不同的光學和電子顯微鏡技術來表征它們。哪些實驗需要FYLA的超連續譜激光器?我們進行熒光壽命測量來表征混合納米顆粒-單分子樣品的耦合，為此我們需要具有高重復率p的脈沖激光器。為了進行這種表征，我們使用了皮秒p FYLA SCT 超連續激光器，其輸出450 - 2300nm，重復頻率為40MHz。我們將FYLA SCT與AOTF耦合以選擇我們需要的不同波長，并使用不同的清理濾波器進一步對其進行光譜過濾，因為具有清晰的譜線對于單分子實驗非常重要。然后將FYLA SCT光纖激光器直接輸入到自制的共聚焦熒光顯微鏡的激發臂中。光子納米系統圖像組的設置。光纖耦合的FYLA將SCT白色激光引導到自制光學共聚 ...

疇觀測方法。電子顯微鏡法電子顯微鏡法主要是通過分析電子束在磁性材料表面反射或透過磁性材料時受磁性材料中磁疇產生的局部散磁場的影響而產生的反射或散射電子束的圖像來探測磁性材料的磁疇結構。電子顯微境法根據具體的工作原理的不同還分為多種，目前常用于磁疇觀測的主要有電子鏡式顯微鏡、洛侖茲顯微鏡和掃描式電子顯微鏡等。電子顯微鏡法具有很高的分辨率因此可對疇壁等磁疇的精細結構進行研巧，可探測得到較多的磁疇信息，但它對強磁場下的磁疇動態變化的分辨率較低，且設備的成本較高操作千分復雜，因此不能被廣泛運用到磁疇結構的研巧中。磁力顯微鏡法磁力顯微鏡觀測磁疇主要通過磁性探針與磁疇產生的局部散磁場之間相互作用產生的磁力 ...

槽邊緣的掃描電子顯微鏡（SEM）截面圖（圖2(c)）。由于PL顯微照片的高分辨率，我們可以輕松測量PL-P1邊緣效應的范圍，我們觀察到全寬半高（FWHM）約為4.6μm。從SEM截面圖可以很容易地識別出，P1邊緣PL效應的范圍遠遠超過了由于底層鉬層導致的CIGS吸收材料的階梯。考慮到鉬側壁的載流子提取面積（厚度約400nm）的增加，很難解釋在約4.6μm范圍內30%的光致發光猝滅。圖1. 標準P1激光劃線中異常光致發光觀察。(a) P1和P2（底部）燒蝕線（頂部）的光學顯微照片以及從同一位置捕獲的高光譜顯微照片中提取的PL強度圖（底部）；(b) P1和P2劃線（頂部）的單色（980 nm處的P ...

探測bcp化學結構的方法概述zui近基于能量濾波傳輸EM的EM光譜技術的進展可以通過原子Z對比推斷來提供有限的bcp識別信息。對于典型的EM研究，選擇性染色，蝕刻，或滲透的另一種化合物在一個聚合物成分被用來進一步增強成像對比度。然而，這種浸潤、染色技術或部分蝕刻可能會改變或扭曲疇形狀和/或邊界輪廓。即使在具有足夠成像對比度的系統中，成像過程中造成的電子束損傷也可能對樣品的表征產生不利影響。光譜學提供了有前途的非侵入性方法來探測bcp的化學結構。特別是，傅里葉變換紅外(FTIR)光譜為有機材料(如bcp)提供了非侵入性的化學特異性光譜。傳統FTIR技術的空間分辨率受衍射的限制，無法分辨精細的BC ...

激光脊的掃描電子顯微鏡（SEM）圖像。圖3(b)顯示了橫截面切除后的光柵的放大視圖，說明了由于Ga +離子沉積和蒸發材料再沉積，特別是在高寬高比特征中，占空比隨光柵深度的變化。拼接誤差和設備的有限分辨率也導致了反射率阻帶中心波長的模擬值與實測值存在差異。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-106.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學 ...