應用范圍。在原子力顯微鏡(atomic force microscopy, AFM)廣泛應用于納米尺度研究的基礎上，磁力顯微鏡(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而，MFM不能直接測量材料的磁化強度，只能檢測表面附近的磁雜散場。此外，為了避免影響TEM和SEMPA中的電子運動，幾乎沒有施加外磁場。在MFM技術中，外磁場下的測量應謹慎處理，以免磁化懸臂梁受到損傷。此外，當樣品為軟磁材料時，磁尖會對所研究的磁性結構產生影響。基于克爾或法拉第效應的經典磁光學顯微鏡是研究當前外加磁場下磁疇的一種合適方法。然而，經典光學顯微鏡的分辨率受限于衍射極限，即約為照射 ...

探測bcp化學結構的方法概述zui近基于能量濾波傳輸EM的EM光譜技術的進展可以通過原子Z對比推斷來提供有限的bcp識別信息。對于典型的EM研究，選擇性染色，蝕刻，或滲透的另一種化合物在一個聚合物成分被用來進一步增強成像對比度。然而，這種浸潤、染色技術或部分蝕刻可能會改變或扭曲疇形狀和/或邊界輪廓。即使在具有足夠成像對比度的系統中，成像過程中造成的電子束損傷也可能對樣品的表征產生不利影響。光譜學提供了有前途的非侵入性方法來探測bcp的化學結構。特別是，傅里葉變換紅外(FTIR)光譜為有機材料(如bcp)提供了非侵入性的化學特異性光譜。傳統FTIR技術的空間分辨率受衍射的限制，無法分辨精細的BC ...

（EDX）、原子力顯微鏡（AFM）和導電原子力顯微鏡（c-AFM），他們發現這種成分變化源于導電率的局部顯著增加。CIGS的熱分解是文獻中廣泛研究的主題，通常歸因于元素成分的部分減少，這些成分需要較少的能量進行蒸發、熔化或擴散。僅考慮蒸發焓，銅（Cu）在CIGS材料中傾向于保留更長時間。SR熱效應內的Cu豐富的CIGS會解釋圖1(e)和(f)中顯示的差異。同樣，P1激光燒蝕線附近的Cu豐富的CIGS相會成為P1誘導功率損失的重要來源。總之，在激光燒蝕過程中確實存在平行的SR熱效應。這種短程效應是首次在高分辨率下觀察和記錄到的。正如上文所述，這種效應與是否使用光學孔徑無關。zui后的觀察尤其重要 ...

、納米工業和原子力顯微鏡。其產品已被國內外一流大學和研究所從事前沿研究的知名科學家使用，在工業和科研領域受到廣泛好評。多年來，納米定位傳感器領域電容式傳感器一直占據市場主導地位。但這項技術存在明顯的局限性。PIEZOCONCEPT經過多年研究，開發出硅基高靈敏度位置傳感器（Silicon HR）技術，Si-HR傳感器可以實現更高的穩定性和線性度，以滿足現代顯微鏡技術的更高分辨率要求。法國PIEZOCONCEPT的目標是為客戶提供一個物美價廉的納米或亞納米定位解決方案，讓客戶享受到市面上最高的定位準確性和穩定性的產品使用體驗。我們開發了一系列超穩定的納米定位器件，包含單軸、兩軸、三軸、物鏡掃描臺 ...