要么通過使用輻射轉移的大氣模型來進行校正，使用已知或者假定光譜的地面目標(經驗線校準，平場校正，黑暗物體減法)，或者兩者的結合。輻射傳輸模型（方程式）依賴于一組外部參數的正確輸入，主要用于衛星和機載數據，而地面目標、暗物體和平坦面場提供了一種更加簡單的方法。然而，這些方法需要足夠高的空間分辨來解決光譜均勻的參考目標亦或是對這些材料的光譜有一個合理的理解，因此主要用于低采集高度的無人機或機載數據。在過去的幾年中，萌生了利用高光譜傳感器進行地質應用的方法。安裝在三腳架上的設備可以用于快速獲取近垂直地質露頭的光譜和空間高度精確的數據，即表面儀器無法（或幾乎無法）觀測到的空間方向。近乎垂直的露頭可能包 ...

系列光譜光度輻射度計技術原理及介紹簡介美國Photo Researc公司成立于1941年，現地點位于紐約州羅徹斯特的North Syracuse（北錫拉丘茲），是一家專門致力于光度、色度、輻射度測量儀器研究、生產的公司；同時，PR也是一家生產光譜式亮度計的廠家，在各地擁有13個自己獨立的光學校準實驗室，溯源NIST標定標準；Aunion昊量光電作為Photo Research公司在國內的代理商，總部位于上海，在西安、成都分別建立辦事處，為國內客戶提供快捷的本地校準及維修服務。一、理論介紹PR-6系列和PR-7系列是真正意義上的的光譜輻射度計；通過物鏡或者其他光學配件有效收集光學輻射信號(光信號 ...

于材料的受激輻射產生的電子躍遷吸收帶，通過分析本征吸收的吸收帶我們可以從中挑選處合適的低損耗的窗口區，從而提高信號的傳輸效率。（2）非本征吸收損耗即雜質吸收，造成非本征吸收的原因可能是由于工藝的不完善引入的了新的雜質導致雜質的吸收損耗。其中對非本征吸收影響比較大有兩種：1. 過渡金屬離子Fe3+、Mn3+ 、Ni3+ 、Cu2+ 、Co2+ 、Cr3+等，這些過渡金屬離子在0.6um-1.6um波段范圍內光吸收能力較強，光纖制造過程中，過渡金屬離子的數量應減少到十億分之一以下，這樣可以將損耗控制1dB/km以下。2. 氫氧根離子（OH-），水分子中解析出來的OH-振動吸收導致信號衰減并呈現出三 ...

，靜電、紫外輻射……諸多方面都進行了測試。- 極高的響應速度：每秒顯示二進制圖片幀數達5萬次。在實時控制模式下，從圖形數據讀取到顯示的時延小于1500μs；- 超長的設計壽命：鉸鏈的設計使用壽命超過120000小時，鉸鏈偏轉超1012次。- 高品質的顯示：可以提供1670萬種顏色，256灰度等級的圖像顯示，保真度高，色彩細膩。在幾微米的尺寸上，集成了鋁制微鏡、鉸鏈、彈性墊片、CMOS存儲單元。數以百萬的微鏡，做到沒有缺陷，在數字信號的控制下，以極快的速度做到協調統一。這些特點的綜合，造就了DMD芯片卓越的品質和穩定性。讓DMD在響應速度、調制精度、使用壽命、成像亮度、均一性等諸多方面，其他任何 ...

-8s），以輻射光的形式釋放能量后，回到原來的能態。這時發出的光即為熒光（fluorescence），其波長比激發光的波長要長，原理如圖2-6所示。利用物質對光吸收的高度選擇性，可制成各種濾片，吸收一定波長范圍的光或允許特定波長的光通過，用來激發不同的熒光素，產生不同顏色的熒光。對于熒光的激發波長一般都在紫外和可見波段，而對于熒光的發射波段一般都在可見光波段觀察熒光一般都采用落射熒光觀察方式，就是激發光是由顯微物鏡照射到樣品上，而不是大家常見的在樣品下方進行透射照明的方式，當然也存在一些使用透射熒光的觀察方式，但是一般來說熒光的發射光是在樣品360度方向都有發射光，而且發射光的強度只有激發光強 ...

，因此與寬場輻射熒光相比，可以較大限度地減少光損傷并提供改善信噪比的光學切片。此外由于圖像是以寬場（2D平行）方式收集的，因此光片成像比一次僅檢測一個像素的點掃描共聚焦顯微鏡快得多。由于三個關鍵特性，光片熒光顯微鏡正成為體積成像較流行的技術之一：1.激發點被限制在焦平面附近，光損傷被Z小化，生物可以存活更長的時間；2.容易獲得良好的光學切片，通常接近共聚焦顯微鏡；3.采集速度非常快，比傳統的共聚焦顯微鏡快幾個數量級。從本質上講，光片顯微鏡通常基于熒光技術，一般來說，研究中的樣品需要正確標記才能成像。使用彈性散射光可以生成未標記樣本的圖像，但目前主要的障礙是這些圖像通常受到散斑的影響。為了解決這 ...

:YAG激光輻射的吸收更高，并且與二氧化碳激光器對組織汽化相比，Er:YAG是更為高效的熱機械燒蝕機制。這一點以及像面上更多的平頂光解釋了使用二極管泵浦Er:YAG激光器時缺乏碳化現象的原因，這被認為有利于更好的傷口愈合。觀察到的切割深度隨切割速度的增加而下降(圖3)可以解釋為每個位置的照射時間減少，因此接收到激光能量減少。隨著切割速度的增加，每個位置外加能量的減少導致熱損傷寬度的減小。眾所周知，在激光平均功率恒定的情況下，隨著脈沖重復頻率的增加，切割深度減小，熱損傷增大。這可以解釋為，隨著重復頻率的增加，每個位置的脈沖數量增加。每個脈沖都必須將達到消融閾值的能量引入到組織中，這導致隨著脈沖數 ...

發態進行自發輻射發出熒光，因此激發態是亮態，STED中采用熒光分子的基態作為暗態。強制使得熒光分子處于暗態的機制采用受激輻射。當激發光光斑內的熒光分子吸收了激發光處于激發態后，用另一束STED光束照射樣品，使損耗光斑范圍內的分子以受激輻射的方式回到基態，從而失去發射熒光的能力。即熒光萃滅。這個過程就叫做受激發射損耗。只有損耗光強為零或較低的區域內的熒光分子能夠以自發輻射的形式回到激態發出熒光，這樣就實現了有效發光面積的減小。為了實現上述目的，損耗光聚焦后的光斑需要滿足邊緣光強較大，而中心趨于零的條件，一般采用的是環形的空心光斑，如圖2所示。圖2. 激發光斑（a），渦旋光（b），強度分布的線掃描 ...

地提高弱拉曼輻射的收集效率;(ii)阻止強瑞利輻射進入探測單元。這些目標是通過聚焦透鏡、分束器和長通濾波器實現的。來自激光二極管的準直光通過分束器和聚焦透鏡(L1)定向到樣品。分束器的作用是將激發光路與收集光路分開。我們沒有使用專門設計的分束器，而是使用了一塊正方形的顯微鏡切片(25 mm × 25 mm × 1 mm)，當與激發光路保持45°時，反射/透射比為30:70。后向散射輻射由同一個透鏡(L1)收集，該光束的一部分直接通過分束器，通過第②聚焦透鏡(L2)聚焦在分光光度計的入口狹縫上。瑞利散射光被擋住了，在分束器和L2透鏡之間使用截止波長為550 nm的長通濾波器。探測器使用的探測器是 ...

模型假設基波輻射與非線性信號的理想耦合，這意味著在脈沖帶寬上有完美的相位匹配。對于寬帶少周期脈沖，通常不是這樣[31,32]，必須包含響應函數R(ω)(可能不僅包含有限相位匹配的影響，還包含技術參數，例如光譜儀響應函數)以適應不規則的光譜響應。圖1(a)給出了中心波長為800 nm的理想10 fs-FWHM(z大半高全寬)高斯脈沖的二次諧波d-scan跡線。在這個模擬中，根據塞米爾方程計算了BK7玻璃的折射率，BK7玻璃是可見光和近紅外光譜范圍內d-scan玻璃楔的常用材料。在圖1(b-d)中，我們在譜相位的泰勒展開中加入數值上不同的色散階數，即群延遲色散(GDD)、三階相位色散(TOD)和四 ...