解釋
中文：部分補(bǔ)償檢驗(yàn)；英文：partial-compensated testing的原理；中文：部分補(bǔ)償檢驗(yàn)；英文：partial-compensated testing的定義；中文：部分補(bǔ)償檢驗(yàn)；英文：partial-compensated testing是什么。
一種使用補(bǔ)償器件的特殊非零位檢驗(yàn)技術(shù)。特點(diǎn)是通過(guò)補(bǔ)償器件的補(bǔ)償作用減小測(cè)量波面與待測(cè)表面（波面）理論值的偏差，降低干涉條紋密度及后續(xù)處理的難度。
