板)，它將橢圓偏振光轉換為平面偏振光，以實現zui佳對比度調整。它們在垂直入射處是zui強的，在垂直入射處，面內域的克爾對比是不可能的。如果將具有相似疇相的透明材料在透射中成像，將觀察到相同的對比度特征，但現在在法拉第，透射Voigt和透射梯度效應中。在圖1中，選擇垂直入射的垂直磁化石榴石膜來表示法拉第效應，因為這種極性幾何結構在法拉第顯微鏡中zui常用。圖1圖1綜述了可用于磁疇成像的四種傳統磁光效應。從左到右依次為:效應名稱及其發現年份、光學描述、對磁化矢量M的靈敏度、作者和首次應用于成像的年份，以及光學偏光顯微鏡的典型對比外觀。疇圖像取自具有垂直各向異性的單晶石榴石薄膜(上排)和厚度為0. ...

該模型基于左圓偏振光和右圓偏振光與固體中的經典電子振子的耦合方式不同的觀點。德魯德(1900a, 1900b)進一步擴展了理論。對MO效應的基本認識隨著量子力學的發展而增長。Hulme(1932)和Halpern(1932)首先提出法拉第效應是由自旋-軌道(SO)耦合下的自旋極化電子運動引起的。休姆在他的考慮中使用了克拉默斯-海森堡色散方程，該方程根據電偶極子算子的能量特征值和矩陣元素給出了折射率(克拉默斯和海森堡1925)。他通過考慮SO誘導的能量特征值分裂來解釋左圓偏振光和右圓偏振光折射率的差異，但忽略了SO耦合對波函數的影響。Kittel(1951)認為，SO耦合對波函數的影響可以產生同 ...

求和規則將左圓偏振光和右圓偏振光的x射線吸收光譜與材料中特定元素的自旋和軌道矩聯系起來。因此，可以獲得元素的特定信息，這是超出價帶MO光譜的巨大優勢。盡管在推導求和規則時涉及了大量的近似，但它們在實踐中是令人信服的。獲得自旋或軌道矩的精度約為10%至20%，但有時只有50%。Altarelli(1997)討論了各種x射線MO效應。在標準MO克爾實驗中檢測到的反射光的頻率與入射光的頻率相同。然而，可能存在一小部分以雙倍頻率反射的光。這被稱為二次諧波產生，或者，更一般地，作為非線性光學。對于中心對稱介質，當反演對稱性被破壞時，會產生二次諧波。Pan等人(1989)預測，在磁性表面層的情況下，二次諧 ...

現的，平面內圓偏振光源具有接近帶隙能量分離的光子能量。這將在半導體中產生凈非平衡自旋取向具有適當的自旋偏振光學躍遷的系統。當系統松弛時，會有一個優先的自旋方向，這將表現為PL中兩個圓螺旋度(I+(?))之間的強度差。通過計算圓極化度，可以直接讀出自旋極化，P = (I+?I?)/(I+ + I?)。描述半導體P的穩態速率方程為：式中P0為激發時圓偏振度。τr和τs分別為復合壽命和自旋壽命。這種極化可以在磁場中進一步研究。事實上，對于相對于樣品施加的面外場，塞曼效應將分裂自旋水平。這導致讀出偏振不平衡，即使是線偏振光，這一結果可用于研究磁場與材料中載流子自旋的耦合程度。注意，復合壽命與自旋壽命的 ...

在的情況下，圓偏振光入射產生凈自旋不平衡，并且在初始快速弛豫后可以觀察到圓發射之間的強度差異，則自旋優先定向到一個自旋狀態。在第三種情況下，圓偏振光將是觀察到的自旋不平衡的唯yi原因。因此，它將提供系統中存在OISO的明確證據。圖1.a)在低溫無磁場條件下，4L硅片線性泵(左)和圓形泵(右)極化PL的測量強度。尖峰是1.67 eV泵浦激光濾波后的殘余物。b)說明了描述穩態極化PL測量中潛在測量結果的三種機制。在圖1a中，實驗驗證了偏振相關的光學選擇規則，InSe中的主帶隙顯示為4L。在沒有磁場和線極化泵的情況下，發射強度沒有差異(無Polz)。然而，當入射光為圓偏振光(σ+)時，兩種發射的螺旋 ...