射鏡。然而，空間分辨率由反射鏡的長度D決定，因此，我們不能獲得高的空間分辨率。而且，反射鏡的位置不確定度會引起大的測量誤差，這種方法不適用于對軟性材料或薄材料的測試，如硅片等。更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.champaign.com.cn了解更多的產(chǎn)品信息，或直 ...

15 nm的空間分辨率。該樣品的晶粒尺寸分布是通過TEM分析確定的，峰值在20 nm左右，這可以得出結(jié)論，從M-TXM圖像可以在晶粒尺寸水平上研究磁疇結(jié)構(gòu)，即在該系統(tǒng)的磁性基本長度尺度上。圖4.M- txm可以對薄膜中占主導(dǎo)地位的面內(nèi)磁化M進(jìn)行成像，方法是將樣品表面傾斜成相對于光子傳播方向k的角度，從而獲得沿k方向的M不消失分量由于二色性對比度是由磁化在光子傳播方向上的投影給出的，因此可以通過以相對于光子束方向的傾斜角度照射樣品來成像面外和面內(nèi)磁化疇，見圖4。目前，在XM-1顯微鏡下，樣品可以傾斜至30?從而降低對比度的兩倍。通過比較不同角度下的域結(jié)構(gòu)，M-TXM技術(shù)可以區(qū)分面內(nèi)貢獻(xiàn)和面外貢獻(xiàn) ...

可實現(xiàn)較高的空間分辨率，而且可實現(xiàn)較高的時間分辨率，因此可對外場作用下的磁性材料中的磁疇結(jié)構(gòu)的動態(tài)變化進(jìn)行實時觀測。如果您對磁學(xué)測量有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-150.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可 ...

D 相機(jī)上。空間分辨率接近衍射極限，約為1 μm，光譜分辨率優(yōu)于2.5 nm。QFLS Δμ是指電子處的準(zhǔn)費米能級和空穴接觸在照明下的分裂。通常，測量有效QFLS（Δμeff），因為照明的樣品區(qū)域不是無限小的，并且延伸到具有多個晶界的較大區(qū)域。這些內(nèi)部接口會導(dǎo)致內(nèi)部損耗降低理想的QFLS。太陽能電池在熱平衡和室溫下的PL發(fā)射ΦPL可以通過廣義普朗克定律使用黑體的玻爾茲曼近似來描述。由于太陽能電池不是理想的黑體，因此必須考慮樣品吸收率，即吸收的光子與入射光子數(shù)的比率或吸收概率。光子發(fā)射的有效角度通常小于整個半球。只有在低于臨界角的角度下發(fā)射的光子才能離開鈣鈦礦樣品表面，而在較高的角度下會發(fā)生全內(nèi) ...

以保持相同的空間分辨率。但要想使用800 nm中心波長的寬帶光源進(jìn)行長距離成像系統(tǒng)，則工作光譜帶寬需降至30 nm以下，才可以在12毫米的成像深度中保持等效的空間分辨率。這就對光譜儀的分辨率提出了很高的要求：光譜分辨率需低于0.02 nm！使用Wasatch Cobra-S 800 OCT光譜儀進(jìn)行長距離成像為了將長距離成像的優(yōu)勢應(yīng)用于800 nm SD-OCT，美國Wasatch公司運(yùn)用了在光譜儀設(shè)計方面的專業(yè)知識，開發(fā)了一款具有超精細(xì)光譜分辨率的OCT光譜儀。這種擁有光學(xué)設(shè)計的光譜儀就是Cobra-S 800光譜儀系列中的新型號CS800-841/28。它能夠在841 nm的中心波長上以2 ...

小于2nm，空間分辨率約為1μm（衍射極限）。CIGS模塊使用532nm激光器均勻激發(fā)，光學(xué)和光致發(fā)光（PL）圖像使用基于硅的電荷耦合器件（Si CCD）相機(jī)獲取。布拉格光柵技術(shù)設(shè)用于全局成像，允許在顯微鏡下逐波長獲取整個視野內(nèi)的信號。傳統(tǒng)的熒光（PL）成像設(shè)置基于逐點或線掃描技術(shù)，需要重構(gòu)圖像。使用這些成像技術(shù)時，僅照亮樣品的一小部分（使用共聚焦逐點設(shè)置時約為1μm2），周圍區(qū)域保持黑暗，導(dǎo)致載流子向這些區(qū)域橫向擴(kuò)散。全局照明避免了由于局部照明引起的載流子復(fù)合。使用全局成像時生成的等勢體防止了電荷向更暗區(qū)域擴(kuò)散。用于全局成像模式的均勻照明使得在現(xiàn)實條件下進(jìn)行PL實驗成為可能，z低可達(dá)一個相當(dāng) ...

TIR技術(shù)的空間分辨率受衍射的限制，無法分辨精細(xì)的BCP圖像。增強(qiáng)掃描近場光學(xué)成像的新進(jìn)展表明，通過將光譜學(xué)與AFM相結(jié)合，可以將光譜成像分辨率擴(kuò)展到亞10納米范圍。尖端增強(qiáng)近場振動光譜的例子包括尖端增強(qiáng)拉曼散射(TERS)和紅外散射掃描近場光學(xué)顯微鏡(IR s-SNOM)技術(shù)。尖端增強(qiáng)測量的一個普遍挑戰(zhàn)是由遠(yuǎn)場散射光子從尖端周圍區(qū)域產(chǎn)生的壓倒性背景信號。與遠(yuǎn)場散射相比，缺乏能夠可靠地增強(qiáng)近場拉曼散射的成像探針，這阻礙了TERS的廣泛采用，盡管它很有希望。此外，聚合物共混物和BCP系統(tǒng)不適合共振拉曼增強(qiáng)，需要很長的信號集成時間。對于紅外sSNOM，基于干涉測量的檢測方法可以提供有效的背景抑。利 ...

物體后用沒有空間分辨率的桶探測器收集，另一路不與物體接觸，直接由面陣探測器采集，兩路測量結(jié)果再經(jīng)關(guān)聯(lián)計算重構(gòu)出物體圖像。由于這兩路結(jié)果中的任一路都無法單獨重構(gòu)圖像，而關(guān)聯(lián)后就能得到正確結(jié)果，這種出人意料的成像方式因之得名“鬼成像”。 ...

織穿透深度和空間分辨率，被視為最具潛力的下一代活體熒光影像技術(shù)。昊量光電既提供整體的近紅外二區(qū)成像系統(tǒng)、紅外二區(qū)高光譜成像系統(tǒng)、及紅外二區(qū)多光譜成像系統(tǒng)，同時也提供近紅外二區(qū)成像專用的深度制冷紅外2區(qū)InGaAs。 ...