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域觀察方法，透射電子顯微鏡(TEM)，在觀察不同形狀和大小的樣品的能力方面受到限制。在觀察樣品時，也很難對其施加外界影響，如磁場和物理應力。TEM的視野也比克爾顯微鏡小，比克爾顯微鏡便宜，并且使用的材料和物品可以用于其他目的。克爾顯微鏡是考慮到成本的通用的領域觀察技術之一。它可以觀察廣泛的磁性樣品，可用于各種磁性器件。雖然還有其他可用的觀察技術，但在今天的現代磁性材料實驗室中，采用克爾效應的觀察技術是一種有效的解決方案。如果您對磁學測量相關產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-150.html更多詳情請聯系昊量光 ...
像洛倫茲模式透射電子顯微鏡(TEM)和帶極化分析的掃描電子顯微鏡(SEMPA)可用于高分辨率探測磁疇和磁化。然而，這種方法需要昂貴的電子光學器件和真空條件，這限制了應用范圍。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應用于納米尺度研究的基礎上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而，MFM不能直接測量材料的磁化強度，只能檢測表面附近的磁雜散場。此外，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運動，幾乎沒有施加外磁場。在MFM技術中，外磁場下的測量應謹慎處理，以免磁化懸臂梁受到損傷。此外，當樣品為軟磁材料時，磁 ...
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