帶極化分析的掃描電子顯微鏡(SEMPA)可用于高分辨率探測磁疇和磁化。然而，這種方法需要昂貴的電子光學器件和真空條件，這限制了應用范圍。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應用于納米尺度研究的基礎上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而，MFM不能直接測量材料的磁化強度，只能檢測表面附近的磁雜散場。此外，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運動，幾乎沒有施加外磁場。在MFM技術中，外磁場下的測量應謹慎處理，以免磁化懸臂梁受到損傷。此外，當樣品為軟磁材料時，磁尖會對所研究的磁性結構產生影響。基于克 ...

P1槽邊緣的掃描電子顯微鏡（SEM）截面圖（圖2(c)）。由于PL顯微照片的高分辨率，我們可以輕松測量PL-P1邊緣效應的范圍，我們觀察到全寬半高（FWHM）約為4.6μm。從SEM截面圖可以很容易地識別出，P1邊緣PL效應的范圍遠遠超過了由于底層鉬層導致的CIGS吸收材料的階梯。考慮到鉬側壁的載流子提取面積（厚度約400nm）的增加，很難解釋在約4.6μm范圍內30%的光致發光猝滅。圖1. 標準P1激光劃線中異常光致發光觀察。(a) P1和P2（底部）燒蝕線（頂部）的光學顯微照片以及從同一位置捕獲的高光譜顯微照片中提取的PL強度圖（底部）；(b) P1和P2劃線（頂部）的單色（980 nm處 ...

程后激光脊的掃描電子顯微鏡（SEM）圖像。圖3(b)顯示了橫截面切除后的光柵的放大視圖，說明了由于Ga +離子沉積和蒸發材料再沉積，特別是在高寬高比特征中，占空比隨光柵深度的變化。拼接誤差和設備的有限分辨率也導致了反射率阻帶中心波長的模擬值與實測值存在差異。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-106.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、 ...