圖像平面上的光斑尺寸。此外，由于對于更快的馬賽克成像較大的 FOV 是可取的，因此問題只會隨著我們掃描的離軸越遠而變得更加復雜。如果沒有傍軸近似，即使是輕微的偏轉也會導致焦點偏離最佳聚焦位置——這是在軸上的光傳播中實現的。標準的消色差透鏡的設計不僅可以最小化色差，而且通常還可以最小化球差。但是，這種優化只是針對軸上的光。因此，當準直激光束通過標準消色差透鏡離軸掃描時，光束存在明顯像差，包括球差、慧差、像散和場曲。然而，如前面在5.2節中討論的，某些鏡頭是專為掃描應用設計和優化的。圖19顯示了消色差透鏡和用于遠心掃描的掃描透鏡（均為商業上）的比較；圖中顯示了兩個鏡頭在掃描范圍內的聚焦質量和焦平面 ...

，透鏡兩側的光斑尺寸相等，換言之，透鏡兩側高斯光束的ω'= ω。本篇主要講述高斯光束經透鏡變換的公式，以及如何設計一個良好的激光擴束鏡，從而獲得理想的準直效果。當已知變換前后高斯光束束腰半徑之比及變換透鏡的焦距f'，則可用下列兩式分別求得入射光束和出射光束的束腰到變換透鏡的距離其中由高斯光束通過薄透鏡時的變換（二）可知，由此可見，變換透鏡的焦距f'必須大于f0，否則無解。若系統由多個透鏡組成，上述公式對每個透鏡都是適用的，透鏡間的過渡公式為：上面兩式中Z, d的值都是相對于主面來說的。由式4和式5可知，ZR2的大小隨x_1的增大而單調減小，當x1 → ∞時，由式6可知， ...

、測量激光光斑尺寸 、質心位置、橢圓度、相對功率測量（歸一化數據）、二維/三維能量分布（光強分布） 、光束指向穩定性（質心抖動） 、功率穩定性 （繪制功率波動曲線）、發散角測量等 ，支持測量數據導出 ，測試報告PDF格式文檔導出等。主要特點：1、芯片尺寸大，可達36mm2、精度高，單像元尺寸可達4.6um3、支持C/C++, C#,Labview, Java語言等多種語言二次開發主要技術指標：RT option:CMOS/CCD-xxx-RT：響應波長范圍：320~1150nmUV option: CMOS/CCD-xxx-UV：響應波長范圍：150nm~1150nmCMOS/CCD-xxx ...

amp;對應光斑尺寸PR-788亮度范圍三．應用光譜式亮度計在面板顯示和照明行業有著廣泛的應用。重要可以測量亮度，色度，亮度均勻性，色度均勻性，Gamma值以及某些光學材料的透過率和反射率等應用。還可以做為標準，來校正機差，以及校正成像亮度計參數。不僅是科研，也是工廠中亮度，色度測量解決方案的不錯選擇。四、Photo Research 亮度計系列產品概述：PR-655 CCD探測器 128位線性TEC制冷 波段：380-780nm 帶寬：8nm 亮度范圍：0.68-102,774nitsPR-670 CCD探測器 256位線性TEC制冷 波段：380-780nm 帶寬：8nm 亮度范圍：0.0 ...

聚焦在合適的光斑尺寸內，然后耦合到晶體邊緣表面。這種方法需要足夠的空間來安裝透鏡，需要固定透鏡安裝位置，以及優化泵浦激光器的匯聚光束形狀，且這種方式明顯的對激光效率會產生影響，但這卻是比較常見的方案。在一些激光二極管泵浦的固體微芯片激光器中，將幾毫米大小的激光晶體放置在泵浦的LD附近，使芯片發出的激光束不受任何干涉地進入激光晶體并進行振蕩。在這種無透鏡耦合系統中，獲得高效振蕩的必要條件是使得泵浦光束在固體激光晶體中的傳播與激光諧振光束直徑的充分重疊。使用摻雜鉺30%和鉻2%的YSGG晶體，配合NA值為0.22的芯徑為100-200微米的石英光纖，可以實現上述的過程。調整激勵光束時，使用芯直徑為 ...

光量計算得到光斑尺寸、橢圓度、發散角、瑞利長度以及光束質量等數據。該產品達到設備的實時顯示性能允許在激光器啟動期間測量動態焦距偏移在激光啟動過程中的動態焦點移動。增材制造已經重構了原型、開發和gao級設計機械部件的制造方式。直接激光熔化、選擇性激光燒結或三維金屬打印正迅速成為傳統金屬去除技術無法制造的設計的標準。CinSpot FBP-1KF/2KF系列焦點光斑分析儀CinSpot FBP-1KF/2KF系列是Cinogy公司和德國SLM sloution公司深度合作，專為SLM solution公司的3D打印設備而研發設計的高功率高精度高集成的的激光焦點光束質量分析儀器。聚焦的激光光束被直接 ...

移方向的激光光斑尺寸為 。2.敏感度分析圖2展示了圖1的測量信號對系統中不同參數的敏感性系數。這些參數包括了傳感層和基底材料的不同方向上的熱導率Kxm、Kym、Kzm(其中角標m表示為金屬傳感曾的物理性質)和Kx、Ky、Kz，體積比熱容Cm和C，金屬傳感層的厚度hm，界面熱導G，泵浦光斑樣品表面上不同方向上的激光光斑尺寸圖2：調制頻率9kHz，100nm Au/sapphire樣品的SDTR測試結果對樣品各個熱物性的敏感度示意圖。(a)相位梯度信號對于不同參數的敏感度；(b)幅值半高寬對不同參數的敏感度。圖2中顯示：x方向的熱導率Kx、樣品體積比熱容C對的敏感度較高，因此對與得到較為準確的熱導 ...

的能量加載。光斑尺寸越小，功率在目標磁盤內的集中程度越高。如果你曾經在夏天玩過放大鏡，你就會熟悉這個概念。放大鏡將均勻分布在玻璃直徑上的太陽光線聚焦，當與地面保持適當距離時，將這些光線聚焦到一個非常小而明亮的焦點上。那些均勻分布在放大鏡直徑上的光線，在大約半小時后可能會造成輕微的曬傷，而當這些光線集中在一個小焦點上時，現在有可能在幾秒鐘內引發火災并融化蠟筆。你可以調整放大鏡的焦點光斑，通過改變幾何光學(在空間中上下移動放大鏡)來產生一個非常小而明亮的光斑，或者更小而不那么明亮的光斑。類似地，電子束中的能量通過靜電光學被集中到x射線管陽極的焦點上。電子束的功率以W表示，焦點光斑的尺寸以微米表示。 ...

該方向的激光光斑尺寸Wx。圖1：SDTR光路簡約示意圖圖2：表面鍍有100 nm鈦的熔融石英樣品在150 Hz泵浦調制頻率和11.5 μm光斑尺寸下的SDTR測試相位(a)和歸一化幅值(b)數據圖。圖2中所示為在150 Hz 泵浦調頻下，鍍有100 nm鈦膜的熔融石英樣品的測量數據和擬合曲線。通過對圖2(a)中相位差信號進行擬合，其中采用文獻中提供的熔融石英的體積比熱容等數據后擬合而得出熔融石英沿光斑偏移方向的面內熱導率為1.4W/(m·K)。SDTR所測得的熱導率與文獻值十分接近；同理，若通過改變泵浦光斑和探測光斑相對于樣品的的偏離方向可以測得沿表面的各個方向的各項異性的熱導率(不過實例中的 ...

合物。采用小光斑尺寸(~8μm)進行測量。結果與SEM測量結果相關聯/驗證。在幾次生產運行中進行了測量，以將生產線設置調整到~ 4.5 μ m的目標厚度。圖2 測量位置-紅色圓圈表示測量點區域。燒蝕所述表面以增加所述藥物聚合物的保留圖3 從第1次生產開始測量支架-厚度6.69μm(涂層太厚)圖4 生產線調整后支架測量-厚度2.55μm(涂層太薄)圖5 第二次調整生產線后支架涂層測量-厚度4.35μm(涂層厚度達標)圖6 支架涂層的SEM測量結果與MProbe測厚結果完美匹配:4.35um2.封裝/覆蓋支架圖7 聚氨酯覆蓋/封裝支架支架由細(~ 200μm)鎳鈦諾絲制成。聚氨酯覆蓋層厚度目標為~ ...