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割和拋光，使晶體光軸從平板的法線向表面傾斜。由x射線衍射測量建立的傾斜角度很小，從表1可以明顯看出。表1石英和藍寶石樣品軸傾斜和雙折射通常入射到板上的光所經歷的雙折射為其中（ne-n0）為本征雙折射，θ為傾斜角。表1顯示了石英和藍寶石每個傾斜角度的凈雙折射。在λ = 632.8 nm處，石英的本征雙折射值為0.0091，藍寶石為-0.0081。用穆勒矩陣激光旋光計測量了平板，用Hinds Exicor系統測量了平板。Exicor系統設計用于測量較小的雙折射(0.005 nm)。激光旋光計是為進行穆勒矩陣測量而設計的。測量這些傾斜軸板的目的有四個方面:1)確定是否從測量中發現標稱傾斜角度，2)確 ...
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