解釋
中文：原子力顯微鏡；英文：atomic force micro-scope / AFM的原理；中文：原子力顯微鏡；英文：atomic force micro-scope / AFM的定義；中文：原子力顯微鏡；英文：atomic force micro-scope / AFM是什么。
利用一端固定而另一端裝有納米級針尖的彈性微懸臂與樣品表面的原子之間產生極其微弱的相互作用（如機械接觸力、范德瓦耳斯力或靜電力等）引起的微懸臂梁的彎曲變形來檢測樣品表面形貌與物理特性的顯微鏡。屬于非光學顯微鏡。其成像模式分為接觸模式 （contact mode）、非接觸模式（non-contact mode）和輕敲模式（tapping mode）等。
