都是基于光柵單色儀實現的，其中根據使用光柵種類的不同又分為普通光柵單色儀也就是機械刻劃的光柵單色儀的超光譜成像系統和基于體布拉格光柵（VBG）的單色儀（LLTF）制成的超光譜成像系統這兩類的超光譜具有超高的光譜分辨率，所以通道數對于這兩類設備一般沒有太大的意義，大家比較常見的都是比較光譜分辨率和使用波段，這兩種之間又會有一些差異， 基于刻劃光柵的超光譜的光譜分辨率的極限會比基于體布拉格光柵的超光譜的光譜分辨率還要高，一般而言刻劃光柵的超光譜分辨率最好的情況下可以到0.02nm-0.05nm這個數量級的水平，體布拉格光柵的超光譜極限分辨率一般都在0.6-2nm這個水平，雖然在光譜分辨率極限上刻劃 ...

的反射式光柵單色儀的光利用效率都會比較低，一般來說都只有50%-60%左右的水平，隨著單色儀技術的發展，現在可以使用透射式光柵光譜儀（VHG），這樣可以使得光利用效率大幅提高，最高效率可達到90%以上的水平。拉曼信號是非常弱的信號，所以要求采集最終信號的CCD具有較高的靈敏度和量子效率，一般會選深度制冷型CCD來提高信噪比，由于只需要光譜和強度兩個信息，光譜信息由光譜儀決定，只需要不同波數上的強度信息，所以出于成本考慮都會使用線陣CCD。法國GreatEyes深度制冷寬譜CCD相機 ...

比一般的光柵單色儀具有更高的光通量所以在許多對光通量有要求的系統中有顯著優勢，并且可以對每個通道的光進行調制，不過聲光可調諧濾波器（AOTF）也有一定的劣勢，光譜分辨率不夠優異，對偏轉敏感等劣勢。所以具體特殊應用還是需要視具體情況而定，具體器件匹配具體應用。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

鏡、場透鏡、單色儀和光電倍增管檢測器。整個系統由一臺專用的臺式計算機控制。線性Stokes參數，Q和U，由2f調制頻率測量，而圓形Stokes參數V，由第一個PEM的1f調制頻率測量，使用鎖相放大器以獲得額外的精度。直流分量提供了總強度I。在我們能夠產生完全線性偏振光的情況下，圓偏振光完全偏振光的偏振度為零。偏振計可從400nm調到800nm，并由軟件自動控制，并可以在選定波長范圍內進行離散的掃描。單色譜的光譜分辨率為15nm(FWHM)，最常見的采樣頻率為5nm步長。實驗分別測量了樣品的透射和反射的圓偏振光譜。光路如圖1：在反射模式下，來自光纖耦合石英鎢鹵燈的光通過水平開口(B)進入直徑為2 ...

消色差透鏡和單色儀會聚至光纖，通過光纖的光經過準直透鏡變為一束平行光，該光束經過起偏器和旋轉補償器后入射樣品，樣品的反射光經過旋轉補償器、檢偏器和成像透鏡后進入CMOS相機。相機上各像素接收的光束對應的Stokes向量可以表示為式中：Mp、MA、、和MS分別為起偏器、檢偏器、旋轉補償器和樣品的Muller矩陣；和表示旋轉補償器1和2的相位延遲量；R(ε)為各光學元件的旋轉矩陣，其中ε可以表示入射面與雙旋轉補償器的快軸方向的夾角 C1、C2，也可以表示入射面和起偏器、檢偏器的透光軸方向的夾角P和A；Sin為入射光束的Stokes向量，為[1000]T。將上式展開，可得對應像素采集的光強信號表達式 ...

光源并配合以單色儀。光源配備的穩流電源使輸出光強波動＜0.14％。光源出射光經準直鏡轉化為平行光。起偏器和檢偏器為兩個Glan棱鏡，能夠保證測試系統從可見光到近紅外都具有優xiu的消光比。兩個Glan棱鏡及置于其問的待測樣品分別安裝在可以360°自由旋轉的精密轉臺上，轉臺的精度優于1′，可由計算機控制轉動，并記錄轉動信息。選用zui大累計誤差為0.18％的高精度Babinet—Soleil補償器。補償器安裝于精密平移臺上，可以保證其移入、移出光路時位置不變。接收端選用的單色儀光譜精度為±0.2nm。NCL是與單色儀配套的數據采集系統，可準確讀取zui小電流信號為0.1nA。計算機可以通過NCL ...

若輔以精密的單色儀便可以方便快捷地獲得大量數據。但考慮到系統表面反射及吸收損失，不易準確測得，所以該方法只適于找到光強隨波長變化規律而不易準確測得延遲值。然而，對λ／2波片情況則較為特殊，這里做進一步分析，上式對的一階導數為：當φ=π時可見光譜掃描曲線中，λ／2波片在相應波長處光強值為zui大或zui小，所以僅從曲線極值所在位置便可精確確定波片在該波長處延遲為π。這為精確測量λ／2波片提供了有效的辦法。測量λ／2波片時將起偏器與檢偏器平行放置，待測元件光軸方位角為45。，即可獲得zui佳對比度。透過光強隨波長變化關系為：其中，μ為雙折射率，d為波片的厚度。若在一定波長帶寬范圍內，忽略μ隨波長的 ...

差主要來源于單色儀精度，誤差<0.032%。由于不需要測量絕對光強值，因而對光路有較大的寬容性，并可實現自動化測試。(2)Soleil補償器法測量延遲與光譜法相似，只要求找到透過光強zui小值位置，因而同樣具有較好的寬容性。其誤差主要由補償器自身的精度決定，本實驗的補償器誤差<0．18%。對λ／2波片測量結果顯示Soleil補償器法與光譜掃描法測試結果在其精度范圍內很好地相互印證。但由于補償法需要由等偏離法提高精度，因而不易實現計算機自動化測試。(3)各種光強法測量誤差與待測波片的延遲量有關，雖然易于實現自動化測試，但是由于需要讀取系統出射光的絕對光強值，因而對光路及光學元件等都有 ...

管和光柵的雙單色儀重復4H-SiC和6H-SiC上的拉曼光譜測量，得到的光譜如圖2所示。除了該系統提供的更高分辨率之外，使用349NX的實驗還具有其他優點。例如不需要對激光線進行過濾，因此整個激光功率可用于激發光譜，并且實驗設置比使用濾光單色儀更簡單、更靈活。圖2 使用雙單色儀獲得的4H-SiC和6H-SiC的拉曼光譜正如預期的那樣，在>155 cm-1區域的光譜沒有偽影。然而，在<155 cm-1的區域，可以看到一些微弱的譜線。這些譜線不是源自樣品，而是由激光引起的，用星號標記。這些譜線的強度隨著與特征距離偏移的距離縮短而增強。然而，在低于~150 cm-1的范圍內，這些偽影的強 ...

AD需要配合單色儀進行逐波段掃描探測，這就導致了測算結果的速度會非常慢，無法快速得到需要的數據針對這一不足，Pi Imaging與上海昊量光電設備新推出的SPAD Lambda線陣單光子探測器，不僅具有單點式SPAD擁有的所有優勢，更是完美的解決了它的不足SPAD Lambda具有320×1個SPAD硅基單光子探測器陣列，單次的積分時間無上xian，每個像素尺寸為29um，填充因子大于80%，且內置了320通道的10ps時間分辨率的TDC，自帶門編輯模式（時間選通功能），選通門上升沿所需時間小于120ps，min選通時間為2ns，激光器同步觸發信號與內部選通門的min偏移量為17ps max。 ...