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全自動單色儀
荷蘭Admesy公司Hyperion 高速、高準度在線測試色度計(顯示器、光源測量)
DMc150、DTMc300、DTMS300 全自動級聯單色儀
超低噪聲光譜色型度計(可用于各種色度計校準)
PR788寬動態范圍光譜輻射亮度計
荷蘭Admesy公司MSE在線色度檢測色度計(顯示器、光源測量)
M522 自動單色儀
Atlas成像亮度色度計(顯示器測量)
Hyperion 高速、高準度四角度色度計(顯示器、光源測量)
Admesy色度計
超緊湊寬波段光纖光譜儀(200~1700nm)
雙通道超緊湊UV/VIS光纖光譜儀
SHR-IR近紅外激光波長計/光譜儀(600-1800nm,線寬測量)
PR-1050 光譜式亮度計
CS2000分光輻射亮度計
PR-670光譜輻射亮度計
在顯示行業,目前最火的當屬OLED與LCD的霸主之爭,由于OLED在光學上的諸多優勢,其被認為是顯示屏的次世代技術,后續會逐漸取代LCD稱為顯示屏的主流,OLED在光學上的優勢表現為:色域更高,顏色更鮮艷;視角更好,大視角無明顯色偏;響應時間更快,觀看動態畫面無拖尾現象;自發光,暗態更暗,無漏光,理論上可以做到0,對比度會更高等。以上光學參數研發部門需要使用光學儀器進行測量以及調節,模組廠出貨前也會進行抽檢,以便進行品質監控,同樣客戶也會抽查確保產品光學達標,光學測量檢測是顯示行業產業鏈的重要組成部分。對于單個點的光學測量檢測基本上會使用兩類光學儀器,即色度計與光譜儀(光譜輻照度計),本文重點 ...
mura本來是一個日本字, 隨著日本的液晶顯示器在世界各地的發展, 這個字在顯示器界就變成一個全世界都可以通的文字。mura?是什么?簡單來說mura是指顯示器亮度不均勻, 造成各種痕跡的現象。為什么會有Mura產生?其實,Mura產生的主要原因就是視覺上對于感受到的光源有不同的頻率響應而感覺到顏色的差異。一、CF制程膜厚因為膜厚的Coating不均,會導致產生色不均之現象。Coating在涂布時如果噴嘴有阻塞的情況,即會造成Vertical Mura。二、TFT制程Over LapTFT的主要構成為層與層之間的相互交疊,若某一層在制作過程中發生偏移就會產生異常,可能影響TFT的特性而造成Mu ...
一、3+2多基色色度處理方法:近年來,在平板顯示領域熱衷于討論3+3多基色顯示(紅、綠、藍加黃、青、紫),以擴大色域,再現更為豐富的自然界色彩。那么,LED顯示屏可否實現3+3多基色顯示?我們知道在可見光范圍內,黃、青為單色光,我們已擁有高飽和度的黃色、青色LED。而紫色為復色光,單芯片紫色LED則是不存在的。雖然我們無法實現紅、綠、藍加黃、青、紫3+3多基色LED顯示屏。但是,研究紅、綠、藍加黃、青3+2多基色LED顯示屏卻是可行的。由于自然界存在大量高飽和度的黃色和青色;因此,該項研究是有一定價值的。在現行的各種電視標準中,視頻源只有紅綠藍三基色,而沒有黃、青二色。那么,顯示終端黃、青二基 ...
li的光譜和光度的絕對校準,IRDEP可以獲取器件的光電特性,例如EQE,Voc等。上海昊量光電設備有限公司作為Photon 公司在國內的獨家代理,該產品主要特點如下:1)激發光源均勻分布整視野,作用于樣品表面激光功率密度較低,同時避免了由于局部照明造成的載流子復合即使在較低功率下可獲得高信噪比圖像。2)整視野面成像,采用光譜掃描,成像速度快,150x150μm 2成像范圍僅需8分鐘3)可做絕對校準,獲得光譜絕對強度,獲取器件光電特性如EQE,Voc等4)可選擇不同波長的激光作為激發光源5)集熒光成像、電致發光、光致發光、透射率、反射率成像等諸多功能于一體。參考文獻:[1] Scheer R. ...
具有較高的吸光度和直接帶隙。目前一些科研小組已經將典型多晶CIGS設備量子效率超過20%,并且有較好的重復性。但是這種效率依舊低于Shockley-Queisser的理論計算值。這在一定程度上歸因于由于多晶性質引起的太陽能電池的不均一性,這也使材料性能和整體性能的關系模糊。為了量化形態對太陽能電池量子效率的影響,研究不同性質在空間上的變化將變的至關重要。 考慮到這一點,IRDEP(法國光伏能源研究院)的研究人員對CIGS微型太陽能電池(直徑為35μm)進行了光致發光PL和電致發光EL光譜成像進行了探究[1]。實驗采用了高光譜成像設備(IMATM),該設備擁有2nm的光譜分辨率和亞微米的空間分 ...
作方式的分光光度計往往將光源集成在設備內,通過分光器件和單色器,將光源發出的光分成一路或兩路單色光(兩路光路居多),將經過樣品透射或反射后的光譜,與空樣品池或標準白板做對比,獲得樣品的透射(或反射)光譜曲線。直接獲得的是樣品的光譜信息,需再經數據處理,才能獲得樣品的三刺激值。因為采用參比法測量物體透射(反射)光譜,消除了光源不穩定、光學器件效率等一些干擾因素。且往往這類設備體積較大,測試環境穩定,光學器件精密,故這種方法獲得的樣品光譜信息zui為準確,但速度較慢,且常受限于測試場景和樣品尺寸,使用成本較高。(2)多通道平行測色光源發出的光照射在樣品上,經樣品透射(或反射)后,通過狹縫進入設備。 ...
方法是點分光光度計,在生產中,由于檢查時間有限,將檢查限制在顯示表面的幾個離散點上。目前成像光度計的挑戰是,它們是基于RGB三色相機。 它們的色域和測量精度有限,因為寬帶RGB濾波器響應與標準顏色坐標XYZ不匹配。 為了快速、準確地檢查整個表面需要一種先進的成像解決方案。SPECIM FX10是市場上第一臺能夠快速測量整個顯示器的光譜輻射圖像的相機,可用于生產線和裝配線的質量檢驗。 光譜數據為整個DUT表面提供了最精確的色度和亮度值,用于描述窄源和寬帶源的顯示色域、亮度水平和均勻性。檢查手機顯示亮度均勻性。 測量時間<5sSPECIM FX10可以同時在可見光和近紅外區域(400-100 ...
,盡管校正對光度變化是有效的,但它不能重建光譜特征在照明不 良的圖像區域與相關的低信號強度,信噪比和特征細節。因此,我們建議對照明極差或陰影很深的圖像 部分進行掩蔽或至少仔細的解釋。我們進一步建議評估地形校正對每個成像場景的有用性。從我們的一 般經驗和所示例子的具體表現來看,自然目標,如山坡或懸崖,往往具有更平滑的地形,因此比采石場 和露天礦等人造露頭更一致的照明。在自然目標中,隨著圖像部分之間的平滑過渡,分別具有最大和最 小的光照,地形校正通常表現良好。由于爆破和挖掘,人工目標通常具有梯田幾何和/或粗糙邊緣, 這產生了很大的照明差異。地形校正不一定能改善圖像,因為在照明良好的部分中應用的校正 ...
同,造成的屈光度不同,這其實就像是人眼產生的像散。而我們所說的像差主要是在于透鏡光學系統成像后,像面上光斑的分布情況。像散也正是鏡頭系統在上下方向與左右方向聚焦能力不同形成的。四、消除像散的方法1. 采用折射率較高,色散率較低的光學玻璃制造透鏡,并配制各種曲率的表面相互抵消2. 縮小光圈使用光束分析儀可以在成像位置觀察到光斑的形狀,我們可以通過在成像面前后移動光束分析儀來觀察其是否有子午與弧矢方向的拉伸變化來判斷其是否存在較大的像散。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
結果。單個吸光度帶的測量或全光譜的校準提供了有關成分的信息,這些信息可以在圖像中繪制出來,以測量成分(如水分或脂肪)的分布。高光譜成像還可以為非成像技術難以進行的復雜、多組分產品分析提供解決方案。高光譜傳感器提供數百個波段的信息。這提供了不同化學鍵的多重重疊吸光度帶的數據,使校準能夠針對與食品生產相關的特定分析物。雖然與RGB成像相比,這是信息量上的一個主要優勢,但它也帶來了挑戰。用戶(或應用程序的創建者)必須知道哪些波段是目標波段,哪些可以被記錄下來進行分析,哪些可以被忽略。Specim作為高光譜成像領域的先驅,在過去的21年里一直在提供高光譜傳感器。在此期間,高光譜成像技術已經從主要應用于 ...
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