是儀器組件互相干擾產(chǎn)生的現(xiàn)象。使用DMD的線掃描時間聚焦雙光子激發(fā)顯微鏡相較于傳統(tǒng)的的寬場時間聚焦雙光子顯微鏡,在軸向分辨率方面有明顯提高。同時由于DMD的高速空間調(diào)制性能,可以完成并行線掃描(縮短成像時間),并自如根據(jù)實(shí)際實(shí)驗(yàn)要求平衡視場寬度與軸向分辨率(改變DMD圖樣)。您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
響。3.光學(xué)相干檢測技術(shù)由于激光的相干技術(shù)測量的尺度通常與激光波長相當(dāng),當(dāng)前被廣泛運(yùn)用于精密測量技術(shù),其中自混合干涉技術(shù)(SMI)技術(shù)正在被廣泛運(yùn)用于傳感器領(lǐng)域。激光自混合干涉效應(yīng)指的是在激光測量中,激光器發(fā)出的光被外部物體反射或散射,部分光反饋會與激光器腔內(nèi)光相混合,引起激光器的輸出功率、頻率發(fā)生變化,引起輸出的功率信號與傳統(tǒng)的雙光束干涉信號類似,所以被稱為SMI。由于反射物的不同位置和相對移動速度會引起不同的SMI干涉頻率,利用這種物理現(xiàn)象,如果事先做好標(biāo)定和校準(zhǔn)就可以實(shí)現(xiàn)對微小振動和位移的精確測量。您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
射還有獨(dú)特的相干特性。超連續(xù)譜是在光纖的引導(dǎo)模式下產(chǎn)生的(通常是單模),因此超連續(xù)譜發(fā)生器保持了種子泵激光器的高空間相干性,從而產(chǎn)生了高亮度和類激光聚焦特性。然而,由于光譜的ji端展寬,時間相干性正在與空間相干性解耦,并在生成過程中發(fā)生變化:超連續(xù)光譜光表現(xiàn)出典型的低時間相干性(接近熱光源的極短相干長度)。圖2旨在說明這些點(diǎn),展示了商用系統(tǒng)(基于Leukos InF3光纖的源)的典型發(fā)射光譜和相應(yīng)的FTIR干涉圖(即場自相關(guān))。圖2(b)采用希爾伯特變換法確定相干長度。用得到的信封提取全寬度的一半zui大值;由于超連續(xù)介質(zhì)源的結(jié)構(gòu)略不對稱,因此還對干涉圖包絡(luò)進(jìn)行了高斯擬合。測量使用商用FTIR ...
傅里葉光場顯微成像技術(shù)—2D顯微鏡實(shí)現(xiàn)3D成像摘要:近年來,光場顯微技術(shù)的應(yīng)用越來越廣泛,針對光場顯微鏡的改進(jìn)和優(yōu)化也不斷出現(xiàn)。目前市場各大品牌的2D顯微鏡比比皆是,如何在其基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)三維成像一直是成像領(lǐng)域的熱門話題,本次主要討論3D成像數(shù)字成像相機(jī)的研究,即3D光場顯微鏡成像技術(shù),隨著國內(nèi)外學(xué)者通過研究提出了各種光場顯微鏡的改進(jìn)模型,將分辨率、放大倍數(shù)等重要參量進(jìn)行了顯著優(yōu)化,大大擴(kuò)展了光場顯微技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域。同時,由于近年來微型化集成技術(shù)的發(fā)展,微型化光場顯微技術(shù)也逐漸成為國內(nèi)外學(xué)者研究的熱點(diǎn)。1.傅里葉光場顯微成像技術(shù)在國內(nèi)外的發(fā)展2014年,Rober等人在核熒光顯微鏡的像平面上放置了 ...
,由于激光的相干長度超過了100米,這臺激光器也在其他應(yīng)用領(lǐng)域表現(xiàn)出色。該團(tuán)隊(duì)還強(qiáng)調(diào)了349NX與傳統(tǒng)氣體激光器相比的幾個優(yōu)勢。首先,349NX激光器的發(fā)射在光譜上非常純凈,僅在激光線附近可能存在微弱的擾動。相比之下,氣體激光器的發(fā)射包含多個等離子體線,這些線可能會淹沒被測光譜,從而影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。其次,該激光器的工作效率遠(yuǎn)高于氣體激光器,將激光輸出的光功率與輸入的電功率相除,349NX的表現(xiàn)更為出色。這也使得實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)更加緊湊,冷卻要求更為寬松,提高了設(shè)備的便攜性。zui后,Ivanov教授指出,激光器的穩(wěn)定性和均方根參數(shù)與氣體激光器相當(dāng),但激光器的使用壽命更長,維護(hù)成本更低。對比而言,氣體激 ...
光子源之間的相干屬性。時間函數(shù)的二階相關(guān)性研究被廣泛用于量子光學(xué),其中以 Hanbury-Brown-Twiss(HBT)實(shí)驗(yàn)zui為zhu名,是實(shí)時直方圖生成的理想應(yīng)用案例。在 HBT 實(shí)驗(yàn)中,科學(xué)家在不同位置放置兩個探測器來觀察一對來自遙遠(yuǎn)光源的兩束光子光束。一束光相對于另一束光經(jīng)歷了不同的路徑長度,導(dǎo)致光子到達(dá)兩個探測器的時間偏移。該實(shí)驗(yàn)以時間函數(shù)來測量達(dá)到每一個探測器的光強(qiáng)。然后分析被這兩個探測器探測到的光強(qiáng)之間的相關(guān)性。從本質(zhì)上講,直方圖反映了光子事件之間時間間隔的概率分布。上圖表現(xiàn)出反聚束效應(yīng)的連續(xù)光子對之間的時間延遲直方圖。通過直方圖觀察光子的到達(dá)時間,研究人員能夠確定不同探測器 ...
為掃描源光學(xué)相干斷層掃描(SS-OCT)提供了數(shù)據(jù)采集解決方案。這套數(shù)據(jù)解決方案的采樣速度高可達(dá)4GS/s,A-scan速度更可達(dá)2MHz,為SS-OCT技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展和應(yīng)用提供了有力保障。上海昊量光電作為專業(yè)的光電代理商以及Acqiris的合作伙伴,可為您提供專業(yè)的選型以及技術(shù)服務(wù)。正文掃描源光學(xué)相干斷層掃描(SS-OCT)是一種高分辨率、非侵入性的成像技術(shù),廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域。SS-OCT通過掃描光源的光譜來獲取圖像,與傳統(tǒng)的時間域光學(xué)相干斷層掃描(TD-OCT)相比,其優(yōu)勢在于更快的成像速度和更深的成像深度。通過使用光源的整個頻譜,SS-OCT可以獲得更高的信號強(qiáng)度和更 ...
在光譜域光學(xué)相干層析成像的ji端噪聲敏感技術(shù)中,通過使用高重復(fù)率的積分來降低噪聲的示例可以在中找到。此外,我們想指出的是,光譜亮度的增強(qiáng)能夠顯著延長光-物質(zhì)相互作用的路徑長度,并探測更多的分子(即增強(qiáng)相對于噪聲的吸收信號)。因此,相對較高的光譜不穩(wěn)定性(在標(biāo)準(zhǔn)測量時間尺度)的超連續(xù)介質(zhì)源相比標(biāo)準(zhǔn)熱發(fā)射器在實(shí)踐中變得微不足道。如果您對中紅外超連續(xù)光源有興趣,請?jiān)L問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁:http://www.champaign.com.cn/three-level-104.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電:上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激 ...
噪聲定義為不相干的獨(dú)立噪聲分布總和,即。在這種情況下,穩(wěn)定性隨著平均時間的推移而提高(因?yàn)榘自肼暤挠绊憸p少),直到粉紅/閃爍噪聲成為主導(dǎo)。 在較長的時間尺度上,穩(wěn)定性受到數(shù)據(jù)線性漂移的限制(參見圖5,上軸)。 當(dāng)平均時間約為5000秒時,測量結(jié)果很穩(wěn)定。如何在Moku配置Allan方差測量下方視頻演示如何在Moku配置Allan方差測量。視頻鏈接如下:(文章中有視頻)https://mp.weixin.qq.com/s/8mFEHjThxa84DQOkdpvWnA功率譜密度vs Allan方差就像我們前面提到的,有許多的工具可用于描述系統(tǒng)穩(wěn)定性。雖然Allan方差是穩(wěn)定性在時域上的計(jì)量,那功率 ...
OCT?光學(xué)相干斷層掃描(OCT)是一種三維成像技術(shù),可以在散射介質(zhì)中進(jìn)行高分辨率成像,無需接觸樣品或使用任何耦合介質(zhì)。OCT的橫向成像分辨率可達(dá)到幾微米,成像深度可達(dá)幾毫米。OCT能夠提供樣品表面輪廓和次表面結(jié)構(gòu)(即表面以下的結(jié)構(gòu))及樣品均勻性的信息,從而實(shí)時提供準(zhǔn)確的信息用于診斷、監(jiān)測和現(xiàn)場過程反饋。因此,OCT已經(jīng)在眼科、皮膚科、血管造影等生物成像領(lǐng)域得到了應(yīng)用,并且在材料檢測和無損檢測中作為超聲波的強(qiáng)大替代技術(shù)。二、OCT的工作原理OCT依賴于樣品不同區(qū)域的背向散射光來生成3D圖像。它使用不同的定位技術(shù)來獲取軸向(沿光束方向或進(jìn)入樣品的z軸)和橫向(垂直于光束的平面或樣品的x-y軸)信 ...
或 投遞簡歷至: hr@auniontech.com