——消除共焦針孔——非線性信號由非成像探測器（例如光電倍增管）收集和量化。由于已知信號源自于焦點，因此所有收集的非線性光都可以歸因于樣本中的該點。為了形成一幅圖像，通過掃描聚焦于樣本中的焦點來量化每個體素的非線性信號強度。一個簡單并且直接的方法是，在激光焦點保持靜止的情況下掃描樣本來形成圖像。但是樣品保持靜止，掃描激光的方法通常更受歡迎，盡管它更難以實施，但是這種方案具有卓越的圖像采集速度和樣品穩定性。激光掃描的方式要求在保持以物鏡后背孔徑為中心的情況下，光束的入射角發生變化；這樣可以防止漸暈。因此，激光掃描過程不僅決定了FOV（field of view），而且對整個掃描區域的激發效率也有顯 ...

二極管和兩個針孔。對齊用二極管的工作波長在1030nm和1040nm都可以。在判定光線共軸時，最好是先對齊泵浦光束，在建立好的泵浦線上對齊腔內模式。在對齊泵浦光束的時候，有一個挑戰：泵浦源通常選用25-40W的商業高功率一站式泵浦光源，它有最小的穩定輸出電流，在此電流下相應的輸出功率是7-10W。當聚焦光斑只有200um的時候，產生的強度足以燒壞標準針孔和其它的對齊工具。要解決此挑戰可以通過購買高損傷閾值的針孔和對齊工具。本文通過將普通針孔離聚焦點等距來解決此問題（見圖10的小圖）。使用針孔離聚焦點等距的方式可以精密的對齊泵浦光束，使得束腰剛好在晶體里。DOI：https://doi.org/ ...

圖像平面中的針孔和單像素檢測器被替換為 23 像素的 SPAD 陣列，SPAD23單光子陣列探測器，增加了光線收集，提高了成像速度，減少了背景噪音，能夠在共聚焦顯微鏡中實現波動對比度的超分辨率。當掃描樣品臺時，每個光子的檢測時間記錄在相連的 FPGA 電路中，并以數字形式存儲。然后分析該數據，為陣列中的每個像素對產生第②個相關圖像，產生 232個分辨率增強為 2 的相關圖像。如下圖b所示分辨率的提高可歸因于兩個因素。首先，如在 ISM 中一樣，每個小探測器的點擴展函數(PSF)是激發和其探測 PSF 的乘積。此外，從兩個這樣的 ISM PSFs 相乘得到的相關對比度實現了進一步的變窄。在對圖像 ...

使用具有兩個針孔的掩模來實現的，這是傅里葉平面上條紋的平移，受每個針孔處的相位調制影響。此外，條紋圖案的對比度取決于兩個針孔之間的相似程度。當 SLM 在其相位電壓曲線中顯示出不均勻的空間響應時，為了校準目的，會應用相對復雜的干涉設置。這是 [13] 中所示的光學設置的情況，其中 Michelson 架構由兩個偏振器、一個壓電鏡、一個分束器和一個 CCD 相機等元素組成。透射式 SLM 的位置相關相位響應在 中使用 Mach-Zehnder 干涉儀進行測量和校正，包括偏振分束器或雙透鏡開普勒型成像光學元件等光學元件。中展示了一種基于剪切干涉儀的方法，該方法能夠以相對簡單的方式同時測量扭曲液晶顯 ...

，使光束通過針孔(一個空間濾波器，確保光束截面輪廓的圓度;圖1B，元素3)，我們利用同樣的望遠鏡，通過簡單地改變該望遠鏡的焦距和第②個透鏡的位置來預補償光束的大小(圖1A)。這確保了小波束稍微覆蓋了我們目標的后光圈。小束撞擊到檢鏡上并被反射的角度決定了小束在樣品上的空間擴散，這是我們實驗中的一個關鍵變量。這個角度由來自DOE的光束間角(由其相位掩模定義)和DOE與振鏡之間的望遠鏡功率控制。在所有的實驗中，我們都使用了DOEs，它在一條單線上創建了一系列均勻間隔的波束。這個DOE很容易繞著光路的軸線旋轉，從而沿著任意方向形成一條點線。在快速掃描中，這種旋轉可用于調節沿垂直維度的有效波束間角距離。 ...

消除了共聚焦針孔的需要。這對于厚組織樣本的成像尤其有用。表1.自發拉曼散射與相干拉曼散射的比較自發拉曼散射SRS單光子過程多光子過程極慢成像(>20分鐘/幀)快速成像，可達(30 fps)無固有z分辨率光學切片可見光/紫外光束激發增強散射激發與近紅外光束增強成像深度易受背景熒光影響對背景熒光免疫全光譜選定的光譜信息表2.CARS和SRS的比較CARSSRS參數化過程能量傳遞過程新光頻信號透射激勵光束的強度增益和損耗非特定的非共振背景無非共振背景扭曲的光譜與自發拉曼光譜相同相干圖像偽影信號是物體與點擴散函數的卷積非線性濃度依賴性線性濃度依賴性CARS的產生條件與SRS相同，但檢測方法不同。 ...

如由更常見的針孔提供的截面強度。對目標的點擴散函數沿狹縫方向逐像素反卷積，可以得到較強的分割效果。寬視場照明和成像檢測窄帶濾波器可用于拉曼成像。第①個成功的現代儀器采用了干涉濾波器，它可以傾斜以改變通帶。隨后，聲光可調諧濾波器(AOTF)和液晶可調諧濾波器(LCTF)被引入到拉曼成像中，并提供了電子可調諧性。可調濾波器方法已被證明是測量隔離波段較有用的方法。如果只需要幾個幀來定義波段，拉曼成像可以相當快。當有許多重疊波段或非線性背景時，許多圖像必須以不同的拉曼位移拍攝，時間優勢就消失了。需要注意的是，聲光濾波器的透射率僅為50%左右，而液晶濾波器的透射率約為20 - 40%。相比之下，電介質濾 ...

因，有必要對針孔后面的所有光學元件鍍一層增透膜，而針孔本身就是一個空間濾波器，應位于所有光學元件之前，并能濾除聚焦光學系統所有相干噪聲。3.2激光斐索干涉儀優點：：干涉儀中的所有光學系統會同時經過測試光和參考光，除非用單一表面作為分光鏡，這意味著光學系統的畸變對zui終觀察到的條紋形狀影響很小，但要求分光鏡的表面質量必須很高，否則會嚴重影響到條紋形狀。3.3非球面測量（2）泰曼格林干涉儀3.4泰曼格林干涉儀若采用普通光源(如汞燈)時該裝置的優點是可以調節并移動參考鏡面，保證測試光路和參考光路具有相同的光程長度。若用激光作為光源，相對于普通光源的斐索干涉儀而言，它不僅可以測量整個光學系統，而且可 ...

聚對二甲苯厚度測量我們將討論開發薄膜堆棧的步驟和測量結果:1. 使用厚膜算法快速估計厚度。由于我們不知道R.I散度，所以結果不準確。但是，一旦我們確定了R.I分散，我們就可以在生產中使用這種方法進行快速測量2. 測量零件的未涂覆表面，并建立薄膜堆以適應該數據3. 測量聚對二甲苯涂層厚度和R.I分散度聚對二甲苯薄膜通常很厚，假設折射率(材料的色散)已知，使用FFT厚膜算法很容易測量它們的厚度。這種方法不需要精確的校準或詳細的膜堆模型，在生產環境中使用方便。然而，如果不知道正確的折射率，厚度讀數也會不準確。樣品測量MProbe 20 Vis在400-1000nm波長范圍內測量包覆和未包覆的樣品。圖 ...

通過物鏡、針孔單元和D7干涉儀的精確線性運動來測試視場。3. 檢測精度如下表所示：3.畸變校正1. DifroMetric軟件導出/導入數據傳輸為標準光學設計軟件(ODS)。2. 物鏡的測量像差可用澤尼克條紋系數表示。3. 實測像差系數CFZM可與設計系數CFZD進行數據比較，DifroMetric和光學設計軟件之間可交互作用。4. 比較的結果有助于選擇參數包括-氣隙，或其他參數，這對于在裝配過程中對待測件位置的調整有重要作用。4.D7系統的優點1. 測試介觀物鏡不需要參考鏡。2. 測試介觀物鏡可在全光譜范圍VIS + NIR下進行。3. D7可以選擇不同的工作波長范圍。4. D7系統可以提 ...