為0.65的物鏡將兩束光束共線聚焦在樣品上。在孔徑為20 μm的共焦平面上，測量了探頭和泵浦光束的光斑直徑d。dprobe≤300 nm, dpump≈400 nm。用交叉偏振片技術分析共焦平面后探頭的極性克爾旋轉。交叉分析儀的消光比<5x10-4。利用光電倍增管和鎖相檢測方案檢測弱泵浦探頭Kerr信號，該方案可用于可調至1ns的不同泵浦探頭延遲。測量是在垂直于樣品平面的外加磁場的相反方向下進行的。(?H0?≤4kOe)。在進行動態測量之前，確定靜態克爾信號IKerr(α)為分析角α的函數，α = 0對應于交叉分析器，用于兩個方向±H0的應用領域。先前已經表明，相關的位移拋物線允許檢索磁 ...

標準的顯微鏡物鏡與一個數值孔徑0.65的40倍物鏡。嘗試使用反射物鏡來zui小化探測脈沖的群速度色散，然而它惡化了探針束的偏振狀態，否則探針束在整個顯微鏡中保持偏振消光比為0.0005。聚焦光斑的直徑分別為300 nm和600 nm。反射的探針光束被分束器收集，聚焦在直徑為20 um的針孔上。對于某些示例，這種共聚焦配置可用于消除來自樣品襯底的背景散射光。在針孔之后，用一個偏振器來分析探測光束的克爾旋轉，該偏振器相對于入射光束的交叉偏振方向的角度為幾度(交叉偏振器技術)然后用光電倍增管和鎖定檢測方案進行檢測。垂直于樣品平面施加zui大振幅為±4kOe的可變靜態磁場H。樣品可以用XY壓電掃描臺在 ...

光穿過顯微鏡物鏡，然后聚焦在位于高增益光電探測器前面的針孔上。這個共聚焦孔阻擋了任何不是來自激光束腰的xyz位置的光。通過掃描束腰和/或移動樣品，可以獲得水平或垂直的圖像切片甚至整個圖像立方體，并且可以在多個深度捕獲熒光。多光子顯微鏡是一種利用大數值孔徑光學聚焦超快激光的相關技術。激光波長設置為目標熒光團常規激發所需波長的兩倍。在且僅在束腰處，聚焦的峰值光強超過雙光子激發的閾值。這提供了固有的3D分辨率，并消除了對有損耗的共聚焦孔的需要。然而，這兩種技術都受到實際成像中的需要取舍的負面影響，例如以捕獲代謝過程所需的幀率在組織內部進行更深層次成像的能力。此外，由于顯微鏡光學器件的像差，或者更隱蔽 ...

所示。光源與物鏡的后焦平面位于共軛孔徑平面(AP)內。此外，還存在幾個共軛像面(IP)，其中zui重要的是場膜和磁樣品。為了獲得zui佳的磁成像結果，纖維在三個軸上的位置的正確排列是zui重要的。不同物鏡的后焦平面可能變化的位置通過沿成像軸改變光纖輸出或通過在照明路徑中應用可調聚光鏡來補償。由于照明光纖輸出的直徑，試樣以如圖1b所示的窄入射角傳播照射，從而導致磁光靈敏度的良好定義條件。實際上，通過將光纖輸出定位在孔徑平面的不同離軸位置來實現所需靈敏度模式的設置。應該注意的是，對于高數值孔徑和高放大倍率物鏡，會發生去偏振效應，導致背景強度增加。這略微降低了信噪比，并對zui佳分析儀設置產生影響， ...

光學元件，如物鏡，可以在磁場存在的情況下引起法拉第旋轉，這種旋轉會疊加在由樣品磁性引起的任何光旋轉上。如果您對磁學測量有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-150.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等服務。您可以通過我們昊量 ...

實現的。由于物鏡的傾斜，只有一小片樣品被聚焦，該區域由光學系統的景深確定。磁性試樣的過焦和過焦可以通過使物鏡遠離照明軸傾斜從而在相機傳感器處獲得聚焦圖像的方式來克服。因此，所得到的樣品圖像，然后由于本質上不同的放大系數在顯微鏡的視野扭曲。這一問題可以通過實時成像處理來糾正圖像透視失真來消除。通過使用遠心鏡頭和Scheimpflug相機支架，可以實現整個視場的恒定放大率和恒定焦距。一個優化的遠心克爾顯微鏡系統的原理草圖如圖1a所示。即使在觀測軸強烈傾斜的情況下，也能獲得零畸變磁圖像。得到的域圖像仍然被垂直于光入射平面的壓縮，并且需要進行線性運算以獲得均衡的圖像映射。典型的應用來自磁電復合懸臂式傳 ...

由于顯微鏡的物鏡必須放置在離樣品表面非常近的地方(高倍率透鏡的距離在幾百微米之間，低倍率物鏡的距離在幾毫米之間)，施加的磁場可能會誘發寄生法拉第效應，這種效應疊加在由樣品磁性引起的任何光旋轉上[見圖1(b)]。這種效應對于沿物鏡軸施加的磁場是重要的，但是從樣品中出現的不均勻的面內場或雜散場也可能在透鏡中產生法拉第旋轉這樣的貢獻可能會降低域圖像的質量，導致對實驗數據的誤解，或給矢量克爾顯微鏡帶來實質性的錯誤。法拉第效應zui嚴重的影響發生在克爾顯微鏡中，通過繪制圖像的整個或局部選定區域的強度作為磁場的函數(MOKE磁強計)來測量MOKE磁化回路。高度扭曲的循環可能會出現，如下面的各種例子所示。基 ...

使用100倍物鏡沿光學z軸在不同平面拍攝的暗場圖像。焦平面位于（a）玻璃基底表面（S點）或（b）人類乳腺癌細胞的頂部表面或細胞內部（C點）[1]。與華盛頓大學的David Ginger教授合作，使用Photon etc.公司的高光譜暗場成像儀對100納米的AuNPs進行了研究。從432nm到849nm以3nm的步長獲取了散射數據。圖2（a）和（b）顯示了高光譜結果和從數據中提取的典型散射光譜（c）。波長的變化有助于確定顆粒的大小，空間信息有助于評估顆粒的分布。圖2、（a）從高光譜數據中提取的576nm暗場圖像；（b）放大了提取光譜的區域；（c）提取的散射光譜。二、使用IMA獲得的結果在蒙特利爾 ...

）。在顯微鏡物鏡下的整個視場被激發，同時收集來自百萬個點的PL信號。圖2（a）和（b）顯示了CIGS微電池的PL和EL圖像。通過結合其光譜分辨的PL和EL圖以及光度絕對校準方法，研究人員可以使用廣義普朗克定律來提取與電池zui大電壓直接相關的準費米能級分裂（Δμeff）（見圖1（c）和（d））。借助太陽能電池和LED之間的互易關系，可以從EL圖像中推導出外部量子效率（EQE）。在樣品的整個表面上獲得微米級的基本特性有助于改進制造工藝，從而達到更高的電池效率。圖2.（a）集成PL發射和（b）集成EL發射的高光譜圖像。使用廣義普朗克定律，可以推導出（c）和（d）Δμeff映射。改編自[3]。了解更 ...

導磁鐵)內的物鏡。然后，從樣品(S)反射的光束通過圓偏振收集光學元件(QWP和LP)，用長通濾光片(LPass)過濾，然后聚焦到光纖上，該光纖通向帶有CCD相機(Andor)的750毫米光譜儀。采用可調諧連續波光源進行光激發。圖1.a)是極化PL設置。在輸入端和輸出端分別加一個短通(SPass)和長通(LPass)來降低泵浦激光噪聲。在收集方面，光纖可以通向光譜儀或單光子計數器。泵浦探針時間分辨裝置b)有一個FM(翻轉鏡)，可用于在TR(光電二極管)和TRKR(平衡光電二極管)測量之間切換。S是樣本的縮寫。所有的時間分辨測量都是在Quantum Design的OptiCool的測試版中完成的( ...