掃描近場光學顯微鏡反射模式局部磁光克爾效應成像洛倫茲模式透射電子顯微鏡(TEM)和帶極化分析的掃描電子顯微鏡(SEMPA)可用于高分辨率探測磁疇和磁化。然而，這種方法需要昂貴的電子光學器件和真空條件，這限制了應用范圍。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應用于納米尺度研究的基礎上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而，MFM不能直接測量材料的磁化強度，只能檢測表面附近的磁雜散場。此外，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運動，幾乎沒有施加外磁場。在MFM技術中，外磁場下的測量應謹慎處理，以免磁化 ...

用于薄膜的遠場和近場磁光學顯微鏡的多功能特高壓系統基于電子顯微鏡的高分辨率成像技術，如帶偏振分析的二次電子顯微鏡(SEMPA)，或光子發射電子顯微鏡(PEEM)或使用磁探針的技術(磁力顯微鏡(MFM)或自旋極化掃描隧道顯微鏡(STM)，通常局限于小的外部磁場。磁光顯微鏡沒有這樣的限制。然而，由于傳統(遠場)光學顯微鏡的橫向分辨率受到衍射的限制，大約只能達到光波長的一半，因此納米結構只能通過x射線顯微鏡或掃描近場光學顯微鏡(SNOM)在可見光范圍內成像。用于磁光研究的相當緊湊和振動隔離的特高壓室連接到配備薄膜制備設施的特高壓系統，以及用于表征薄膜結構和形態的STM和低能電子衍射(LEED)。結合 ...

解決方案2.近場光束分析儀/聚焦光束分析儀響應波長范圍：400~1350nm + 1470~1605nm測量的最小光斑尺寸：1.1um實時測量光斑尺寸（焦點尺寸），焦點位置，橢圓度，光束位置等。 ...

成像測量法，近場掃描光學顯微鏡測量法和干涉測量法。圖1-1 用CCD探測到半導體激光器陣列的“smile”效應2，“smile”效應評價計算方法通過測試獲得列陣近場光斑分布之后，需要采用一定的算法確定列陣的“Smile”效應大小及走勢，即“Smile”效應評價計算方法。其中，通過光斑強度質心分布表示光斑位置對LDA的“Smile”效應進行描述是國內外通用一種的描述方法。而“Smile”效應值大小，作為現有評價標準中重要的因素，目前的研究結論中有以下兩種計算方法。第1種為標準差計算法，如德國核能開發技術中心介紹LDA“Smile”效應評價方法，其對“Smile”效應值S的定義（如式2-1所示）， ...

電子顯微鏡、近場光學顯微鏡的方法，這種遠場光學顯微技術能夠滿足生物活體樣品的觀測需要。同樣原理，高分辨率的液晶空間光調制器通過精細的相位調制可以產生多光阱，從而對微粒實時操控，由此發展了全息光鑷技術。美國Meadowlark Optics 公司專注于模擬尋址純相位空間光調制器的設 計、開發和制造，有40多年的歷史，該公司空間光調制器產品廣泛應用于自適應光學，散射或渾濁介質中的成像，雙光子/三光子顯微成像，光遺傳學，全息光鑷(HOT)，脈沖整形，光學加密，量子計算，光通信，湍流模擬等領域。其高分辨率、高刷新率、高填充因子的特點適用于生物成像及微操縱的工程中。圖1. Meadowlark 2022 ...

的衍射效應對近場束寬的影響；4.由于上述是對整個x,y平面積分，因此此積分是至少在捕獲光功率（能量）99%以上區域進行的，配合計算機的圖像處理系統可以快速的計算出光束束寬的大小。但此方法對高空間頻率的干擾非常敏感，因此在測量中會出現一定的基地噪聲，所以在測量的過程中要對噪聲做一定的處理。三、遠場發散角激光光束的傳播符合雙曲線定律，光束的遠場發散全角可表示為雙曲線兩條漸近線之間的夾角,光束遠場發散角θ定義為光束遠場發散全角的一半，通常表示為無窮遠處光束束寬和傳輸距離之比的J限。圖3 光束束腰和遠場發散角表示束腰直徑，表示束腰半徑，表示遠場發散全角，由激光光學可知，對基膜高斯光束有（表示為基膜高斯 ...

多個傳感器，近場需要耗時的掃描或干涉技術。然而常規全光成像導致分辨率損失，這通常是不可接受的。我們打破這種限制的策略包括將一個全新的和基礎性的采用上一代硬件和軟件解決方案。基本思想是通過使用新型傳感器來利用存儲在光的相關性中的信息實現一項非常雄心勃勃的任務的測量協議：高速（10–100 fps）量子全光成像（QPI）具有較低噪聲和較佳的性能分辨率和景深的組合。所開發的成像技術旨在：在成為第①個實際可用和適當的“量子”成像技術超出了經典成像模式的固有限制。除了基礎感興趣的是，該技術的量子特性允許在3D上提取信息來自J低光子通量下的光相關性的圖像，從而減少場景暴露于光照。對QPI的興趣是由潛在的相 ...

，測量遠場和近場的磁鐵是可能的，而且通常是必要的。在這篇文章中，我將介紹一種新的創新測量技術，通過雜散場測量和偶極子近似來表征遠場中的磁體。昊量光電全新推出的M-axis磁偏角磁矩測試儀就是這種測量技術的方法。對于所謂的遠場測量，源物體和測量位置之間存在很大的距離。從這個意義上講，大距離意味著與物體zui大尺寸的至少五倍的距離。在此距離內，永磁體的雜散磁場為偶極子。有了這個假設，就可以根據陣列磁阻傳感器元件的測量來表征永磁體。與亥姆霍茲線圈磁通計組合類似，該方法以非常簡單、快速和精確的方式提供磁化誤差（磁化角）和磁體的開路剩磁。與亥姆霍茲線圈相比，可以構建自動在線測量系統。通過如此快速的測量， ...

素，例如掃描近場磁光模塊。為了使掃描激光顯微鏡同時具有靜態和動態成像能力，光學系統采用高斯光束光學(靜態模式)和傍軸光學(動態模式)。光學系統示意圖如圖1所示。圖1為了在x-y平面上獲得較大的空間分辨率，激光束必須同時準直并填滿zui終物鏡的孔徑。輸出光束被擴展，空間濾波，然后聚焦到AO調制器(AOM)。AOM的上升時間與光斑大小成正比。然后光束通過一系列中繼透鏡(稍后描述)產生準直光束，該光束填充物鏡的孔徑，在樣品表面產生衍射限制斑。為了使掃描激光顯微鏡同時具有靜態和動態成像能力，光學系統采用高斯光束光學(靜態模式)和傍軸光學(動態模式)。光學系統示意圖如圖1所示。然后通過使用精密x-y級移 ...

微鏡，和掃描近場磁光克爾顯微鏡。因此理想情況下，可以結合時間和空間分辨率來研究單個納米結構的磁化動力學。圖1飛秒時間分辨光學克爾顯微鏡如圖1所示。泵浦和探針激光脈沖由鈦藍寶石再生放大器獲得，以5 KHz的重復率工作，以避免累積熱效應。持續時間為150fs(泵)和180fs(探頭)。泵浦光束中心波長為790nm，探測光束中心波長為395 nm，在1.5 mm厚的硼酸鋇晶體中通過二次諧波產生。兩個獨立的望遠鏡允許一個人調整每個光束的模式，以獲得對樣品的zui佳聚焦。通過光延遲線后，泵浦光束與線偏振的探測光束共線。聚焦是使用一個標準的顯微鏡物鏡與一個數值孔徑0.65的40倍物鏡。嘗試使用反射物鏡來z ...