感器采集閃爍點源經散射介質形成的散斑圖樣，點源在每一個隨機相機幀中的位置通過計算的方式以非常高的精度確定，從而可以實現超分辨圖像重建。zui終證明實現的分辨率超過了衍射極限，散射介質后100nm的特征可以被清晰分辨。SOSLI的分辨率極限受信噪比(SNR)約束，這一點與其它用于透明樣品成像的計算超分辨率顯微鏡技術類似。作者開發了自適應SOSLI以通過動態散射介質(例如新鮮雞蛋殼膜，其相關性低至0.2)進行超分辨成像。所提SOSLI技術可以穿透類似于生物組織或磨砂玻璃這樣的半透明介質，成像分辨率達到亞波長級。原理解析(數學原理和實驗裝置見附錄)：(1) 采集散斑圖像。物體O由隨機閃爍的點源組成: ...

600個物方點源的圖像。對于三維圖像，設立11個深度層，層間間隔為300um，標定11*60*60=39600個點源圖像。對于彩色成像，還需要單獨標定每一個顏色通道。視頻1：三維成像效果附錄：（1）所用多芯光纖FIGH-06-300S, Fujikura（2）無透鏡與有透鏡性能對比：（3）實驗裝置參考文獻：J. Shin, D. N. Tran, J. R. Stroud, S. Chin, T. D. Tran, M. A. Foster, A minimally invasive lens-free computational microendoscope. Sci. Adv. 5, ea ...

合均勻的發射點源，更符合實際的漫反射或朗伯曲面。所求模型從標量計算轉為向量計算，并將光錐變換拓展到向量形式的定向光錐變換，將反照率和曲面法線的復原看作為一個向量解卷積問題，使用Cholesky-Wiener分解來求解，通過在復原的法線上擬合曲面，重建高度準確的物體曲面(具體算法推導見附錄)。(2)系統構成。高功率脈沖激光(35ps脈寬，重復頻率10MHz, 出射激光平均光功率為1W@532nm)經準直和線偏振處理后經過偏振分光棱鏡透射到二維振鏡上對場景進行掃描，經中介墻反射回來的光線沿著原光路返回，并被偏振分光棱鏡反射后聚焦到單光子雪崩二極管(SPAD)上。時間相關單光子計數器以SPAD和激光 ...

窮遠處的一個點源，經過光學元件后，在自由空間傳播一段距離z，到達圖像傳感器表面得到：(2) 從PSF到圖像。獲得點擴散函數以后，圖像傳感器每一個彩色通道感應的光強可以看作各個波長下圖像與點擴散函數的卷積并乘以圖像傳感器的光譜靈敏曲線的積分。在這里認為PSF是平移不變的，只考慮近軸情況，離軸像差不考慮。(3) 傳感器上建模。傳感器上接收到的圖像建模為每個像素上的積分加上高斯讀取噪聲。(4) 通過求解一個Tikhonov正則化zui小二乘問題重建。當PSF離散化大小與圖像傳感器像素大小匹配時，像素積分算子S為恒等式，可以在圓形邊界條件的簡化假設下用維納濾波以封閉形式解決問題(7)，維納濾波操作為： ...

波長為λ時對點源的像是一個艾里斑。艾里斑的第一個零點定義為瑞利衍射極限1.22λf#。f-數是f#盡管瑞利分辨率是表述成像系統分辨率的傳統方法。我們在這里用它來衡量成像系統的自由度。如果一個相干成像系統的探測器平面最大線性尺度是Wd，則圖像可分辨的點數S正比于：S是系統的信息傳遞能力的基本限制，我們稱其為空間帶寬積(space-bandwidthproduct, SBWP)。一個系統的空間帶寬積是一個定值。由于非相干成像系統的OTF是光瞳函數的自相關，所以非相干成像系統的空間帶寬積是4S。但是后續的討論會忽略掉倍數4，因為它對計算成像概念的影響很小。對于即將進行的討論，重要的是認識到，在一個平 ...

在此配置中，點源創建一個發散光束，該發散光束注入被測系統中。實時波前顯示允許監控和優化光學對準。1.3面型檢測當集成到反射裝置中時，Phasics SID4波前傳感器可以執行面型檢測。Kaleo 軟件輸出3D 曲面圖和凸面或凹面（如透鏡、鏡子或模具）的曲率半徑。ISO 10110 標準定義的所有表面質量參數，如表面不規則度、粗糙度和波紋度，都是從該測量中計算得出的。也可以在任何方向上提取表面輪廓，并且可以將結果與理論表面進行比較。二、激光測試和自適應光學控制Phasics的波前傳感器以其無與倫比的高分辨率（512x512）和易用性而著稱。一臺儀器可以涵蓋廣泛的用途：光束測試、光學系統對準、自適 ...