光束質量分析儀測量原理（一）光束質量分析儀（光束輪廓分析儀）是一種用于激光束測量的重要工具，它不僅可以測量激光束的整個光強分布，也可以測量激光束的具體形狀及大小。在一些激光應用（例如激光切割、激光打孔）方面上，激光束的檢測是非常重要的，它影響著切割的精度以及鉆孔的質量。目前市面上使用較多光束測量方法有狹縫掃描法、刀口掃描法、面陣相機法。狹縫法和刀口法掃描時間較長、且為人工控制、測量精度難以把控。該測量方法操作復雜，容易出錯，多為經驗豐富的技術人員操作,但優勢在于可以測量大功率激光。面陣相機操作簡單、掃面速度快、測量精度高、光譜響應范圍寬等諸多優點,成為現在主流的光束測量方法。此外，相機前面加上 ...

高光束質量光纖合束器技術研究（二）首先，建立基本的仿真模型。在光纖功率合束器輸入光纖束拉錐過程中光纖會發生延展和塌縮。延展指的是光纖長度伸長而橫截面積縮小的過程；塌縮指的是光纖熔融粘連的過程。在仿真過程中為了簡化模型，我們假定光纖先延展后塌縮。在塌縮過程中，輸入光纖束的橫截面會變成排布緊密的花瓣形，使得光纖芯徑縮小。如下圖1所示。圖中淺灰色部分是拉錐輸入光纖束外層低折射率玻璃套管，深灰色部分是輸入光纖之間的空氣間隙，白色部分則是輸入光纖圖1 輸入光纖束橫截面示意圖 （a）塌縮前 （b）塌縮后在仿真過程中我們設置輸入光纖芯徑和包層直徑分別為30μm和250μm，輸出光纖芯徑為50um，包層無限大 ...

---借助光束分析儀（低至2萬人民幣）本文主要介紹現通信準直器市場上比較流行的光束分析儀在線調焦方法、如何借助于德國CINOGY公司專用于通信的光束分析儀---CinAlign提高生產效率（最高每人每天可達600支）。由于CinAlign光束分析儀的操作簡單、調試速率快，且成本低（低至2萬人民幣），已被廣泛用于單纖和雙纖準直器的生產產線中（包過全自動化/半自動化在線調試設備）。一、方法介紹目前，在光通信市場中，準直器的在線“調焦”方法主要有兩種：1. 傳統的反射鏡調試方法（借助功率計，反射鏡等）2. 基于光束分析儀的調試方法（主要有狹縫式和相機式兩種光束分析儀），以及基于相機式光束分析儀的自動 ...

-----定量測量焦點位置光斑尺寸、能量分布等摘要：在激光加工領域，如果可以直接知道焦點位置的激光光束的光斑尺寸、能量分布等參數，對我們提高加工設備的生產以及材料加工的效率具有直接性的質的提升。以激光切割為例，眾所周知，影響切割質量主要來自九個因素：切割表面粗糙度、切割邊緣垂直度、切割寬度、紋路、毛刺、材料沉積、凹陷和腐蝕、熱影響區域以及變形。而這些因素直接是由切割位置（焦點位置）的光斑尺寸和光束的能量分布決定的，如果不能直接定量性的知道焦點位置的光斑尺寸和能量分布，往往很難準確的找到真正的問題原因，對設備的生產效率以及售后安裝和技術支持帶來非常大的阻礙。一、主流方法概述目前，在激光加工領域， ...

證單模傳輸和光束質量的情況下，不僅大大提高其能夠承受的平均功率，而且大大減小了因非線性效應對飛秒激光峰值功率的限制。此即高功率非低線性的應用。正因為如此，用大模場光子晶體光纖研制的飛秒激光振蕩級可輸出高達10W的平均功率而沒有脈沖分裂，放大器輸出功率高達數百瓦而能保持高質量的單模輸出。結語：目前，大模場光子晶體光纖的纖芯直徑已經接近100um，平均功率數百瓦的單模高光束質量的飛秒激光放大系統已經實現；也可將纖芯面積做得很小，從而可以較大地提高泵浦效率。昊量光電公司推出低損耗（<4 dB/Km@1060/1550 nm）、全波段（350-1750 nm）單模、純硅纖芯光子晶體光纖（寬帶單模 ...

瑞利長度以及光束質量等數據。該產品達到設備的實時顯示性能允許在激光器啟動期間測量動態焦距偏移在激光啟動過程中的動態焦點移動。增材制造已經重構了原型、開發和gao級設計機械部件的制造方式。直接激光熔化、選擇性激光燒結或三維金屬打印正迅速成為傳統金屬去除技術無法制造的設計的標準。CinSpot FBP-1KF/2KF系列焦點光斑分析儀CinSpot FBP-1KF/2KF系列是Cinogy公司和德國SLM sloution公司深度合作，專為SLM solution公司的3D打印設備而研發設計的高功率高精度高集成的的激光焦點光束質量分析儀器。聚焦的激光光束被直接引導到傳感器，無需成像光學器件。不再需 ...

器具有優良的光束質量，M2<1.3，光束發散度低于0.8mrad(全角度)，低強度噪聲低于0.5%rms (100kHz-10MHz)和良好的功率穩定性(在8小時內<1%)。在半導體晶片檢測,紫外光譜,紫外全息檢測,光纖光柵刻寫,半導體檢驗,拉曼光譜,光纖布拉格光柵等領域應用廣泛。266nm激光器產品特點：低噪聲TEM00單縱模窄線寬：<300kHz高功率：可達2W,可調可選長相干長度：1000米高光束質量：M2<1.3產品參數：功率 線寬 功率穩定性10mw<300KHz<2%25mw50mw1%100mw200mw300mw0.5%500mw ...

瓦到瓦)，高光束質量(通常M2≤1.1)和脈沖性質也被保持。從中紅外光譜儀器和應用的角度來看，中紅外超連續光譜源提供的峰值功率(典型的脈沖持續時間在ps和次ns范圍內)可以顯著增強脈沖測量模式下的檢測，保持低平均功率，從而降低熱負荷。應用快速檢測系統和合適的脈沖積分器，如鎖相放大器或車廂門控平均器，可以利用峰值增益(峰值與平均功率的比值，但受探測器響應時間的限制)。這里可以注意到，近紅外純連續波(CW)超連續譜的實現已被報道，但由于生成效率低(非線性過程的效率受到微薄的CW功率的抑制)、擴寬不良、對極高平均功率泵浦的要求以及km長的光纖導致后續挑戰，因此尚未得到證實和商業化。除了激光特性外，超 ...

，如光功率、光束質量等。這對于確保芯片在封裝后的可靠性和性能非常重要。同時波前傳感器可以通過高速測量和數據處理，實現快速檢測，提高生產效率。隨著人工智能和自動化技術的發展，波前分析儀可能會與這些技術相結合，實現自動化檢測和分析。這將有助于減少人為誤差，提高檢測效率和準確性。3）封裝檢測：可以檢測封裝后的芯片的焊點質量、封裝材料的折射率分布等參數。利用波前分析儀可以檢測封裝過程中產生的各種缺陷，如焊點空洞、引線偏移、芯片傾斜等。通過分析波前的相位和振幅變化，可以定位缺陷的位置和大小。波前分析儀可以評估封裝后的芯片質量，如焊點的可靠性、引線的連接強度等。通過測量波前的散射和反射情況，可以判斷封裝質 ...

強度分布、激光束質量參數（M2、發散角、束腰等）。Phasics 的波前分析儀可以定位在光學裝置的任何點，無論光束是準直的還是發散的。Phasics SID4波前傳感器適用于從紫外（190nm）到遠紅外(14um)的任何連續或脈沖激光。2.2 自適應光學Phasics波前分析儀可與任何可變形光學器件兼容：如壓電可變形鏡、機械可變形鏡、電磁可變形鏡和MEMS可變形鏡以及空間光調制器和自適應透鏡。為了校正超快和超強激光，Phasics自適應光學環路通過波前像差補償實現精細的校正。OASys 自適應光學環路結合了 Phasics 獨特的高分辨率 SID4 波前傳感器和適合項目要求的可變形反射鏡設備， ...