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A或者EOB激子吸收峰)、EOC/EOD和E1A激子吸收峰；360s出現(xiàn)的前兩個能量為EOA/EOB激子吸收峰，后兩個能量分別為EOC/EOD和E1A激子吸收峰；540s前兩個能量分別為EOC/EOD和E1A激子吸收峰，后兩個能量可能是E1B激子吸收峰，同時也可能是E2能級上的電子躍遷吸收峰；720s第1個能量為EOC/EOD激子吸收峰，中間兩個為E1A激子吸收峰，zui后一個能量超過在16eV，可引發(fā)E0、E1及E2能帶的躍遷，具體屬于哪個激子吸收峰有待進(jìn)一步驗(yàn)證；900s時的三個中心能量分別為EOC/EOD、E1A和E1B激子吸收峰；1080s的四個中心能量分別屬于EODA、EOC、EOD ...
橢偏儀在位表征電化學(xué)沉積的系統(tǒng)搭建（二十九）- 能級壽命和電導(dǎo)率能級壽命和電阻率及電導(dǎo)率有如下關(guān)系式，Γ=?γ，能級壽命=1/γ，電阻率ρ=γ/而電導(dǎo)率=1/ρ，通過求得的電阻率就可得到電導(dǎo)率。前面擬合已經(jīng)得到的Drude中的等離子體頻率(wp)、阻尼頻率(Γ)及LorentzOscillator參數(shù)：振幅(A)、中心能量(E)、展寬能量(Γ)和光學(xué)常數(shù)：n，k，，，如表4-2所示。把相應(yīng)的參數(shù)帶入上述公式計(jì)算得到CU2O沉積薄膜的能級壽命和電導(dǎo)率如圖4-15和圖4-16所示。圖4-15是不同沉積時間下對應(yīng)的CU2O沉積薄膜的能級壽命，可以看到能級壽命在10-16-10-14s數(shù)量級之間。對于 ...
1A和E1B激子吸收峰，其能級壽命在10-16-10-14s。擬合計(jì)算得到的電導(dǎo)率在104S/m數(shù)量級。zui后，對沉積厚度分析知，沉積速率會隨著時間會變化。CU2O薄膜沉積的生長方式可能是層狀生長和島狀生長。當(dāng)為層狀生長時算出平均沉積速率為0.34±0.05nm/s，與之前假設(shè)的庫倫效率比，層狀生長的庫倫轉(zhuǎn)換效率為36%。但是層狀擬合曲線和擬合得到的厚度差別大，用非線性擬合得到了比較好的結(jié)果，此時沉積厚度隨時間的變化關(guān)系式d=0.005t0.72nm/s，平均庫倫轉(zhuǎn)換效率為50%。故而又對180s和360s得到的橢偏數(shù)據(jù)以島狀生長方式用EMA模型進(jìn)行擬合，得到了不同的形狀因子與覆蓋率。了解更 ...
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