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雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗應用案例Moku:Pro簡化雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗介紹在華盛頓大學, 研究人員致力于雙色受激拉曼散射(SRS)顯微鏡技術研究開發化學成像工具，用于早期癌癥檢測和了解神經退行性疾病進展。實驗裝置通常包括多個復雜的高性能儀器, 用于實時雙色 SRS 成像或兩個相距較遠的拉曼躍遷的同步成像?，F在，他們正在使用Moku:Pro鎖相放大器和多儀器并行模式，僅通過Moku:Pro一臺緊湊的多通道設備進行多種實驗并捕捉低強度的SRS信號。面臨挑戰SRS是一種相干拉曼散射過程，可提供具有光譜和空間信息的化學成像。在典型的設置中,它使用兩個同步脈沖激光器, 即泵浦和斯托克斯(圖1) ...
、光遺傳學和散射介質成像等應用。 這些應用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調制器。 通過將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數字電路相結合，Meadowlark Optics 現在提供了高分辨率的 SLM，這些 SLM 還具有物理緊湊性和高光學效率。圖一：緊湊的HSP1K（1024×1024）系列和E19×12（1920×1200）系列SLMMeadowlark Optics 的硅基液晶 (LCoS) 空間光調制器 (SLM) 專為純相位應用而設計，并結合了具有高刷新率的模擬數據尋址。 這種組合為用戶提供最快的響應時間和高相位穩定性。這些SLM 適用于需要高速、高衍射效率、低相位紋波和高功率 ...
球體的收集、散射或聚焦特性被用來將入射光線折射到所需程度。例如，在成像系統中，高圖像質量起著決定性作用，并伴隨著低成像誤差。此外，它還可以通過考慮各種因素來提高--取決于現有系統的要求。這些因素包括，例如，所用光源的位置或有效孔徑的選擇。通過使用幾個球體也可以提高圖像質量，但這是一個關于鏡頭形狀和光學系統現有空間條件的問題。通過選擇有效光圈，也可以減少球面像差。其原因是對周邊入射光線的阻擋。如果沒有光圈，外圍增加的曲率和由此產生的更強的光線折射會促進球面像差的發展。多球面透鏡組合消色器是由一個或多個收集和分散透鏡組合而成的。通常使用一個低折射率的正凸透鏡和一個低折射率的負凹透鏡，并將其粘合在一 ...
體中照射時，散射光中的波長略有不同。使用這種現象分析拉曼光譜可以獲得有關材料結構的信息。在 CVD 腔室中安裝 In-situ 拉曼，就可以在形成薄膜的腔室中實時分析薄膜材料的濃度、晶體結構、結晶性等性能。此外，還可以檢驗化學沉積過程中所需的化合物氣體、反應氣體、薄膜生長溫度、生長時間等工藝條件，以找到一個較佳的工藝方案。研究組還開發了通過分析半導體薄膜物性來推斷遺傳率的分析技術。介電率是指在電場中產生電極化的程度。例如SiO2是一種傳統的層間絕緣材料，但由于介電率高，在實現高密度和高速化方面存在問題，就可以通過沉積具有低電離電特性的電介質來補充。再通過磷酸光光譜法確定其沉積過程和處理條件的物 ...
，應通過光的散射特性找到確定成熟度的進一步措施?；谶@些特性，可以獲得有關細胞結構的知識，這反過來又是保質期的影響因素。德國博登湖水果生產發展中心（KOB，Kompetenzzentrum Obstbau-Bodensee）將使用光譜儀測量 Elstar（伊思達）、Gala（嘎啦）和 Jonagold （喬納金）品種的蘋果。圖2.快速無損檢測方法獲取蘋果zui佳采摘時間(初代原型機)在Streif 指數中，可溶性干物質（糖）（以 °Brix 為單位）、果肉的硬度（以 kg/cm2 為單位）以及淀粉降解程度均采用 1 至 10 的評分標準來確定。根據計算出的指數（硬度/（糖度 x 強度）），指定 ...
下方的特征會散射光線并導致圖像質量下降。載玻片的清潔度是影響成像的重要因素，在暗場照明中，由于細微碎屑均會被照亮，并且讓你無法看清想要觀察的部分，因此其重要性更甚。暗場顯微鏡與高光譜成像相結合，為研究組織、活細胞或溶液中的納米材料提供了一種有效的方法。來自等離子體或其他納米結構的散射光提供了有關其組成，大小和分布的有用信息。Photon等為高光譜暗場成像提供了兩種不同的平臺：可調諧激光源（TLS）允許在激發中濾波和IMA，一個提供發射濾波的平臺。TLS由兩個模塊組成：超連續源（寬帶源）和基于光子等體積布拉格光柵（VBG）技術的激光線可調諧濾波器（LLTF-帶通濾波器）。IMA由高光譜成像濾光片 ...
間濾波排除未散射的光，從而提供樣品的散射光圖像。在暗場（DF）的照明下，平坦的表面呈現暗色，而裂縫、孔隙和蝕刻邊界等特征則會增強。因此暗場照明可以用于檢測不透明、未染色材料（如半導體晶圓)中的缺陷。由于照明必須經過空間濾波，因此需要比透射光學顯微鏡所使用的光源輸出強度更高的光源。常用產品型號CELESTA、ZIVA、SOLA、AURA、SPECTRA、SPECTRA X、MIRA、RETRA、PEKA、LIDA如果您對Lumencor光源有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-330.html更多詳情請聯系昊量光電/歡 ...
間濾波排除未散射的光，從而提供樣品的散射光圖像。在暗場（DF）的照明下，平坦的表面呈現暗色，而裂縫、孔隙和蝕刻邊界等特征則會增強。因此暗場照明可以用于檢測不透明、未染色材料（如半導體晶圓)中的缺陷。由于照明必須經過空間濾波，因此需要比透射光學顯微鏡所使用的光源輸出強度更高的光源。常用產品型號 CELESTA、ZIVA、SOLA、AURA、SPECTRA、SPECTRA X、MIRA、RETRA、PEKA、LIDA如果您對Lumencor光源有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-330.html更多詳情請聯系昊量光電/ ...
在基底上的光散射，數值計算預測金屬有機粒子對應的橢偏參數Δ和ψ。理論上在裸露的金納米顆粒的極限情況下，Bobbert-Vlieger模型的預測與常用的Maxwell-Garnett有效介質近似的預測一致。Bobbert-Vlieger模型的優點包括它依賴于麥克斯韋方程組的精確解，以及可以模擬比EMA模型更復雜的納米結構體系。理論和實驗上都發現，在真實的實驗條件下，可以檢測到與納米顆粒表面生物功能化和生物認知事件相關的橢偏參數的變化。結果還表明，這種方法可擴展到更復雜參數的測量，例如生物有機殼的水合程度，甚至可能擴展到溶液中生物功能化納米顆粒的測量。圖1-5 Au納米顆粒探測有機分子的示意圖由此 ...
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