數值孔徑 NA（下）光纖或波導的數值孔徑盡管光纖或其他類型的波導可以被視為一種特殊的光學系統，但在這種情況下，數值孔徑有一些特殊的方面。在階躍折射率光纖中，可以根據輸入光線定義數值孔徑，其中在纖芯-包層界面處可能發生全內反射的最大角度：入射光線首先被折射，然后在纖芯-包層界面發生全內反射。 然而，這只有在入射角不太大的情況下才有效。光纖的數值孔徑 (NA) 是允許的入射光線相對于光纖軸的最大角度的正弦值。它可以通過纖芯和包層之間的折射率差來計算，更準確地說，具有以下關系：請注意，NA 與光纖周圍介質的折射率無關。例如，對于折射率較高的輸入介質，最大輸入角度會更小，但數值孔徑保持不變。上面給出的 ...

性能小型化高數值孔徑的內窺顯微物鏡，在雙波段進行校正(因為相干拉曼成像使用兩個光譜不一樣的激光束)。文章創新點：基于此，GRINTECH GambH的Ekaterina Pshenay-Severin(第一作者)和萊布尼茨光子技術研究所的Juergen Popp(通訊作者)等人提出了一種結合緊湊型的四波混頻光纖激光器的超緊湊光纖掃描內窺鏡平臺用于多模(CARS/SHG/TPEF)非線性內窺顯微鏡成像，并證明了在非線性成像應用(如圖像引導手術和在體診斷)中的潛力。研發的核心部件有:(1) 便攜式光纖激光；(2) 一種新型固體光纖，在兩個分離的纖芯中引導激發激光，并在外部包層中收集信號；(3) 共 ...

通光口徑和大數值孔徑的物鏡。上圖中起偏器和半波片置于反射鏡之后，因此到達樣品表面的激發光偏振態會很純正。圖3第三種利用低通濾光片替代了上述兩種方案中二向色鏡和反射鏡的功能。傾斜濾光片式測量光路的光路原理圖如圖3所示。激發光由反射鏡斜入射到以較小角度（0°-2°）傾斜放置的低通濾光片上，長波段的激發光被反射到顯微系統物鏡中聚焦到待測樣品表面，短波段二次諧波依然通過該物鏡收集并同軸透過低通濾波片入射到光譜儀中。由于系統空間的原因，其起偏器和半波片放置在反射鏡前，檢偏器仍放置在光譜儀前。與利用二向色鏡不同，二向色鏡90°改變光路，其表面鍍的介質膜會影響激發光的偏振狀態，所以旋轉半波片時得到的線偏振狀 ...

應。物鏡的高數值孔徑也會導致小的退極化效應。雖然這些影響通常很小，可以忽略不計，但如果需要以更高的精度分析偏振依賴性，則需要基于Stokes-Mueller方法的更仔細的校準程序。激光束通過顯微鏡物鏡聚焦到樣品上，它也收集和準直散射光。用于二維材料的典型激光功率約為100μW，光束尺寸為1μm，以避免局部加熱而損壞樣品。激發能(波長)應慎重選擇。由于共振效應，許多二維材料的拉曼光譜隨激發能發生顯著變化。在石墨烯的例子中，二維帶來自于雙(或三重)共振拉曼過程，峰值位置和形狀強烈依賴于激發能量，因為二維帶中的聲子與通常的單聲子拉曼過程不同，具有有限的動量。由于散射過程不僅敏感地依賴于所涉及的聲子模 ...

極限(使用高數值孔徑物鏡的激發波長的大約一半)決定的。因此，在現代微拉曼裝置中，當使用可見范圍內的較短激發波長時，可以實現的較小探測尺寸約為200 nm。然而一些因素，如非理想光學通常導致SR接近半微米或更高。一般來說，有幾種方法可以用來增強拉曼信號。直接的方法是將激發波長調諧為被探測材料的一個光學躍遷能(主要是光學帶隙)，也被稱為共振拉曼散射(RRS)。在那里，由于強光學吸收，拉曼散射信號可以增強幾個(通常是兩個)數量級。此外，由于振動和電子運動的相互作用改變了拉曼選擇規則，可能會出現新的聲子模式，而這些模式在非共振拉曼光譜中是不存在的。有趣的是，由于強烈的激子效應，RRS在二維半導體中起著 ...

400μm、數值孔徑為0.22的光纖耦合，通過調節LD的溫度獲得LD的中心輸出波長。來自LD的泵浦激光通過準直和聚焦透鏡重新聚焦在激光晶體的兩個端面上，準直和聚焦透鏡的焦距分別為35 mm（準直透鏡）和75 mm（聚焦透鏡）。泵浦點（直徑 857.1 μm）放置在 Tm,Ho:YAP 晶體的輸入表面。在1.9–2.2 μm 處涂有30%（5%、7%、10%、20%、25%、30% 和 35%）透射率的平面鏡是激光器的輸出耦合器 (OC)。曲率半徑為 300 mm 的平凹鏡 (M2) 在 790-798 nm 處鍍有高透射率 (T > 98.0%) 鍍膜，兩面鍍膜為 1.9-2.2 μm凹 ...

IRF物鏡的數值孔徑都比較大，會有比較好的光子收集效率。（7）EMCCD或sCMOS相機。相機要在可見光范圍內有較高的量子效率、較高的幀速、較低的噪聲。圖2.PALM成像效果蛋白的激活和漂白通常需要多種窄線寬激光器。法國Oxxius激光器生產廠商則提供了這樣的合束激光器解決方案，專門為生物視覺領域設計。更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓， ...

的光學參數是數值孔徑和倍率，它影響系統的分辨率、像面照度和成像質量。數值孔徑定義為顯微物鏡物方介質的折射率 n 和物方孔徑角正弦之乘積，用符號 NA來表示，即(1) 顯微物鏡的分辨率δ顯微物鏡的分辨率是以它能夠分辨開兩點的較小距離δ來表示的，計算公式為：當被觀察體本身不發光，需要其他照明光源時，隨照明條件的不同，計算公式將有所變化。根據阿貝的研究，對物體進行斜人射照明時，較小分辨率為：由以上公式可見，對于一定波長的單色光，在像差校正良好的情況下，顯微鏡的分辨率完全曲物鏡的數值孔徑決定。數值孔徑越大，分辨率越高。當物方介質為空氣時，物鏡較大的數值孔徑為 1，一般只有 0.9 左右。而在物體和物鏡 ...

率和0.55數值孔徑(NA)的保偏尼康LU-Plan EL WD物鏡聚焦。這允許一個≈10毫米的高工作距離，這是必要的，由于空間限制，第二個相等的物鏡使光再次平行。在法拉第幾何中，第二個物鏡被放置在樣品的后面。反射光的偏振變化通常低于0.1?，因此需要高靈敏度的檢測機制。這是通過平衡光橋檢測，其中包括一個沃拉斯頓棱鏡和兩個光電二極管。這兩個信號進一步數字化，并與鎖相放大器相減。在極面和法拉第幾何中，磁場是由一個圍繞物鏡的線圈提供的。每個極面鞋上都有一個小孔，可以透射聚焦的光。它們對樣品上激光光斑周圍200 μm范圍內的面外場強的影響約為1%，因此對于我們的目的可以忽略不計。由于在目標位置的磁場 ...

小點厚度測量高數值孔徑目標問題嚴重的問題是用于確定薄膜厚度的干涉信號的對比度降低。在高數值孔徑物鏡中，光線在膠片中以不同角度折射（見圖1），因此光線在膠片材料中的路徑長度不同。這意味著它們具有不同的相位差。一旦不同的光線組合在一起并且相位疊加在探測器上，相長干涉峰/谷和相消干涉峰/谷之間的對比度就會減弱。這種影響的嚴重程度取決于具體的膠片疊層和數值孔徑。但是，一般來說，效果隨著厚度的增加而增加。圖 1 大數值孔徑(NA) 的小光斑測量NA 如何影響厚度測量在硅氧化物測量示例中很容易看出效果。 200nm氧化物的UVVis反射光譜（200-1000nm）的模擬如圖2 所示。它顯示光譜隨著NA 的 ...