測量波片相位延遲量實驗1消光式橢偏儀使用上海昊量光電設備有限公司的智能消光式橢偏儀,該橢偏儀主要由光源、光機系統、旋轉樣品臺、電路控制系統及數據采集與處理軟件組成。光源則采用的波長為632.8nm的氦氖激光器,適用于反射及透射樣品測量。使用儀器測量(,Δ)時精度分別是0.O1°和0.02°。2實驗過程調節橢偏儀處于直通測量狀態,使標準1/4波片的快軸位于+45°,起偏器P位于+45°,檢偏器A位于135°,這時系統達到了消光的狀態。把待測波片安裝在有刻度盤的旋轉支架上,然后置于樣品臺,調節波片使其表面與入射光線垂直,轉動待測波片,使得系統重新達到消光狀態,這時待測波片的快慢軸應位于±45°。接 ...
調制器的相位延遲量與所加電壓通常不是線性的關系,因此需要一個查找表(look-up table)糾正他們的線性關系。這里采用在液晶空間光調制器上加載棋盤格的方式來制作LUT文件。棋盤格如下,白色代表2pi的相位,灰度從0-100%之間變化,表示從0-2pi之間改變。30%灰度的棋盤格首先加載一個linear.lut文件,linear.lut文件分為兩列,左邊一列代表圖片灰度值,右邊一列代表電壓值。若空間光調制器都是16bit的深度,那么左右兩列都是從0-65535之間變化這個lut文件是為了能夠得到,所有電壓下對應的相位相應。觀察透鏡焦面上,棋盤格對應光斑,主要是看0級光和1極光。理想情況下, ...
s效應,相位延遲量與電場也是線性關系?=k×VV是外部電壓,k是相位延遲量與電壓之間的系數強度調制入射光需要與快軸和慢軸夾角為45°,下面是假設入射光為45度,快軸為90°下圖是對應不同相位差的情況下,出射光的偏振狀態。初始相位差為0,間隔為π/6。如果在上述光路下,在-45°方向添加一個偏振片,那么則光強為將kV的形式修改一下后,可以得到V_(π/2)就是半波電壓。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術,2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學學報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子.激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測量新方法[J].光學學報,1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國華.半陰法測量λ/4波片的相位延遲[J]. ...
可以通過調整延遲量來調控,所得到的目標信號的直方圖如下圖3所示:圖3圖3為一個激光周期的直方圖,設置的BIn寬為20ps(短可達到10ps),直方圖中只會顯示第1ns內和第99-100ns內的數據,將第99-100ns的數據篩除,即可得到目標信號的光強隨時間變化的信息。SPAD Lambda的設備軟件可一鍵生成直方圖且同時會把直方圖的橫縱坐標軸的TXT文件(SPAD光強縱軸的320個文件+TDC時間坐標橫軸的一個文件)直接保存到電腦端,方便數據的隨時調閱及處理。總之,SPAD Lambda不僅克服了傳統單點SPAD設備的不足,能夠顯著提高拉曼光譜的檢測靈敏度和信噪比,特別是在處理高熒光背景樣品 ...
用復數信號隨延遲量的變化曲線進行擬合。頻域熱反射技術(Frequency-Domain Thermoreflectance, FDTR)一般使用相位信號隨頻率的變化曲線進行擬合。傳統的空間域熱反射技術(Spatial-Domain Thermoreflectance, FDTR)使用相位信號隨空間掃描位置坐標的變化曲線進行擬合,但這種方法存在相位差校準引入的誤差。昊遠精測公司WildFire-ONE 熱導率測量儀改進了傳統的空間域熱反射技術(SDTR),采用掃描位置與雙光斑重合位置的相位差隨掃描位置坐標的變化曲線做為擬合信號,同時使用了振幅信號隨位置坐標的變化曲線作為等效光斑尺寸的擬合信號。同 ...
了可測量的總延遲量(在其不大于脈沖間隔的情況下)。②為減少光束發散的影響,在探測激光經過延遲平臺前,使用擴束裝置(Beam Expander)放大光束,減少發散角。合束及檢測:①處理后的泵浦激光和探測激光通過冷光鏡(Cold Mirror)合束,并通過一個光學物鏡共同聚焦在樣品表面。②探測激光在樣品表面反射后,通過偏振分束器和四分之一波片(1/4 Waveplate)進行分離。探測激光在延遲平臺后為水平偏振方向,完全通過偏振分束器,到達樣品前后經過四分之一波片,偏振方向由水平變為豎直,在返回至偏振分束器時被完全反射。③由于探測激光信號非常微弱,少量泵浦激光到達光電探測器會嚴重影響測量結果。因此 ...
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