代儀器采用了干涉濾波器，它可以傾斜以改變通帶。隨后，聲光可調諧濾波器(AOTF)和液晶可調諧濾波器(LCTF)被引入到拉曼成像中，并提供了電子可調諧性。可調濾波器方法已被證明是測量隔離波段較有用的方法。如果只需要幾個幀來定義波段，拉曼成像可以相當快。當有許多重疊波段或非線性背景時，許多圖像必須以不同的拉曼位移拍攝，時間優勢就消失了。需要注意的是，聲光濾波器的透射率僅為50%左右，而液晶濾波器的透射率約為20 - 40%。相比之下，電介質濾光片通過80-90%的入射光。這種差異是因為AOTF和LCTF都作用于線偏振光。在大多數拉曼微探針中，拉曼散射的兩個偏振分量都被收集，即使激發激光是線偏振的。 ...

拉曼散射光的干涉。這種干涉增強拉曼散射(IERS)現象被用于最大化拉曼信號，這些信號來自于沉積在襯底上的較厚層之上的非常薄的層。自從首次證明石墨烯在硅襯底上的拉曼增強，一些研究人員使用拉曼強度比來估計石墨烯的厚度，MoS2,或六方氮化硼沉積在SiO2/Si上。這些厚度或層數的估計使用了樣品與襯底拉曼強度的比值，或襯底拉曼強度與樣品與裸襯底的比值，并基于多波分析或傳輸矩陣方法(TMM)來預測這些比值。然而，在多層薄膜中，襯底不是拉曼活性的，或者在結構中只有一種拉曼活性材料，強度比將不能用于厚度估計。圖1.532 nm激發激光和100 X物鏡獲得的藍寶石上硅薄膜的拉曼光譜拉曼測量是在配備532 n ...

的能力。通過干涉層的應用實現了顯著的對比度增強，但克爾顯微鏡的突破是隨著20世紀80年代視頻顯微鏡和數字圖像處理的引入而來的。自20世紀50年代以來，法拉第顯微鏡也主要用于磁性柘榴石薄膜和正鐵氧體的透射實驗，由于法拉第效應比克爾效應強得多，因此不需要電子對比度增強。基于Voigt效應的透射顯微鏡也是如此，該效應用于觀察石榴石中的面內疇。后來在金屬的反射實驗中也發現了Voigt效應，以及在類似實驗條件下出現的磁光梯度效應。梯度效應是一種雙折射效應，它與磁化梯度呈線性關系。這兩種效應都有助于分析具有立方磁各向異性的外延多層體系中的疇，通過考慮效應的對比規律和深度靈敏度。梯度效應也可以很好地應用于圖 ...

；二是高精度干涉型光纖陀螺中大纖長大尺寸保偏光纖環圈在復雜環境多物理場（溫度、磁場和應力等場）作用下導致光纖陀螺性能劣化，需采用多種技術措施，例如溫度控制、多重磁屏蔽和密閉封裝等，以降低陀螺環境敏感性，這不可避免地導致其體積、質量和功耗的增大，體積效率比降低限制了光纖陀螺性能的提升。結語：隨著光子晶體光纖技術的發展，尤其是空芯光纖采用獨特的微結構形成空芯光子晶體光纖，為光纖陀螺建立了全新的導光機制，開啟了光纖傳輸介質顛覆性技術變革，為提高光纖陀螺環境適應能力提供了新技術途徑。想了解更多關于光子晶體光纖相關產品詳情，請訪問上海昊量光電的官方網頁：https://www.auniontech.co ...

這是一種電子干涉測量方法，記錄干涉圖樣，從中可以重建物體的振幅和相位。該技術可以以較高的分辨率(2 nm)測量薄鐵磁樣品內部和周圍的磁通量絕對值。微型場感應電子設備的掃描，如霍爾探測器或超導量子干涉設備，是在小眾應用領域的進一步選擇。如果您對磁學測量相關產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-150.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研 ...

布里-帕姆羅干涉和定制磁光克爾效應。如果您對磁學測量相關產品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-150.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等服務。您可以通過我們昊量光電的官方網站www.champaign.com.cn了解更多 ...

帶光源和白光干涉技術，在入射臂采用掃描干涉儀，通過掃描參考鏡獲得傅里葉光譜實現光譜測量，光源的光譜分布是中心波長為610nm和半峰全寬為170 nm。該技術較大地拓寬了光譜帶寬，增強了光強，測量結果更加準確。橢偏儀大多采用透鏡將寬帶光束聚集在樣品表面，然而透射式光學系統設計無法滿足寬光譜的測量要求，在深紫外情況下會產生明顯的色差問題。直到 2013 年，電子科技大學物理電子學院和中科院微電子所改變聚焦成像系統，研制了基于全反射聚焦光學系統的深紫外（DUV）寬帶光譜橢偏儀。該橢偏儀采用基于離軸拋物面鏡和平面反射鏡的全反射式光學系統實現寬光譜（200-1000 nm）測量，離軸拋物面鏡用于產生或聚 ...

光纖)色散的干涉測量方法。脈沖重疊的同步控制允許條紋的zui佳可見性，導致非常高分辨率的色散測量。干涉儀實驗布局如下：1.超連續源SCT10002.光纖寬帶耦合器50/503.自由空間長度可調臂。4.參考標準光纖5.光子器件表征6.光譜分析儀7.快速示波器“使用脈沖激光器的主要優點是，通過同步控制脈沖重疊，在全VIS-NIR范圍內獲得條紋的zui佳可見度，分辨率低于1nm。”除了脈沖重疊的優點外，使用SCT1000脈沖超連續源進行干涉測量還有更多的好處。zui直接的是光譜寬度。使用LED需要一個漫長而繁瑣的過程，因為每次更換光源時系統都必須重新調整。此外，有些波段是完全無法進入的。這意味著沿不 ...

古.連續偏光干涉法測量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術,2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學學報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測量新方法[J].光學學報,1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國華.半陰法測量λ/4波 ...

Sagnac干涉儀，工作在670 nm波長。與傳統的偏振分析相比，Sagnac干涉儀對雙折射或地形效應等互反效應不敏感。這些影響通常會導致Kerr-SNOM圖像中的偽影。為了測試新的可變溫度UHV-Sagnac-SNOM的性能，人們使用了一小塊垂直磁化和大Kerr旋轉(紅光約0.41)的TbFeCo磁光(MO)盤。表面輪廓由1毫米寬的軌道組成，由0.6毫米寬和100毫米深的凹槽分隔。沿著磁道，等間距的磁位與相反的磁化被熱磁寫入。圖2圖2(a)和(b)顯示了MO盤的Sagnac-SNOM圖像以及同時記錄的地形圖像。在地形圖像中可以清晰地檢測到軌跡和凹槽，這表明在目前的設置下，尖端到樣本的距離控制 ...