.三維模型的紋理化。4.4.地形校正太陽入射角的計算高光譜圖像每個像素的太陽入射角對于其地形校正至關重要。與最低點數據相比，垂直露頭掃描可以有多個像素位于任何給定的緯度/經度坐標位置，這只能由它們的高程值在空間上區分。因此，數字高程模型(DEM)的斜率、側面和太陽入射角的常用計算工具不能應用于此。相反，我們計算了在截面中生成的點云的每個點的太陽入射角4.3作為點法線與太陽矢量之間的角度(圖4a)。點法線要么在點云構造過程中計算，要么可以使用相鄰點的三角剖分追溯計算。太陽矢量的特點是以SE為太陽仰角，在給定的采集日期、時間和位置AZ太陽方位角。計算出的太陽入射角作為附加點屬性存儲在點云文件中，并 ...

場景本身缺乏紋理，也很難進行特征提取和匹配。根據幾何原理：可以得出坐標信息。雖然由視差計算深度的公式很簡潔，但視差d本身的計算卻比較困難。我們需要確切地知道左眼圖像某個像素出現在右眼圖像的哪一個位置（即對應關系），這件事亦屬于“人類覺得容易而計算機覺得困難”的事務。當我們想計算每個像素的深度時，其計算量與精度都將成為問題，而且只有在圖像紋理變化豐富的地方才能計算視差。由于計算量的原因，雙目深度估計仍需要使用GPU或FPGA來計算。結構光利用相位信息進行三維重建，主要包括解相位和展開相位，利用展開的相位計算深度信息。解相位，也稱為相位提取，主要包括相移法，傅里葉變換解相，卷積法解相。這些方法所提 ...

件表面的反射紋理等等。美國Semiconsoft公司MProbe VisHC膜厚測量系統提供了堅固和易于使用的解決方案，允許直接測量產品上的涂層厚度。手動探頭MP-FLVis與一根柔性光纖電纜連接到系統上。符合樣品曲率的探頭可以很方便且很準確地進行測量。MProbe VisHC膜厚測量系統主要用于測量大于1英寸（25mm）的零件。較小的測量點（<200μm）降低了背面反射率的影響。MProbe VisHC系統軟件采用厚膜算法進行高曲率膜和抗霧涂層的曲線擬合算法。算法可以被很容易地調整/訓練，以度量非常具挑戰性的樣本。測量過程易供缺乏經驗的操作人員使用和理解。涂層實驗操作員可以在從鍍膜系統 ...

全息圖像缺乏紋理(見圖4(2))。這是因為紋理的渲染需要考慮到材料表面精細的細節，而計算機還無法達到這種層次的細節。機器學習、神經網絡和人工智能技術已經成功應用于全息圖的計算，但目前其大多數情況下只適用于二維圖像，預計很快會擴展到三維圖像。2）全息圖的傳輸為全息顯示采集的圖像可以滿足人眼的z低要求，并且不必像靜態全息圖那樣使用相干照明和解析納米級干涉條紋。為了適應人眼accommodation，要再現的三維信息可以僅具有幾厘米的深度分辨率，而不是全息所能達到的納米級分辨率。這樣的圖像甚至可以像現代視頻游戲那樣，壓縮成覆蓋有紋理圖案的三維網格模型。視頻游戲將這些信息與虛擬攝像機的位置一起處理以顯 ...

控制的彩色和紋理場景。然而，PBM為每個場景點獨立模擬菲涅耳衍射，因此不會對遮擋(occlusion)進行建模。這阻止了復雜3D場景的準確再現，其中前景將因未遮擋的背景而被振鈴偽影(2)嚴重污染。光場渲染可以部分解決這種沒有遮擋的問題。然而，這種方法會導致大量的渲染和數據存儲開銷，并且遮擋僅在整個全息圖的一小部分內是準確的。在菲涅耳衍射模擬期間添加每條射線可見性測試理想地解決了該問題，但遮擋測試的額外成本、對相鄰點的訪問和條件分支會減慢計算速度。這種質量與速度的權衡是所有現有基于物理的方法共有的特征，從根本上限制了動態全息顯示器的實際部署。技術要點：基于此，美國MIT的Liang Shi(一作 ...

間圖像上銳利紋理區域不同；3)將中間圖像輸入U-Net，網絡將這些圖像融合提煉，生成zui終的銳利解卷積圖像；4)可學習的Wiener解卷積濾波器用在視場中幾個位置采集到的PSF初始化，然后在訓練過程中學習到濾波器和噪聲正則化參數。圖1、MultiWienerNet架構。pipeline包含兩個部分：1）可學習的multi-Wiener解卷積層用系統已知的空間變化PSF初始化，然后輸出一組解卷積的中間圖像2）一個U-Net精煉步驟，將中間圖像組合并精煉成單個輸出圖像。在訓練過程中，使用仿真數據聯合優化這兩個部分。訓練完成后，將實驗數據送入優化好的MultiWienerNet，實現快速空間變化解 ...

，如物體表面紋理結構、粗糙程度、表面缺陷等等。偏振光分為完全偏振光和部分偏振光，其中完全偏振光又分為圓偏振光和線偏振光。圖1中給出了無偏振的自然光與線偏振光的區別：燈泡發出的光具有任意的振動方向，因此是無偏振的，當它穿透偏振濾光片時，只有沿著某一個特定振動方向傳播的光可以通過，其他振動方向的光要么被吸收，要么被反射，此時透射光成為了完全的線偏振光。當意識到偏振光的重要性，人們為了像復眼昆蟲一樣也能夠看到偏振光，便研發了專門用于偏振成像的設備，我們稱之為偏振相機。圖1.無偏振的自然光，經過偏振片以后變為線偏振光1852年，斯托克斯(Stokes)提出用四個參量來描述光波的強度和偏振態。它們分別是 ...

Specim高光譜成像儀/高光譜相機 400-12000nm寬譜波段可選高光譜成像技術是一種圖像及光譜融合的技術，可同時獲取研究對象的空間及光譜信息。圖像數據反映物體的外部特征、表面缺陷及污斑情況，光譜數據用于分析物體內部結構及成分。通過原理一般分為以下幾類高光譜成像儀：一光柵分光，通過光柵將光譜展開，然后線陣推掃成像，比如Specim高光譜相機，覆蓋各種波長和領域；二可調諧濾波器分光，此原理相機不需要外置推掃或移動裝置，面陣成像，光譜掃描，比如Hinalea凝視型高光譜相機；三芯片鍍膜型高光譜相機，采用高靈敏ccd芯片及cmos芯片研制了一種新的高光譜成像技術，在探測器的像元上分別鍍不同波段 ...

面特性，包括紋理結構、粗糙度和潤濕性等。目前，臨床常用的植入體材料主要有不銹鋼、Co-Cr合金、鈦及其合金。鈦合金具有強度高、彈性模量低、疲勞性能好、質量輕、密度zui接近人骨等優點，在牙科和骨移植領域應用廣泛。在種植體的選擇中，臨床醫學更傾向于選擇力學性能與人骨接近的材料和對人體無毒副作用的材料作為種植體。與傳統的醫用鈦植入體材料TC4相比，新型β合金就具有更低的彈性模量、無毒、無敏性等特點，因此被廣泛應用，且β鈦合金可有效減少“應力屏蔽”的發生。圖1.醫用鈦合金植入人體示意圖二、鈦合金表面處理植入體的生物相容性指在機體植入部位引起恰當的生理反應（為生物組織提供生長的附著點，材料保持浸潤，不 ...

析可減少由于紋理造成的測量偽影的影響，并允許提取厚度數據。為什么要使用MProbeMSP系統？由于聚酯涂層的不均勻/紋理，需要使用小點（~40至20μm）來定位測量。如果是高散射涂層–需要使用NIR波長范圍MPROBEVIS-MSP：鋼板上透明聚酯涂層的厚度測量涂層的典型厚度約為5-10μm，與MProbeVis或MProbeNIRMSP系統厚度范圍完美匹配。測量部位的圖像和標線指示測量的確切位置，可以輕松導航到所需位置。結果可以直接顯示在圖像上。MPROBENIR-MSP：鋼板上白色聚酯涂層的厚度測量基本規格：波長范圍：可見光（400-1000nm）、近紅外（900-1700nm）波長分辨率 ...