高端薄膜陷波濾波器的光譜輪廓?？梢娛褂肰BG濾波器技術可以實現帶寬的顯著降低，這使得單級光譜儀進行超低頻率拉曼測量成為可能。圖2不同BNFs的透射光譜如圖3所示。OD>3在488 nm處的濾光片，其特征損耗約為15-20%，532 nm濾光片損耗為15-20%，633 nm濾光片損耗為10-15%，而785 nm濾光片損耗小于10%。BNF光學損耗主要是由光在玻璃體中的散射引起的。光散射與波長的四次方成正比增大。這導致濾光片在較短波長的透射率下降。值得注意的是，圖3中的測量是用涂有抗反射(AR)薄膜的濾光片進行的。AR涂層的透射變化決定了濾光片透射曲線的形狀。在標記的諧振波長處，BNFs ...

假設下用維納濾波以封閉形式解決問題(7)，維納濾波操作為：(5) 端到端優化。優化求解loss函數為：參考文獻：Vincent Sitzmann, Steven Diamond, Yifan Peng, Xiong Dun, Stephen Boyd, Wolfgang Heidrich, Felix Heide, and Gordon Wetzstein. 2018. End-to-end optimization of optics and image processing for achromatic extended depth of field and super-resolutio ...

ut（右）的濾波器矩陣。每條梳狀線對應輸入向量的一個元素(entry)，并根據輸入矩陣的像素值進行調制。（2）輸入矢量使用具有不同振幅強度的不同波長編碼后，送入不同的矩陣輸入口。（PCM處于晶體態時，吸收絕大部分光，表示“0”；處于無定形態時，大部分光被傳輸，表示“1”；中間的傳輸態通過可控切換 PCM 單元中無定形部分和結晶部分的比例，獲得正和負的矩陣元素。）多波長的應用允許同時執行多個計算。a, 基本 MVM：矢量在具有波長（X1到Xm）的氮化硅 (Si3N4) 光子集成孤子頻率梳（微梳）的單個梳齒的振幅中編碼，并發送到相應的矩陣輸入波導。矩陣元素由PCM的狀態決定，PCM貼在波導上。選擇 ...

解卷積、中值濾波。直方圖拉伸用于改善圖像的對比度。Richarson-Lucy解卷積算法是一種迭代方法，通過假設噪聲呈泊松分布，從具有已知PSF的成像系統的模糊圖像中恢復潛在高分辨率圖像。(3)合成超透鏡制造。首先通過等離子體增強化學氣相沉積(plasma-enhanced chemical vapor deposition, PECVD)將一層600nm厚的a-Si膜沉積到熔融石英襯底上。隨后，使用EBL將超表面圖案定義到聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA）光刻膠里。在接下來的步驟中，圖案首先通過剝離轉移到鉻(Cr)硬掩模，然后通過電感耦合等離子體反應離子蝕刻(ICP-RIE)進一步轉移到Si層。然 ...

組非常復雜的濾波器，在頻率基礎上具有將輸入信號進行放大和衰減的能力。對于一個特定的應用，如果僅僅觀察這些濾波器本身，我們能夠對這些濾波器做出是好還是壞的任何評價嗎？當然不能！我們所能說的就是這些濾波器具有某些特性，與中心頻率、滾降、和某些增益設置有關，如圖1所示。嗯 … 結構系統的動力學特性也十分類似。我們可以確定每一階模態（每一個濾波器），它具有一個固有頻率（中心頻率）、阻尼（滾降）、和留數/模態振型（增益）。我們需要非常清楚地認識到，模態振型僅僅是屬性，而且我們無法確定某一階模態是好還是壞，除非我們知道了激勵函數 — 也即方程的右側。另一個例子，比如說我們想要確定一個懸臂梁的剛度。嗯，我們 ...

非是一個帶通濾波器，作為一個頻域函數，對輸入強迫激勵進行放大和衰減。如果頻響函數的估計受到數字信號處理過程（如，數字化、量化、泄漏、加窗、頻響估計方法，等等）的損害或者扭曲，情況又會如何呢？？？嗯，當然，這會影響到計算得到的響應！模態試驗的目的是要提取準確的系統動力學特性。第二點，在頻帶范圍內的激勵頻譜的水平對系統的響應有直接的影響。圖3非常清楚地表明了在頻帶范圍內響應具有明顯的變化。因為ADC模數轉換器的zui大量程設置是由總體頻譜決定的，在測得的函數的準確度上將會有很大的差異。實際上，響應譜分量的量級越小，與模數轉換過程相關的量化誤差的影響就越大，當觀察1、3階模態的響應時，這個情況就特別 ...

個低通、模擬濾波器。這么做主要是為了濾除不感興趣的高頻，以防止混疊發生。這些模擬濾波器，常稱為抗混濾波器，可以去掉高頻成分，否則可能對所測頻率分量造成污染。接下來這個數據進入模數轉換器（ADC）進行采樣，轉換為數字的形式。這時有兩個注意事項。必須按照一定的頻率采樣來充分保留時域數據的特征以轉換到頻域。一般情況下，數據必須按照感興趣的zui高頻率的至少2倍以上進行采樣，以將其轉換到頻域表示。如果需要時域數據處理來評價結構的時域特征，那么應按照感興趣的zui高頻率的至少10～20倍進行采樣以充分描述系統特征。為了正確地描述信號的幅值特征，必須設定ADC至一個合適的電壓量程。如果設置不正確，測量信號 ...

到一個電路（濾波器）的輸出電壓，如圖1所示。（注意這些測量結果是一般意義的，不見得是模態測試經常要得到的典型的力和加速度。）所以我可以將輸入電壓接入FFT分析儀的1通道，將電路的輸出電壓接入FFT分析儀的2通道。或者我可以交換這兩個通道，因為這確實無關緊要。但是重要的是，想得到的頻響函數是電路的輸出電壓“相對于”施加的輸入電壓。所以就FFT分析儀而言，輸出電壓的頻譜是相對于一個“參考信號”，輸入電壓，測得的。圖1 – 典型的輸入/輸出測量布置對FFT分析儀，參考通道將取決于用哪個通道測量輸入參考電壓 – 無論它是1通道，2通道，或者是其他什么通道。所以測得的頻響可能看起來像如圖2所示的樣子，這 ...

外的線性偏振濾波器沒有被畫出來，因為它們與偏振分光器對齊。B）相機上的強度響應作為λ/2-板不同方向α的SLM的相位延遲的函數。C) 光學裝置的示意圖。一個帶有SLM的中繼系統被添加到顯微鏡的發射路徑中（紅色），一個單獨的SLM校準路徑（綠色）被納入發射中繼系統中。這允許在實驗之間進行SLM校準。BE：擴束器，DM：分色鏡，L：鏡頭，LPF：線性偏振濾鏡，M：鏡子。OL：物鏡，PBS：偏振分光鏡，TL：管鏡。光路如上圖2所示，包括一臺尼康Ti-E顯微鏡，帶有TIRF APO物鏡（NA = 1.49，M = 100），一個200毫米的管狀鏡頭，一個帶有SLM的中繼系統被建立在顯微鏡的一個出口端口 ...

問題被稱為“濾波器振鈴”。我們從一些簡單的測量結果開始，來說明這個常見的問題。只要通過測量幾個樣本結果，用一些簡單的例子和插圖，就可以觀察到并有望更好地理解這種效應。在很多FFT分析儀上都能看到這個問題。為了測量和討論起見，我將使用一個普通的BRAND XYZ FFT分析儀。用一把力錘和一個響應加速度計在一個典型結構上測得一個典型結果。但是在這里僅僅討論力輸入。有些力脈沖很規則，形狀就如同我們期望在教科書中見到的那樣。但其他測量結果的力脈沖在脈沖尾部有振蕩，好像是一個簡單的單自由度系統的響應。這個問題常被稱為“濾波器振鈴”。這是因為模數轉換器（ADC）前端的模擬抗混濾波器可能顯示出某種響應，響 ...