反射式望遠鏡物鏡一般說,望遠鏡物鏡的視場較小,例如大地測量儀器中的望遠鏡,視場僅 1~2度;天文望遠鏡的視場則是以分計的;而一般低倍率的觀察用望遠鏡,視場也只在10 度以下。但物鏡的焦距和相對孔徑相對較大,這是為保證分辨率和主觀亮度所必需的,可認為是長焦距、小視場中等孔徑系統。因此,望遠鏡物鏡只需對軸上點校正色差、球差和對近軸點校正彗差,軸外像差可不予考慮,其結構相對比較簡單,一般有折射式望遠鏡物鏡、反射式望遠鏡物鏡、折反射式望遠鏡物鏡,這篇文章主要介紹反射式與折反射式望遠鏡物鏡。一、反射式望遠鏡物鏡反射式物鏡主要用于天文望遠鏡中,因天文望遠鏡需要很大的口徑,而大口徑的折射物鏡無論在材料的熔制 ...
顯微鏡的物鏡物鏡是顯微鏡光學系統的主要組成部分,其主要性能參數是數值孔徑和倍率。為了分辨物體的細微結構并確保zui佳成像質量,除一定要在設計該物鏡時所規定的機械筒長下使用外,還應有盡可能大的數值孔徑,且其放大率須與數值孔徑相適應。但是顯微物鏡在提高其數值孔徑時,首先碰到的是校正高ji像差的困難,結構簡單的物鏡無法解決這一問題。這就決定了顯微物鏡將有相當復雜的結構型式。顯微物鏡有折射式、反射式和折反射式三類,但絕大多數實用的物鏡是折射式的。折射式顯微物鏡又可根據質量要求的不同而有不同的類型。一、消色差物鏡這是應用zui廣泛的一類物鏡,一般只要對軸上點校正好色差和球差,并使之滿足正弦條件而達到對近 ...
統,(如望遠物鏡、顯微物鏡)的實際分辨率幾乎只與入瞳直徑或數值孔徑有關,受像差影響很小,所以分辨率不適宜用來評價高質量的小像差系統的像差。對于大像差系統,分辨率作為的像質指標有時也不甚適宜。因為像差主要導致能量分散,直接影響線條的清晰度,對分辨率的影響則并不顯著。因分辨率與成像清晰度之間并無必然的聯系。此外,實際檢驗條件常與瑞利原始條件不符,使瑞利規定的分辨率不能很好地反映光學系統的質量。首先,各種光能接收器分辨亮度對比度的能力有差別,如人眼在照度良好、界線清楚的情況下能分辨1∶0.95的亮度差別;其次,瑞利的規定是對兩個相等亮度的自身發光點而言的,并且除兩個發光點外是沒有背景亮度的,這也往往 ...
,特別是照相物鏡等大像差系統的設計,具有重要的實用意義。3.如果不用挑選玻璃,而用改變曲率半徑的方法校正色差也甚為方便。一般改變最后一面的半徑。對一個由N個透鏡組成的系統,若要求波色差為。在求得 N-1塊透鏡的(D-d)dn之后,根據上面的公式,即可算出最后一塊透鏡色差,進而求出光線在最后一透鏡中的光路長度隨之,光線在最后一面上的矢高和高度即可求出,有然后可按之前的公式求出最后一面的半徑。因此,只需根據中間色光的邊緣光線對k-1個折射面所作的光路計算結果,就可直接求得消色差的最后一面的半徑。在光學系統尚有微量的色差需要校正時,這是常用的方法。D-d法也能方便地用來表征二級光譜。如系統已對F光和 ...
描頭被放置在物鏡前。在本案例中,使用了一對振鏡(GVS 102, Thorlabs)。物鏡/冷凝器、檢測器和數據采集在掃描頭之后,光束被引導到物鏡上,在樣品上形成一個緊密聚焦的點。為了建立相干拉曼散射的相位匹配條件,可以使用高數值孔徑(NA)的水浸或油浸物鏡。然后,光在前向被收集并重新聚焦到光電探測器上。為了確保收集效率,建議使用油浸式物鏡。在本案例中,使用了一個60X 1.2 NA的水浸式物鏡(UPLSASP 60XW,奧林巴斯)。一旦光線被聚光器收集,在經過光學過濾器阻擋調制光束后,它就被重新聚焦到光電二極管上。來自光電二極管的信號然后被送到鎖相放大器(根據光電二極管的配置,可能需要一個前 ...
OE放置在與物鏡和檢鏡后孔徑共軛的平面上(圖1A)。這個元件在光程中被望遠鏡跟隨,這是確保從DOE出現的小束也在檢鏡處重新連接在一起所必需的,允許每個單獨的小束保持準直,并微調-小束傳播的角度。當使用偶數量的波束時,我們通過機械阻塞消除了零級波束。雖然從DOE發射出的每個小束都與射入DOE上的激光束的直徑相同,但隨后的望遠鏡產生了一個副作用,即每個小束的大小與望遠鏡的功率成正比。因此,我們用另一臺望遠鏡預先縮小或預先擴大入射激光。由于我們的系統已經在光路的早期使用了望遠鏡,使光束通過針孔(一個空間濾波器,確保光束截面輪廓的圓度;圖1B,元素3),我們利用同樣的望遠鏡,通過簡單地改變該望遠鏡的焦 ...
以由高倍顯微物鏡聚焦在樣品表面形成微米直徑的光斑,從而實現微米級分辨率的加熱和溫度探測,因此該方法較大地放寬了對樣品尺寸的限制。另外基于熱反射法的實驗可建立多層結構的三維各向異性傳熱模型,因此該方法不再局限于測量特定厚度的懸空薄膜材料,還可同時測量有襯底的薄膜材料以及塊體材料。圖1:傳統FDTR光路示意圖(其中泵浦光波長488nm,探測光波長532nm,泵浦光通過EOM進行調制)[1]TDTR是一種使用超快脈沖激光器的非接觸式熱導測量技術。由一束泵浦脈沖激光聚焦照射至樣品表面,樣品對其吸收會導致樣品表面的溫度偏移。而探測光脈沖相對于泵浦脈沖具有固定的延遲時間,而且該延遲時間是由機械平移臺控制, ...
使用60X油物鏡收集的。使用specim高光譜相機和CytoViva專有數據采集軟件對細胞進行線掃描成像。一個自動顯微鏡平臺將樣本圖像移動到與specim sCMOS相機集成的specim V10E分光鏡的狹縫中,創建一個高光譜數據立方體。圖2是右上角一個單元格的放大圖像。這些圖像代表了CytoViva的EDF顯微鏡照明技術的能力,因為它們產生了嵌入細胞中的納米級實體的高信噪比圖像。圖1. 細胞中AuNPs的高光譜圖像圖2. 細胞中AuNPs的放大圖像圖3展示了該系統可采集和分析的光譜數據。白色曲線代表細胞,紅色曲線代表功能化納米顆粒獨特的光譜指紋。光譜指紋可以對樣品中的納米顆粒進行映射(見圖 ...
反射到顯微鏡物鏡內,形成疊加在深色背景上的明亮樣品圖像。這種深色背景能夠提供較高的對比度,并且輕松讓背景效果不佳的標本更加突出。下面是一些圖片示例。暗場顯微鏡x1000所見紅細胞暗場顯微鏡圖像——顯微水螨幼蟲的暗場圖像暗場顯微鏡圖像——有絲分裂蔥根尖暗場照明需要阻擋通常穿過樣品和環繞樣品周圍的大部分光線,僅允許傾斜光線照射在樣品上。暗場聚光鏡的頂部透鏡為球形凹面,其允許從頂部透鏡表面發射的光線形成一個倒置空心圓錐體,并將焦點集中在樣品平面上。在沒有樣品且聚光鏡數值孔徑大于物鏡的地方,傾斜光線會相互交叉并錯開物鏡,從而讓這些區域變暗。將標本(尤其是未染色且不吸收光線的標本)放在載玻片上時,傾斜光 ...
激波長反射到物鏡,物鏡將光束集中到標本上。從標本反 射的光集中在物鏡中,在其激發態通常具有比入射光更高的波長。通過二向色鏡,反射光通過發射濾光片并降低到發射波長。尚未在二向色鏡處停止的刺激光的殘留物在發射濾光片處被過濾掉。理想情況下,只有發射光撞擊顯微鏡內置的檢測器,并以相應的顏色可見。好的測量結果需要均勻的照明,尤其是當需要幾微米或幾毫米的大視野時。在不均勻照明的情況下,例如,可能發生待檢查分子的不均勻激活。結果:中心的分子比入射照明光束外圍的分子發出更強烈的熒光。如果周邊沒有與中心等同地照亮,則當單獨記錄的圖像網格稍后合并時,陰影繼續出現。因此,細胞和組織樣本等測量不能用于可靠的分析。這些 ...
或 投遞簡歷至: hr@auniontech.com