激發(fā)光偏振對磁光克爾顯微系統(tǒng)測試的影響在磁光克爾顯微鏡中,激發(fā)光通常需要經過偏振器件,以使得只有特定方向的偏振光可以進入樣品。光偏振在MOKE顯微鏡中的一個主要影響是樣品與光之間的相互作用。當偏振光照射到樣品上時,光與樣品中的電子和磁矩發(fā)生相互作用,從而導致光的偏振方向發(fā)生改變。這種改變可以通過MOKE顯微鏡中的光學元件和探測器進行精確測量,以獲得有關樣品磁性的信息。因此正確選擇和控制光的偏振狀態(tài)對于獲得準確的測量結果至關重要。光偏振還可以影響MOKE顯微鏡的靈敏度和分辨率。不同的偏振方向的光與不同的樣品的相互作用方式會有所不同,因此在對不同樣品的測量中,在MOKE顯微鏡中選擇合適的光偏振狀態(tài) ...
明了綠色激光激發(fā)的倒置顯微鏡和用于對植入金剛石的NV中心二維陣列的熒光成像的超晶狀體顯微鏡照相機。右邊的爆炸組件顯示了安裝在裝有微波(MW)諧振器的玻璃蓋上的金剛石成像芯片。磁性樣品面朝下放置在鉆石上。(b)為NV陣列的原始熒光圖像。感興趣的磁性樣品不需要特殊處理,只需將其與2x2mm2金剛石成像芯片接觸即可。通過氮離子注入和隨后的退火,在金剛石中構建了二維近表面NV中心陣列。注入能量為20kev,平均NV深度約為30nm。NV陣列由532nm的綠色激光照射,產生的紅色熒光(650-750 nm)在sCMOS相機上成像,見圖1b。采用尼康×40, 1.2NA油物鏡,獲得100× 100μm2的 ...
磁結構的重復激發(fā)緩慢地相位改變光學或電子采樣的瞬間來實現(xiàn)。例如,將磁性裝置放置在循環(huán)磁場中,激光脈沖和隨后的數(shù)據(jù)捕獲被定時-或磁場周期中的特定點。另一種模式將使用氬離子激光來模擬MO磁盤上的比特寫入過程。然后,在寫入過程中的特定時間,使用CCD相機和反射光(來自脈沖激光束)同時實時成像到光電探測器上。進一步的工作將使用掃描近場模塊對磁性結構隨時間的變化進行成像,其空間分辨率將大大提高,即低于衍射極限。靜態(tài)磁圖像是由三種克爾磁光效應中的任何一種產生的。偏振入射光由快速脈沖(2-3納秒)氮化染料激光器產生,照亮整個觀察場,或者由氬離子激光器產生,在衍射限制的掃描點共聚焦模式下工作。兩種激光器都是波 ...
子光譜和熒光激發(fā)的吸收/透射測量。如果您對400-2300nm皮秒超連續(xù)譜激光器感興趣,請訪問上海昊量光電官方網站:http://www.champaign.com.cn/details-1816.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關于昊量光電:上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業(yè)代理商,產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等,涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設備安裝,培訓,硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等服務。您可以通過我們昊量光電的官方網站www.auniontech.c ...
前的測量中,激發(fā)不是固定在點的中心,而是在成像過程中與探針光束一起移位。圖a、b和c的序列表明,可以監(jiān)測磁點磁化的空間動態(tài)。了解更多詳情,請訪問上海昊量光電的官方網頁:http://www.champaign.com.cn/three-level-150.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關于昊量光電:上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業(yè)代理商,產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等,涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設備安裝,培訓,硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等服務。您可以 ...
似的曲線,但激發(fā)密度為8 mJ cm?2。初始退磁發(fā)生在泵浦脈沖期間,對應于自旋的激光加熱,發(fā)生在電子的熱化過程中由于探針脈沖持續(xù)時間為180秒,這里的熱化過程沒有得到解決。注意,對于zui大激勵密度[圖2(b)],初始退磁完成。然后再磁化發(fā)生在兩個主要步驟。第1個對應于自旋和晶格之間的平衡。兩種強度對應的時間常數(shù)分別為2.5和5.2 ps。這種重要的變化可以用電子Ce和自旋Cm比熱的溫度依賴性來解釋。隨后發(fā)生的再磁化過程對應于晶格的冷卻和與基底能量交換相關的自旋。它隨激發(fā)密度變化不大[圖2(a)和圖2(b)分別為630和530 ps]。了解更多詳情,請訪問上海昊量光電的官方網頁:https: ...
標熒光團常規(guī)激發(fā)所需波長的兩倍。在且僅在束腰處,聚焦的峰值光強超過雙光子激發(fā)的閾值。這提供了固有的3D分辨率,并消除了對有損耗的共聚焦孔的需要。然而,這兩種技術都受到實際成像中的需要取舍的負面影響,例如以捕獲代謝過程所需的幀率在組織內部進行更深層次成像的能力。此外,由于顯微鏡光學器件的像差,或者更隱蔽地,由樣品組織本身的光學性質,分辨率可能會受到負面影響。Sandstr?m解釋說,將聲光偏轉器(AOD)運用在共聚焦顯微鏡中,代替?zhèn)鹘y(tǒng)的振鏡掃描激光來解決這些限制。在聲光結構中,聲波被應用于某些類型的光學透明材料,如晶體,引起材料折射率的變化。這種折射率的變化使穿過材料的光發(fā)生偏轉。通過應用時變聲 ...
向,也有可能激發(fā)線性極化的本征模(如Voigt效應),這些本征模與圓形模混合,使得對所產生的現(xiàn)象學的直觀理解變得復雜。平面偏振光的法拉第旋轉確實進一步發(fā)生在各向同性介質中,如在存在磁場的玻璃中,由下式給出:旋轉的量與傳播方向上的磁感應分量Bz成正比,與穿過介質的長度l成正比,與材料參數(shù)V成正比,稱為Verdet常數(shù)。在磁光顯微鏡和磁強計中,場致法拉第效應起寄生作用:顯微鏡中的光學元件,如物鏡,可以在磁場存在的情況下引起法拉第旋轉,這種旋轉會疊加在由樣品磁性引起的任何光旋轉上。如果您對磁學測量有興趣,請訪問上海昊量光電的官方網頁:http://www.champaign.com.cn/three- ...
rr顯微鏡在激發(fā)頻率為幾到幾赫茲的情況下,低頻動態(tài)可以通過常規(guī)克爾顯微鏡設置實時可視化,因為使用曝光時間為10毫秒的相機系統(tǒng)是標準的。另一方面,使用脈沖LED照明光源,可以實現(xiàn)類似的時間分辨率。后者避免了相機系統(tǒng)中卷簾門的問題。實時成像的限制因素是相機的幀速率,而不是曝光時間。在提供足夠光強的情況下,標準成像系統(tǒng)可以實現(xiàn)低至10μs的單次成像(圖1a)。對于較低的光水平,頻閃成像可以很容易地實現(xiàn)依靠脈沖LED照明。使用具有高磁光對比度的高速攝像機,可以實現(xiàn)高達500 Hz的連續(xù)檢測成像。使用門控圖像增強器或脈沖LED照明的頻閃技術可以對千赫茲磁化動力學進行zui佳成像(圖1b)。兩者都提供可變 ...
或 投遞簡歷至: hr@auniontech.com