、在位傅里葉紅外光譜儀法、石英晶振儀法、質譜儀法、在位橢偏儀法。電化學在位拉曼光譜法，其原理是通過介質分子對入射光發出頻率的有明顯變化的散射現象，用單色入射光（圓偏振光與線偏振光)來激發由電極電位控制的電極表面，然后測定出散射得到的光譜信號，如頻率、強度及偏振性能變化與電極的電位或者電流強度的變化關系。在位傅里葉紅外光譜儀法(FTIRS)是由Bewick等人在20世紀80年代早期首創的。在位傅里葉變換紅外光譜儀可以獲取電極上中性和離子吸附物的分子信息，以及參與電化學反應的溶液種類。大量的研究已將在位FTIRS由光滑的表面向粗糙的表面擴展，由靜態條件向動態條件擴展，由水相系統向非水相系統擴展。利 ...
行介紹。對中紅外光譜非常感興趣的度量是在標準測量時間尺度上的時間間隔上發射體誘導的光譜波動。從這個角度來看，零吸光度線提供了一個洞察這一性質。在相同的條件下，在光路和系統不發生變化的情況下，計算了兩個連續測量光譜的比爾吸光度。因此，它們可以用來評估不同發射器的噪聲，因為它們顯示出波數相關的不穩定性。我們在沒有插入樣品的情況下進行了這些測量。使用中性密度過濾器和不同孔徑尺寸，人為地將強度縮放到可比較的水平。因此，結果并不代表絕對信噪比的優點:例如，通過增加光譜測量的路徑長度，熱源的信號可以被強烈或完全抑制，而超連續波仍然可以有效穿透。各種zui先jin的基于激光的中紅外光譜方法的光譜噪聲定量評估 ...
。傅里葉變換紅外光譜(FTIR)通常用于生物化學物質的分析，以確定分析信息。但是，由于MIR中吸水性強，通常不能使用長度超過10-20μm的比皿，較窄的比皿容易被真實樣品堵塞。利用衰減全反射(ATR)光譜與FTIR相結合的方法克服了這一問題。然而，傳統ATR元件中的離散反射次數受到嚴重限制，而使用光波導(本質上是更薄的ATR元件)大大增加了單位長度的有效反射次數，從而在單模波導中沿波導表面實現了連續的倏逝波，顯著提高了器件在給定長度和樣品體積下的靈敏度。MIR倏逝場吸收光譜對大范圍的化合物具有高選擇性，并且比其他傳統技術需要更少的樣本量。目前的微加工技術使得光學芯片可以批量生產，因此成本低廉， ...
表面痕量化學物質的中紅外反射特征檢測方法包含主動MIR高光譜成像(HSI)，包括使用波長可調激光器與高速相機相結合，以捕獲目標表面反射光譜的高光譜圖像(即超立方體)。分析這些超立方體的光譜特征，以表明感興趣的化學物質的存在。該技術的一個非常重要的應用是痕量爆炸物的探測。圖1MIR HSI方法涉及使用外腔量子級聯(ec - qcl)進行激光照明。圖1顯示了測量裝置的照片，其中樣品在近距離(8厘米的距離)測量，以實現70 um的高空間分辨率。使用兩個Block的Mini-QCLTM ec - qcl在波長范圍為7.7 - 11.8 um的范圍內捕獲了一個256波長的復合超立方體。激光束在目標上進行 ...
量為了在中遠紅外光譜區域達到所需的反射率，靜止和移動的鏡子都需要涂上大量的金屬，特別是金(Au)。過去，在氫氟酸(HF)中釋放之前和之后，確定了典型晶圓級鏡面金屬化的兩個主要技術挑戰:(1)由于與必要的粘附促進劑相關的額外殘余應力，鏡面曲率大幅增加;(2)電子電偶腐蝕，在HF水中，金和多晶硅之間的電極電位差導致多晶硅鏡面優先腐蝕，從而產生顯著的結構不穩定和晶粒結構擴大。圖1為了應對這些挑戰，ChemPen?開發了一種可替代的釋放后金屬化技術，該技術消除了高壓粘附層的使用，進一步為電子電偶腐蝕提供了基本解決方案。使用定制的陰影掩模組件實現精確對準的批量金屬化，該組件允許通過運動耦合在頂部陰影掩模 ...
利用波長可調量子級聯激光器對痕量化學物質表面進行高速和大面積掃描如圖1所示，波長可調的MIR激光器照亮感興趣的目標，反射光被相機捕獲。隨著激光波長的調整，相機同步捕捉反射光的圖像。對原始超立方體進行處理以校正背景熱輻射和照明激光束的強度模式，以生成代表目標表面反射率的超立方體。然后對反射超立方體進行分析，并與光譜特征參考庫進行比較，以生成檢測圖，該檢測圖可以識別目標表面上的任何化學污染并繪制空間圖。如圖所示，也可以檢測到可能存在于光束路徑中的氣體的存在。圖1圖2外腔量子級聯激光器(ec - qcl)用于對目標的照明。這些都是基于Block Engineering的Mini-QCL?，如圖2所示 ...
子的信息。與紅外光譜(IR)類似，該信息可用于研究材料在不同聚集狀態(固體、液體或氣體)下的化學或生物指紋。然而，波段強度和選擇規則是兩種振動光譜技術之間的重要區別。在紅外光譜中，分子極化度的躍遷從激發波長轉移，而紅外光譜則與過渡偶極矩有關。RS通常使用單色激發光源(激光)，而IR則可以使用更寬的激發光源(LED或鹵素燈)。RS相對于IR的基本優勢是，它可以用于研究液體或潮濕樣品，而不會受到水響應的強烈干擾。如果樣品中水的濃度較低，這兩種技術通常是互補的。總的來說，任何分析技術的適用性也取決于樣品本身的性質，因為固體材料、液體中的顆粒和液體中的液滴/氣泡的光學散射效率各不相同，例如，這可能導致 ...
用傅里葉變換紅外光譜儀與冷卻的HgCdTe探測器。在相同的條件下，測量了閾值以上的激光光譜。低占空比確保測量結果不受熱效應的影響，如熱調諧。圖2圖2a顯示了在室溫295 K下臺面的電致發光值作為每級電壓的函數。如果有必要，可以用對原始數據擬合多個洛倫茲峰來確定EL的峰波數激光從閾值到功率翻轉點的光譜如圖所示。為了確定激光光譜的調諧趨勢，我們在峰值強度的10%高度測量了兩側的波數，并提取了激光波數的中點值，該方法的有效性將在后面討論。圖3顯示了EL峰值和激光波數，它們是每級電壓的函數。EL的調諧速率為700 cm?1 /V，與自一致Schr?dinger-Poisson求解器的計算結果吻合良好， ...
用傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）在80k下測量激光光譜。具有較低閾值電流密度的器件在脈沖模式（100 ns脈沖寬度，80 kHz重復率）和連續波（CW）模式下均表現為單模工作。圖2(a)的頂板顯示了500 um、總腔長（l1 + L2 + Lridge）為3.45 mm的激光的亞閾值放大自發發射光譜。光譜包絡線的周期性為7cm-1，對應于AMZ干涉儀的透射光譜周期。亞閾值光譜中非常強模式對應的模式發生激光，對應2073 cm-1，如圖2(a)底部面板所示。在相同的脈沖電流下，典型的分離觸點AMZ QC激光器的脈沖光電流-電壓（LIV）特性（如圖2(b)所示）表明，該器件的閾值電流密度（1.6 ...
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