簡介——白光干涉法硅基液晶芯片即LCOS是一種空間光調(diào)制器。它利用液晶的電控雙折射現(xiàn)象,在驅(qū)動(dòng)電壓下折射率連續(xù)變化,實(shí)現(xiàn)對(duì)入射光的相位調(diào)制。但由于液晶的一些特性,驅(qū)動(dòng)電壓改變量和相位改變量是非線性關(guān)系,實(shí)際使用中需要測量并確定相位調(diào)制特性曲線。現(xiàn)介紹一種相位分析方法——白光干涉法,來確定LCOS芯片的相位調(diào)制特性曲線。白光干涉法采用邁克爾孫干涉儀的結(jié)構(gòu),在參考鏡前設(shè)置補(bǔ)償玻璃板(同LCOS芯片前的玻璃板),消除對(duì)光路的影響,從而使參考光和反射光達(dá)成白光干涉條件。分析干涉圖可得到LCOS芯片的相位輪廓,進(jìn)而分析相位調(diào)制的特性曲線。上圖為白光干涉法的裝置示意圖。白光由確定中心波長的鹵鎢燈發(fā)射,經(jīng)毛 ...
傳感器組成的干涉儀構(gòu)成雙光梳數(shù)字全息,可實(shí)現(xiàn)具有高時(shí)間相干性的高頻率復(fù)用全息。作者:Edoardo Vicentini ,Zhenhai Wang...Nathalie Picqué原文鏈接: https://www.nature.com/articles/s41566-021-00892-x4 快報(bào)標(biāo)題:通過在有機(jī)半導(dǎo)體界面形成三重態(tài)實(shí)現(xiàn)高效固態(tài)光子上轉(zhuǎn)換簡介:證明了有機(jī)半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)界面對(duì)光的高效上轉(zhuǎn)換。這個(gè)過程是由界面處的電荷分離和重組介導(dǎo)的電荷轉(zhuǎn)移狀態(tài)實(shí)現(xiàn)的。作者:Seiichiro Izawa & Masahiro Hiramoto原文鏈接: https://www.natur ...
馬赫-曾德爾干涉儀(Mach-Zehnder interferometer, MZI)可以實(shí)現(xiàn)給定維度的任意空間線性光學(xué)函數(shù)。當(dāng)前不足:如空間模式轉(zhuǎn)換器、線性光學(xué)量子計(jì)算門以及用于通信和其它應(yīng)用的任意線性光學(xué)處理器這樣的光學(xué)函數(shù),可以在硅光子技術(shù)中使用MZI網(wǎng)格(mesh)來實(shí)現(xiàn),但性能受到不能實(shí)現(xiàn)理想的50:50分割的分束器的限制。文章創(chuàng)新點(diǎn):基于此,美國斯坦福大學(xué)的David A. B. Miller提出了一種新的架構(gòu)和一種新穎的自我調(diào)整方法,可以自動(dòng)補(bǔ)償從85∶15到15∶85之間由于不完美制造產(chǎn)生的非理想分光比,并能夠大規(guī)模制造用于各種復(fù)雜和精確線性光學(xué)函數(shù)。原理解析:(1) 使用雙M ...
成像、顯示、干涉測量、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)等領(lǐng)域都扮演著重要的角色。將全息與其它光學(xué)手段區(qū)分開來的是其具有記錄和重建物體的強(qiáng)度和相位的能力。全息記錄通常是物波與參考波干涉生成將物波的振幅和相位都編碼的全息圖。全息重建則是從記錄的全息圖強(qiáng)度恢復(fù)物的信息。全息可以分為同軸全息和離軸全息。同軸全息是指物波和參考波共軸,具有系統(tǒng)簡單、大帶寬積、穩(wěn)定性強(qiáng)、重建時(shí)受到共軛像干擾等特點(diǎn)。離軸全息是指物波和參考波有夾角,使得共軛像與期望的重建像分離,從而獲得清晰的重建像,但是帶寬積不如同軸全息,且系統(tǒng)較復(fù)雜,抗干擾能力較差。電子計(jì)算機(jī)和圖像傳感器(CCD、CMOS)的發(fā)展將全息由模擬時(shí)代引入數(shù)字時(shí)代。圖像傳感器作為全息圖 ...
Fano 干涉的連續(xù)域內(nèi)的束縛態(tài)(bound states in the continuum,BIC)可以有效地抑制量子漲落。盡管其本質(zhì)上很脆弱,但這種不尋常的狀態(tài)會(huì)重新分配光子,從而抑制自發(fā)輻射的影響。基于這個(gè)概念,作者通過實(shí)驗(yàn)證明了一種線寬比現(xiàn)有微型激光器小 20 多倍的微型激光器,并證明進(jìn)一步減少幾個(gè)數(shù)量級(jí)是可行的。這些發(fā)現(xiàn)為微觀激光器的眾多應(yīng)用鋪平了道路,并指出了光子學(xué)以外的新機(jī)遇。潛在用途:(1)實(shí)驗(yàn)證明了激光器線寬可達(dá)5.8MHz,符合40Gbits相干通訊需求。(2)可用于實(shí)現(xiàn)集成傳感器,其線寬可識(shí)別濃度為attomolar的蛋白質(zhì)/DNA,這是使用其它納米傳感器難以實(shí)現(xiàn)的。示 ...
urnois干涉儀(GTI)反射鏡(Layertec)之間反射4次實(shí)現(xiàn),每次反射約1300fs。早期的KGW/KYW激光設(shè)計(jì),使用棱鏡對(duì)在腔內(nèi)做色散補(bǔ)償,通過改變棱鏡的插入距離,可以改變輸出激光的中心波長或帶寬。在過去的幾年里,GTI成為色散補(bǔ)償?shù)闹髁鬟x擇,因?yàn)樗o湊且容易裝配。盡管已經(jīng)有許多理論依據(jù)(通過負(fù)群延遲色散抵消增益介質(zhì)里的自相位調(diào)制,產(chǎn)生一個(gè)可支持穩(wěn)定模式鎖定的色散范圍)指導(dǎo)如何構(gòu)建一個(gè)穩(wěn)定的鎖模腔,在構(gòu)建用于特定實(shí)際應(yīng)用的振蕩器的時(shí)候,還是需要用到反復(fù)試錯(cuò)法,特別是使用離散值GTI反射鏡的時(shí)候。我們需要逐漸增加負(fù)色散,直到獲得穩(wěn)定的鎖模激光輸出。作者發(fā)現(xiàn),每個(gè)GTI反射兩次(一個(gè) ...
法布里-珀羅干涉儀以來,光纖作為傳感元件的突出潛力一直被開發(fā)到現(xiàn)在。大量的工作基本上都集中在纖維本身上,而沒有注意到它的表面。光纖衍射光柵,是在光纖端面構(gòu)建衍射光柵,利用多層衍射光柵對(duì)可以構(gòu)成光纖馬赫-曾德爾直線干涉儀。光纖衍射光柵是一種新型的光纖器件,具有魯棒性高、運(yùn)行穩(wěn)定性好的特點(diǎn)。光纖傳感解決方案—光纖光柵傳感器光纖傳感解決方案—光纖光柵解調(diào)儀昊量光電推出的光纖光柵傳感系統(tǒng)補(bǔ)足高采樣頻率要求的市場空缺,采樣頻率3-40Khz可選,可同時(shí)在線監(jiān)測溫度、加速度、應(yīng)變、位移、壓力等多個(gè)物理量。一、 光纖衍射光柵原理衍射光柵是可以在光敏材料中記錄的簡單的周期性圖案之一,它們基本上是透過率或折射率 ...
層制成的精密干涉濾光片常用于商用拉曼光譜儀,使用簡單,傳動(dòng)效率高。然而,截止頻率通常被限制在100波數(shù)。基于熱折變玻璃的濾光片技術(shù)的發(fā)展使得濾光片的截止頻率低至5 波數(shù)。這提供了一個(gè)獨(dú)特的機(jī)會(huì),使用高通量的單級(jí)光譜儀訪問低于100波數(shù)的低頻區(qū)域。由于這些體全息布拉格陷波濾波器的典型OD值在3到4之間,因此使用2到3個(gè)這樣的濾波器可獲得較佳的結(jié)果。圖1給出了基于共焦顯微拉曼系統(tǒng)的低頻偏振拉曼測量系統(tǒng)。由于二維材料樣品非常小和薄,需要結(jié)合顯微鏡系統(tǒng)將激光束聚焦在樣品上,并使用后向散射幾何,即使用相同的物鏡將激光束聚焦在樣品上并收集散射光。第①個(gè)有波長都被傳輸。光譜儀入口狹縫前的缺口濾光片進(jìn)一步去除 ...
用非平衡輔助干涉儀來降低這種情況的影響。光纖中不同位置返回的瑞利散射信號(hào)的偏振態(tài)并不相同,由此產(chǎn)生的混合信號(hào)的在與參考光相干時(shí)由于偏振態(tài)的差異會(huì)使最終得到的信號(hào)產(chǎn)生不規(guī)則波動(dòng)。因?yàn)镺FDR本身是在光源頻率不斷變化的過程中來對(duì)信號(hào)進(jìn)行采集,通過對(duì)多次測量的結(jié)果進(jìn)行平均,可在一定程度上消除偏振態(tài)不匹配對(duì)測量結(jié)果造成的影響,這個(gè)問題可以采用偏振分集接收技術(shù)進(jìn)行減弱。由于瑞利散射信號(hào)的偏振態(tài)在光纖沿線不斷變化,分束器兩個(gè)輸出端中的散射信號(hào)的功率會(huì)沿光纖長度產(chǎn)生波動(dòng),進(jìn)而導(dǎo)致分束器中每一路相干信號(hào)均會(huì)產(chǎn)生相應(yīng)的變化,分別對(duì)這些路進(jìn)行分析,可以得到光纖中的排長、光波偏振態(tài)的變化等信息。對(duì)參考光的偏振態(tài)進(jìn)行 ...
定薄膜厚度的干涉信號(hào)的對(duì)比度降低。在高數(shù)值孔徑物鏡中,光線在膠片中以不同角度折射(見圖1),因此光線在膠片材料中的路徑長度不同。這意味著它們具有不同的相位差。一旦不同的光線組合在一起并且相位疊加在探測器上,相長干涉峰/谷和相消干涉峰/谷之間的對(duì)比度就會(huì)減弱。這種影響的嚴(yán)重程度取決于具體的膠片疊層和數(shù)值孔徑。但是,一般來說,效果隨著厚度的增加而增加。圖 1 大數(shù)值孔徑(NA) 的小光斑測量NA 如何影響厚度測量在硅氧化物測量示例中很容易看出效果。 200nm氧化物的UVVis反射光譜(200-1000nm)的模擬如圖2 所示。它顯示光譜隨著NA 的增加而逐漸退化。但變化很小并且很容易糾正。然而, ...
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