展示全部
料的折射率。光楔是一種特殊的棱鏡，折射角很小。可以近似的看成平行平板。當光線垂直或近似垂直射到光楔上時，產生的偏向角只與折射角和折射率有關。光楔在角度和位移測量中有十分重要的應用。更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等服務。您可以通過我們昊量光電的官方網站www.champaign.com.cn了解更多的產品信息， ...
oleil的光楔位置讀數為t；然后將待測元件移出光路，對Soleil進行自定標，即將分別調整到0和2π，將對應光楔位置讀數分別記作及，則待測波片的延遲值為：Soleil補償器法僅需測量相對的光強，對光路及探測儀器有一定的寬容性。在尋找消光位置時采用“等偏離法”以進～步提高測量精度。2.誤差分析Soleil補償器法的誤差分析的推導較為復雜，故這里僅給出結論，見下表1。其中表示Soleil補償器光軸與起偏器透光軸的夾角。消光比帶寬θΩ*Soleil**忽略忽略忽略忽略0.017°0.18% 表1 Soleil補償器法的各項誤差*表示此項誤差與待測元件延遲有 ...
垂直，并采用光楔或減反射膜系來抑制它的背面反射。參考和測量面間的干涉條紋經電視攝像機來探測。分束器或λ/4波片以及偏振分束器用來引導光束入射于電視攝像機上。這種斐索干涉儀，需要采用長焦距的準直透鏡來獲得高的精度。干涉條紋函數I(x,y)：式中，I。為背景光強度；y(x,y)為條紋調制函數；φ(x,y)為被測條紋的位相分布函數；φ。為參考面與測量面間光程差引起的初位相.為了從干涉條紋函數中獲得位相分布函數φ(x,y),采用了相移法。相移時，條紋位相隨著光程或波長變化而發生移動。當給定附加相移φi，干涉條紋函數I(x,y)為:理論上，為了計算位相分布函數φ(x,y),要求i>3。對于標準的相 ...
或 投遞簡歷至: hr@auniontech.com
