的峰值發射，中心波長為424nm，圖1c-d顯示了534nm和720nm處的部分位錯。圖2中標有“1”和“2”的兩個區域的光譜響應確認，PDs由于RISFs在424nm處有類似的尖銳發射，而在530-540nm處為較寬發射。通過結合光譜和空間信息，可以將后者的發射歸因于可移動的硼雜質。圖1、（a）SiC的PIN二極管的實色EL（b-d）退火后從高光譜數據中提取的單色EL圖像圖2、區域1和2的EL光譜Photon etc.的IMA高光譜成像儀在區分不同故障類型的發光特征方面扮演了至關重要的角色，為我們深入研究SiC材料中缺陷的形成和傳播機制提供了強有力的支持，從而進一步拓展了我們對這個領域的理解 ...

點：1.鎖定中心波長，穩定波長輸出；2.高功率輸出；3.窄線寬輸出；4.物理性能穩定，不易潮解；5.無偏振相關性；6.參數可定制；VBG主要參數：波長范圍：400-3000nm；（常用波長：1908nm，2090nm，2109nm等）衍射效率：10%-99%；半高全款（FWHM）：0.1nm -2nm;尺寸大小：8mm x 6mm,可定制；高損傷閾值鍍膜（可選）上海昊量光電作為OptiGrate在中國的授權代理商，負責OptiGrate公司產品在中國市場的銷售、技術服務、市場推廣服務。對于體布拉格光柵（VBG）有興趣或者任何問題，都歡迎通過電話、電子郵件或者微信與我們聯系。如果您對體布拉格光柵 ...

SHG。利用中心波長為1.49 eV (830 nm)的脈沖激光產生SHG信號。插圖顯示了不同厚度的拉曼(3L到Bulk)圖2顯示了不同InSe厚度的SHG和拉曼(插入)測量結果。由于SHG是一個非線性過程，它發生在非中心對稱系統中。觀察這個效應奇偶厚度證明，由于晶體對稱性，任何層數都會發生自旋分裂。通過將SHG和拉曼與文獻進行比較，可以確定測量的樣品為?-InSe。如果您對磁學測量有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-150.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司 ...

，4 μ m中心波長)內M2光束質量因子的表征;背景中顯示了完整記錄的三維光束演化(偽顏色)，以供參考(徑向不對稱是由于用于避免過飽和的球面鏡造成的);對子午面進行分析(輸入光束輪廓為高斯分布)。在大多數應用情況下，能夠很好地表征和量化激光束質量的一個實用參數是M2因子。它本質上表明了實際光束與理論衍射限制光束(衍射限制高斯光束的M2因子為1)的差異有多大。光束質量因子具有明確的實際意義，例如，任何采用映射方法的高光譜無像差顯微鏡的分辨率都可以通過將理論衍射限制分辨率與所利用光源的M2因子相乘來估計。確定M2因子的程序由ISO標準11146定義。它涉及到光束焦散的測量(在一個瑞利距離內至少五個 ...

YAG晶體，中心波長1030 nm的飛秒激光器，脈寬約為400 fs，重復頻率為300 kHz。利用顯微物鏡將激光束聚焦于樣品表面，光斑大小3.5 um。樣品的移動通過高精度三維電控位移臺實現。對YAG晶體樣品表面的不同位置進行輻照，所有實驗均在常溫、常壓的空氣中進行。單脈沖作用后的燒蝕形貌如圖所示，在單脈沖燒蝕下，損傷坑的直徑隨著脈沖能量的增加而增加而增加。在飛秒激光作用后，在燒蝕坑內和周圍形成了一定數量的納米顆粒。圖1.單脈沖燒蝕形貌記錄多脈沖作用下，孵化效應在燒蝕過程中扮演重要角色。在介電材料和半導體材料中，由外部激光作用引起的晶格缺陷，可以在帶隙中產生額外的能級。新的激發路徑的存在有利 ...

L發射光譜的中心波長（PL峰值位置），因為該中心波長對應于半導體材料光學帶隙的獨特能量，并且大部分光子通過這種躍遷從材料發射。因此，QFLS被分配給這個中心波長。為了檢測劃線或線邊緣區域的中心波長偏移，確定了在每種情況下出現 PL 發射zui大值的局部中心波長，該波長來自對 PL 光譜的逐像素分析。中心波長的測定結果如圖1（上行）所示，顯示了兩張以（A）ns和（B）ps脈沖為模式的劃線圖像，具有zui佳通量和先前確定的相應zui佳通量。在這兩種情況下，劃線線旁邊和內部的中心PL波長都在758nm ±3 nm的窄范圍內，對應于約1.64 eV的光帶隙能量。激光劃線溝槽內的低強度信號來自少量殘留的 ...

會選擇更長的中心波長,1300 nm就是這個穿透深度的OCT的首xuan波長。美國Wasatch公司的Cobra 1300光譜儀系列提供1.4-11.5毫米的成像深度（在空氣中），具體取決于帶寬。然而，隨著帶寬的增加，成像深度減小。因此，當需要更深的成像時，使用帶寬較窄的系統。盡管1300 nm OCT為許多結構的大深度成像提供了足夠的深度，但使用這種波長需要用到InGaAs相機，InGaAs相機相對于于800 nm SD-OCT的CCD或CMOS相機要昂貴得多。通過使用較短的中心波長（CWL），光譜儀成本可以降低約40%，但必須也要減少帶寬（BW）以保持相同的空間分辨率。但要想使用800 n ...