（五）-相位延遲量測量的實驗數據實驗中，在前述測試系統上用上述幾種方法測量了兩片樣品的位相延遲。兩測試樣品標稱值分別為：630.2nm附近的λ／2波片和532.4nm附近的λ／4波片。光譜掃描曲線見圖1，測量數據見表1、2。圖1 光譜法測630.2nm附近λ／2波片的掃描曲線前面誤差分析表明，光譜法測量λ／2波片的誤差zui小，因而可以作為參考標準，其它方法測量結果可以與之相比較。由測量結果可見，光譜法與Soleil補償器法測得結果的偏差約為0.19%，兩種方法在誤差范圍內符合很好，得到了相互印證。而兩種光強法的測量結果比照光譜法及Soleil補償器法測量結果差異較大。而且按照之前推導的公式無 ...

測量波片相位延遲量的原理波片是基于晶體雙折射性質的偏振器件，在光線技術、光學測量以及各種偏振光技術等領域具有廣泛的應用，其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中應用尤其廣泛。測量波片相位延遲量的方法主要有：光強探測法、旋光調制法、半陰法、光學補償法等。這些方法主要基于對光強的測量，容易受光源的不穩定及雜散光的干擾，精度受到一定的限制，測量誤差一般在0.5°左右。本文從理論上分析了利用橢偏儀測量波片相位延遲量的可能性，討論了其測量精度及誤差來源，并利用消光式橢偏儀測量了1／4波片以及1／2波片相位延遲量。實驗表明：測量過程不受光強波動的影響，方法簡單，操作方便，精確度高，測量波片相位延遲量精度達0 ...

- 波片相位延遲量測量誤差分析影響波片相位延遲量測量準確度的因素主要有：標準1／4波片的偏差及待測波片快軸與入射面夾角θ的誤差等，下面從公式(4)出發，討論兩者誤差對波片測量延遲量的影響：（一）當標準1／4波片和待測1／4波片的相位延遲量都是理想的90°時，得到δ與θ的關系如圖1所示，θ的變化范圍是-4°至＋4°。可見，當標準1／4波片和待測1／4波片在理想情況下，待測1／4波片的方位角θ不影響其相位延遲量測量。圖1當標準1／4波片理想時待測波片δ與其方位的角θ的關系(二）實際上，由于波片受溫度，及制作工藝的影響，其相位延遲量不可能是理想的90°。若待測1／4波片的相位延遲量為88.8°，標準 ...

即0對應相位延遲量為零，1對應相位延遲量為2pi。光柵制作單個光斑方法1：易于控制X和Y方向的周期數量 %% 光柵 % X和Y方向的斜面，取值范圍0-1 [x, y]= meshgrid(linspace(0, 1, 512)); % 光柵的數量 M = 3; N = 4; % 疊加光柵后，X方向周期為3，Y方向周期為4 z = M*x+N*y; z = mod(z, 1); imshow(z);方法2：對光柵偏轉的角度大小更加方便 %% 直接輸入偏轉角度，計算光柵 theta = pi/6; % X方向周期為cos(tehta) % Y方向周期為sin(theta) z = x/cos(th ...

1和2的相位延遲量；R(ε)為各光學元件的旋轉矩陣，其中ε可以表示入射面與雙旋轉補償器的快軸方向的夾角 C1、C2，也可以表示入射面和起偏器、檢偏器的透光軸方向的夾角P和A；Sin為入射光束的Stokes向量，為[1000]T。將上式展開，可得對應像素采集的光強信號表達式，利用Hadamard分析，可以從諧波系數中求出待測樣品對應像素處的Muller矩陣元素。2018年，韓國漢陽大學應用物理系研究出一種雙反射橢偏成像系統，對兩個樣品的偏振態變化進行比較，提供兩個樣品差異的非零圖像。該系統以一種樣品為基準，另一個為測試樣品，去除了調零過程，圖像獲取速率可以達到攝像機的zui高幀率，提高了測量速度 ...

對準或者測量延遲量和方位角。塞納蒙(Senarmont)法是一種傳統的應力分布測量方法。其優點是經濟，容易調準，即使使用低質量的波片也有很高的精度。下面是其光路圖：2.2塞納蒙法測量偏振器件之間的關系由穆勒矩陣和斯托克斯矢量給出，類似上面。zui終分析光強，即可得到延遲大小。當然，關于雙折射的應用還有很多，比如圓偏光器，光彈調制器法，光學外差法，用相移法的二維雙折射測量等等，此次不再介紹，可根據實際工程需求，進行了解。如果您對雙折射測量有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-54.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直 ...

量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術,2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學學報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測量新方法[J].光學學報,1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國華.半陰法測量λ/4波片的相位延遲[J]. ...

量波片寬波段延遲量變化[J].激光技術,2012,36(2):258-261.4趙振堂,林天夏,黃佐華,何振江.利用消光式橢偏儀精確測量波片相位延遲量[J].激光雜志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王東光.組合波片的橢圓率角測量方法[J].北京理工大學學報,2019,39(7):750-755.6于德洪,李國華,蘇美開,宋連科.任意波長云母波片位相延遲的測量[J].光電子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文東,李錫善.波片相位延遲量精密測量新方法[J].光學學報,1994,14(10):1096-1101.8薛慶文,李國華.半陰法測量λ/4波片的相位延遲[J]. ...

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得到180°延遲量；(b)Glan棱鏡應用于擴展光束光路中會導致消光比的損失；(c)Glan棱鏡的制造缺陷通常會帶來3～6分的光束偏離，若擴展光束光強分布不均勻(例如燈絲像分布)，那么在旋轉檢偏器的時候會出現嚴重的問題。由之前測量結果可見，此類誤差對旋轉檢偏器的方法測量會造成巨大的影響。綜合上述分析可見，實驗條件下各參量測量誤差及帶寬影響不是影響測量精度的主要因素，測量誤差主要來源于Glan棱鏡的光束偏離及其應用于擴展光束中的消光比損失等造成的影響。由此可見，光強法對光路及光學元件等要求較高，在本文所采用實驗系統中難以獲得較高的測量精度。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網頁：https: ...