-當高峰值功率密度的激光器以超過熱吸收速率的速度將電子從材料中剝離而導致燒蝕損傷時發生。這種損傷形式一般適用于具有高峰值功率的短脈沖激光器為了說明這些概念，圖1-圖5舉例說明了隨時間變化的激光功率密度曲線(紅色單線)和材料溫度(藍色雙線)。每條曲線顯示了高脈沖功率密度如何能立即導致介質擊穿，以及在整個激光脈沖周期中材料溫度如何升高，從而接近熱損傷點。不同的材料有不 ...

白色,這表明光調制對于長波長（例如紅外范圍）更有效,與反射率測量結果一致（圖三d）。04 拉曼光譜測試紅外發射率的改變顯然是由于離子液體插入石墨烯層中.為了進一步表征表面多層石墨烯的插層過程,進行了原位拉曼測試（圖四a）.圖四b展示了在不同偏壓下表面石墨烯的拉曼光譜.對于原始的多層石墨烯,存在三種拉曼模式：D（1321 cm-1）,G（1580 cm-1）和2D（2688cm-1）模式.D峰表明石墨烯中的缺陷,這可能是由基底蝕刻和轉移過程引起的.對于低于2V的插層偏壓,拉曼光譜與原始樣品相似.但是,當施加的電壓高于3V時,G峰和D峰的強度顯著增加,并且隨著偏壓增加至3 V,G峰從1580cm- ...

位的液晶空間光調制器（LC-SLM，Spatial Light Modulator）可以將入射的光波分成非常多的小區域，每個區域的相位可以單獨的調制。通過調制相位使得出射光在特定的點上發生干涉效應，最后使得控制點的光強值達到最大。這樣就完成了對散射介質前面點光源的成像。 2012年，國外的課題組利用波前矯正技術成功的實現了清晰的散射介質成像。先將待測物體替換成點光源，利用空間光調制器對點光源的波前進行校正，使散射光場能恢復點光源的像，獲得所需要的波前校正相位陣列，接著換回待測物體。利用由于光學記憶效應，得到了待測物體的清晰成像。6、渾濁透鏡成像技術 光波通過散射介質后，原來的光波序列被打亂，但 ...

數字信號左傅里葉變換，頻域的采樣點數是固定的，若要更多的頻率，需要在時域部分添加零，但同時帶來的問題是消耗更多的時間。當只是觀察頻域中的某一部分，又想看到更加詳細的內容時，可以使用CZT變換。離散傅里葉變換公式如下表示一個離散的正弦波，基頻時2π/N，k時一個整數，表示正弦信號的頻率是基頻的k倍。傅里葉變化的頻譜角度看，它的抽樣點為 ，在坐標系下可以表示為CZT_4從上圖可以看到，傅?葉變化的頻率，是對?個單位圓上進?等間隔的抽樣。若要看到更多 的細節，需要在不改變原始信號的情況下，在周圍補零的操作，增加信號的?度，如下所?，從?百個點增加到200個點，可以看到頻譜的點數增加了?倍，考到的頻譜 ...

是芯片上實現光調制的部分。取向膜（Alignment layer）：與FLC相鄰的硅和玻璃表面上的薄材料層。 它用于建立FLC分子的所需方向。前電極（ITO coating）：ITO是一種透明導電材料，它被用作FLC與像素鏡電極相對側的電極。增透膜（AR coating）：減少窗口玻璃在可見光范圍內的窗口反射率，在寬光譜（430nm to 670nm）范圍內，窗口反射率低于0.5%。圖3 左：像素的兩種狀態圖3左圖顯示了顯示器如何改變入射光的偏振狀態。為了簡化概念，圖中顯示了光“通過”鏡子而不是反射到鏡子上的路徑。這樣就更容易看到相對于顯示器光軸的光的偏振狀態的方向。基本上，顯示器的工作方式要 ...

及可靠的空間光調制。圖1：DMD單個工作單元圖示1、何為無掩模光刻？無掩膜光刻即不采用光刻掩模板的光刻技術。在傳統光刻過程中，需要采用光學照射掩模版的方式將圖案轉移到掩模版上；而在無掩模光刻中，對目標圖案的轉印不需要掩模版，而是通過電子束或光學的方式直接在基片上制作出所需要的圖案，這種方式避免了傳統方式制作掩模版效率低、分辨率低、成本高的缺點。2、何為DMD無掩模光刻？DMD無掩模光刻是光學無掩模光刻技術的一種，該技術使用數字DMD代替傳統的掩模，借助于DMD對常規掩膜予以取代而展開光刻成像，借助DMD對光源展開反射式調制，把涉及的虛擬數字掩膜移至硅晶圓基片，進而進行曝光。DMD無掩模光刻系統 ...

斯束通常由聲光調制器（AOM）或電光調制器（EOM）進行調制。調制頻率通常在MHz范圍內。這有助于減少由光熱膨脹產生的背景并提高圖像采集速度。在本應用筆記中，泵浦光束是由AOM在2 MHz左右調制的。為了使泵浦和斯托克斯光束在時間上保持一致，一個電動的延遲用于調整任一或兩個光路驅動器的光路長度。對于具有光譜聚焦的飛秒SRS，延遲級還用于微調泵浦和斯托克斯束之間的能量差。像大多數其他非線性光學顯微鏡一樣，光束掃描方法通常用于CARS和SRS圖像采集。在物鏡之前放置一對振鏡或振鏡掃描頭。在本例中，使用了一對振鏡（GVS 102，Thorlabs）。物鏡/聚光鏡，探測器和數據采集在掃描頭后，將光束導 ...

通常會使用電光調制器（EOM）或聲光調制器（AOM）進行調制。調制頻率通常在兆赫茲的頻段。這樣可以有效的降低光熱效應，提高圖像采集的速度。在這個應用指南中，我們將使用AOM對泵浦光在2兆赫的頻率進行調制。在光路中，一個電動延時臺被用來準確的調節泵浦和斯托克斯光之間的延時。對于光譜對焦的SRS來說，這個延時臺同時被用來微調兩束光之間的能量差。像大多數非線性光學成像系統一樣，SRS和CARS的成像大多使用的是光束掃描的方法。一堆振鏡被放置在物鏡前對光線進行掃描。在這個展示中，我們使用了一對Thorlabs的GVS 102振鏡。物鏡，聚光鏡，探測器，數據采集當激光經過振鏡掃描后，通過物鏡在樣品上形成 ...