種類型的光學像差,他們強烈的影響著推掃式高光譜相機的準確性和實用性。smile是一種光譜畸變,主要是光譜儀的特性,而keystone是一種空間畸變,主要是前方物鏡的特性。下面的圖1說明了這一點:圖1:推掃式高光譜傳感器上的Smile和keystone來源:www.yokoya1985.sakura.ne.jSmile如圖1所示,Smile可以看作是傳感器在整個視場(FOV)上的光譜位移。如果用戶在其整個視場上對一個均勻的目標成像,在視場中央和邊緣位置測量的光譜會有偏移。這在排序應用中,可能會產(chǎn)生很大的影響。例如,如果一個排序模型是由“圖像”中間的數(shù)據(jù)建立的(例如:在傳送帶中間),則則在其他位置 ...
于表征和校正像差的算法都基于Zernike多項式。然而,對圓形孔徑的依賴不適用于描述正方形或矩形陣列的像差。美國Meadowlark Optics公司已經(jīng)開發(fā)了基于SLM的干涉子孔徑的替代方案,以確保SLM的有效通關區(qū)域上的像差可以被校正到λ/ 40或更好。如下圖所示, 矯正后的MLO空間光調(diào)制器波前像差(波前畸變)變得很低。a)原始的1920 x 1200像素SLM波前(λ/ 7 RMS)(b)應用了像差校正的波前(λ/ 20 RMS)(c)未應用校正的像差曲面圖。 (d)應用校正后的像差曲面圖。上海昊量光電設備有限公司可以提供1920x1200分辨率的標準款純相位液晶空間光調(diào)制器和1024 ...
正彗差,軸外像差可不予考慮,其結構相對比較簡單,一般有折射式望遠鏡物鏡、反射式望遠鏡物鏡、折反射式望遠鏡物鏡,這篇文章主要介紹反射式與折反射式望遠鏡物鏡。一、反射式望遠鏡物鏡反射式物鏡主要用于天文望遠鏡中,因天文望遠鏡需要很大的口徑,而大口徑的折射物鏡無論在材料的熔制、透鏡的加工和安裝上都很困難。因此,口徑大于1米時都用反射式。反射式物鏡完全沒有色差,可用于很寬的波段。但反射面的加工要求要較折射面高得多,表面的局部誤差和變形對像質的影響也大。比較有名的反射式物鏡是雙反射面系統(tǒng),它有如下二種型式:1.卡塞格林系統(tǒng)如下圖1所示,稱主鏡的di一個大反射面是拋物面;稱副鏡的第二個小反射面是雙曲面。是主 ...
可以減少球面像差。其原因是對周邊入射光線的阻擋。如果沒有光圈,外圍增加的曲率和由此產(chǎn)生的更強的光線折射會促進球面像差的發(fā)展。多球面透鏡組合消色器是由一個或多個收集和分散透鏡組合而成的。通常使用一個低折射率的正凸透鏡和一個低折射率的負凹透鏡,并將其粘合在一起。這樣就形成了一個光學系統(tǒng),改善了球差和色差。例如,在攝影領域的攝影鏡頭中,就使用了消色差。非球面透鏡如果在一個光學裝置中必須考慮各種因素,如高圖像質量、數(shù)值孔徑或較大限度地節(jié)省空間,非球面是一個較好的選擇。非球面透鏡是旋轉對稱的光學器件,其曲率半徑在徑向上偏離透鏡的中心。由于這種特殊的表面幾何形狀,與球面透鏡相比,非球面可以顯著提高光學系統(tǒng) ...
是校正高ji像差的困難,結構簡單的物鏡無法解決這一問題。這就決定了顯微物鏡將有相當復雜的結構型式。顯微物鏡有折射式、反射式和折反射式三類,但絕大多數(shù)實用的物鏡是折射式的。折射式顯微物鏡又可根據(jù)質量要求的不同而有不同的類型。一、消色差物鏡這是應用zui廣泛的一類物鏡,一般只要對軸上點校正好色差和球差,并使之滿足正弦條件而達到對近軸點消彗差即可,因此只能用于中低檔的普及型顯微鏡中作一般觀察之用。下面幾種典型的消色差物鏡,由于其結構型式有利于帶球差的校正,仍為人們所廣泛采用。1)單組雙膠合低倍物鏡 見圖下圖1,這是可能實現(xiàn)上述像差要求的zui簡單結構,能承擔的zui大相對孔徑為1:3,因此數(shù)值孔徑只 ...
結構和出色的像差優(yōu)化,可以實現(xiàn)高NA和超大成像 FOV,顯著提高光學顯微鏡成像通量的特點而被人們熟知。介觀顯微物鏡可用于廣域成像系統(tǒng)、激光共焦掃描成像系統(tǒng)和雙光子成像等系統(tǒng),具有重要的研究意義。本文介紹了一種用D7點衍射激光干涉儀測量介觀顯微物鏡的檢測方案,具體方案如下圖所示:1.光源部分1. D7系統(tǒng)的光源為連續(xù)波(CW)單模(SLM)激光器:具有不同波長的相干性,覆蓋了激光器的工作光譜范圍包括:480 nm, 532 nm, 633 nm, 830 nm, 1030 nm。2. 激光器是光纖耦合的,可以通過光纖插入到D7主機插座上選擇單元。3. 所有的激光器都是永久插入,光源選擇可以從一種 ...
術提供關鍵波像差數(shù)據(jù),有助于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質量,推動行業(yè)的發(fā)展。在光刻機行業(yè)中,高精度的波前傳感器是關鍵組件之一。它可以實時監(jiān)測和校正光刻機光學系統(tǒng)中的誤差,從而提高光刻質量和成品率。這款新的紫外波前傳感器的推出,將進一步提升光刻機的性能,加速半導體行業(yè)的發(fā)展。波前傳感器原理介紹:193nm波前分析儀采用四波橫向剪切干涉技術,該技術是一種用于測量激光波前、光刻物鏡波像差,光學元器件面型表征的技術,其原理是測試光波經(jīng)過兩個正交(0、π)的相位光柵,獲得四個干涉光束,四束光兩兩干涉,通過測量這四個干涉光束的干涉后的光強分布來計算光波的相位分布。該技術采用0和π的二維光柵作為分光器件,利用該二維 ...
7°時和熱致像差的PV值小于 82nm時,其 對M2的影響小于5%,并且發(fā)現(xiàn)當光束通過衰減組件時,若發(fā)生退偏,將導致光束質量測量結果偏小。了解更多光束分析儀詳情,請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁:http://www.champaign.com.cn/three-level-44.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關于昊量光電:上海昊量光電設備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設備、光學元件等,涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設備安裝,培訓,硬件開發(fā),軟件開發(fā), ...
示了其他光學像差。底部的柱狀圖顯示了主要的低階澤尼克像差。根據(jù)強度圖和波前圖生成了超透鏡的點擴散函數(shù)(PSF),并計算了調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)(右下角的圖像和圖表)在圖4中,我們對一個PB金屬透鏡進行了測量。Phasics的SID4-HR波前傳感器的高動態(tài)范圍能夠同時捕捉主要波前曲率,并通過像差過濾顯示所需要的光學像差。該樣品表現(xiàn)出45度的散光作為主要的澤尼克光學像差。通過使用強度圖和波前圖,Phasics技術能夠實時計算超透鏡的點擴散函數(shù)(PSF)、二維光學傳遞函數(shù)(OTF)以及調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)。通過精確測量波前并將其與制造樣品的設計理論進行比較,Phasics能夠幫助表征制造過程,確 ...
果是與初始值像差還是非常遠的增加采樣數(shù)據(jù)點數(shù)將原有的信號從10個變成30個點同樣使用梯度算法,并且不斷增加系數(shù)的大小五個系數(shù)從zui初的變成可以看到他的確一邊壓制高階項,同時低階項目也越來越準確。了解更多詳情,請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁:http://www.champaign.com.cn/three-level-46.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關于昊量光電:上海昊量光電設備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設備、光學元件等,涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客 ...
或 投遞簡歷至: hr@auniontech.com