梯度折射率透鏡（一）梯度折射率透鏡與普通透鏡不同，是一種非均勻介質(zhì)構(gòu)成的透鏡，在其內(nèi)部折射率是連續(xù)變化的。1815年英國(guó)物理學(xué)家Maxwell建立的魚眼透鏡理論是近代梯折光學(xué)的基礎(chǔ)。而光纖的問(wèn)世促進(jìn)了梯折光學(xué)理論的發(fā)展和梯度折射率材料的試制。1971年，英國(guó)光學(xué)家 D.T.Moore 設(shè)計(jì)了梯折單透鏡的成像光組，并計(jì)算出它的初級(jí)像差，成為較早的梯折透鏡設(shè)計(jì)理論。而梯度折射率材料的使用，給光學(xué)設(shè)計(jì)帶來(lái)了更多的自由度，并可以使光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)化，減小了體積和重量。本篇主要介紹梯度折射率介質(zhì)的分類以及梯度折率透鏡的像差校正原理，下一篇?jiǎng)t會(huì)從公式和理論方面更加詳細(xì)地介紹梯度折射率介質(zhì)。一、梯度折射率介質(zhì) ...

光具有不同的折射率,波長(zhǎng)短者折射率大。 光學(xué)系統(tǒng)多半用白光成像，白光入射于任何形狀的介質(zhì)分界面時(shí)，只要入射角不為零,各種色光將因色散而有不同的傳播途徑,結(jié)果導(dǎo)致各種色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。這種成像的色差異稱為色差。通常用兩種按接收器的性質(zhì)而選定的單色光來(lái)描達(dá)色差。對(duì)于目視光學(xué)系統(tǒng)，都選為藍(lán)色的 F光和紅色的C光。色差有兩種。其中描述這兩種色光對(duì)軸上物點(diǎn)成像位置差異的色差稱為位置色差或軸向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物體的像大小差異的色差稱為倍率色差或垂軸色差。如下圖,軸上點(diǎn)A發(fā)出一束近軸白光,經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)后，其中F光交光軸于 A'F,C光交光 軸于 A'C。 ...

光具有不同的折射率,波長(zhǎng)短者折射率大。 光學(xué)系統(tǒng)多半用白光成像，白光入射于任何形狀的介質(zhì)分界面時(shí)，只要入射角不為零,各種色光將因色散而有不同的傳播途徑,結(jié)果導(dǎo)致各種色光有不同的成像位置和不同的成像倍率。這種成像的色差異稱為色差。通常用兩種按接收器的性質(zhì)而選定的單色光來(lái)描達(dá)色差。對(duì)于目視光學(xué)系統(tǒng)，都選為藍(lán)色的 F光和紅色的C光。色差有兩種。其中描述這兩種色光對(duì)軸上物點(diǎn)成像位置差異的色差稱為位置色差或軸向色差,因不同色光成像倍率的不同而造成物體的像大小差異的色差稱為倍率色差或垂軸色差。校正了位置色差的光學(xué)系統(tǒng)，只能使二種色光的像點(diǎn)或像面重合在一起，但二種色光的焦距并不一定就此相等，使這二種色光可能 ...

在驅(qū)動(dòng)電壓下折射率連續(xù)變化，實(shí)現(xiàn)對(duì)入射光的相位調(diào)制。但由于液晶的一些特性，驅(qū)動(dòng)電壓改變量和相位改變量是非線性關(guān)系，實(shí)際使用中需要測(cè)量并確定相位調(diào)制特性曲線。現(xiàn)介紹一種相位分析方法——白光干涉法，來(lái)確定LCOS芯片的相位調(diào)制特性曲線。白光干涉法采用邁克爾孫干涉儀的結(jié)構(gòu)，在參考鏡前設(shè)置補(bǔ)償玻璃板（同LCOS芯片前的玻璃板），消除對(duì)光路的影響，從而使參考光和反射光達(dá)成白光干涉條件。分析干涉圖可得到LCOS芯片的相位輪廓，進(jìn)而分析相位調(diào)制的特性曲線。上圖為白光干涉法的裝置示意圖。白光由確定中心波長(zhǎng)的鹵鎢燈發(fā)射，經(jīng)毛玻璃散射。然后由線偏振片獲得與LCOS液晶指向矢平行的偏振方向。然后分束鏡將透射光分為兩 ...

上是透過(guò)率或折射率的周期性變化。當(dāng)被入射平面光波照射時(shí)，出現(xiàn)的波前表現(xiàn)出相位或振幅的周期性。這種周期性，將平面波的角分布，衍射光柵產(chǎn)生的光會(huì)表現(xiàn)出不同的傳播角度，而這些角度是完全依賴的。反射Bragg光柵的設(shè)計(jì)，如果采用紫外誘導(dǎo)，光柵的性能特點(diǎn)和相位掩膜周期有關(guān)，那對(duì)于衍射光柵，設(shè)計(jì)原理卻有所不同。對(duì)于二維周期結(jié)構(gòu)衍射光柵，光通過(guò)光柵的透射過(guò)程主要和入射光介質(zhì)和衍射光介質(zhì)部分的折射率有關(guān)。如下面的圖所示上面圖中，每個(gè)紅色小柱子間的間距，就是柵周期，光從整個(gè)圖的底部射入，柵周期約為幾個(gè)微米。可以在纖芯內(nèi)部以一定的間距做出多個(gè)衍射光柵，通過(guò)多層衍射光柵，在纖芯內(nèi)行進(jìn)的部分光經(jīng)第①組多層衍射光柵衍射 ...

從而引起材料折射率和增益系數(shù)的改變，也會(huì)使激光器的發(fā)射波長(zhǎng)以階梯形式跳躍變化。關(guān)于昊量光電昊量光電 您的光電超市！上海昊量光電設(shè)備有限公司致力于引進(jìn)國(guó)外先進(jìn)性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品！與來(lái)自美國(guó)、歐洲、日本等眾多知名光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系。代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、精密光學(xué)元件等，所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國(guó)防及前沿的細(xì)分市場(chǎng)比如為量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進(jìn)激光制造等。我們的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)可以為國(guó)內(nèi)前沿科研與工業(yè)領(lǐng)域提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開(kāi)發(fā)，軟件開(kāi)發(fā)，系統(tǒng)集成等優(yōu)質(zhì)服務(wù) ...

成的具有不同折射率的高純 SiO2。光棒成品的質(zhì)量及特性（如純度、強(qiáng)度、有效折射率、衰減程度）對(duì)光纖有重大影響。光纖預(yù)制棒由芯棒和包層組成，其芯棒有多種生產(chǎn)方式，主要原理是基于氣相沉積法，當(dāng)前普遍采用：改進(jìn)的化學(xué)氣相沉積法（MCVD）、軸向氣相沉積法（VAD）、棒外化學(xué)氣相沉積法（OVD）和等離子化學(xué)氣相沉積法（PCVD）四大主流工藝。光棒外部包層制造一般采用套管法（早期是 RIT，后來(lái)演進(jìn)為 RIC）和全合成法（OVD、VAD）。圖3.預(yù)制棒拉絲流程拉制：預(yù)制棒制備完畢后，需要對(duì)預(yù)制棒進(jìn)一步做拉絲處理。拉伸爐使預(yù)制棒在高溫下（2000~2200℃）熔融，在重力的作用下往下垂，并形成細(xì)絲，經(jīng)直 ...

個(gè)晶體方向的折射率，從而改變 有效波片的延遲。如圖 2 所示，一個(gè)簡(jiǎn)單的幅度調(diào)制器的幾何結(jié)構(gòu)由一個(gè)偏振器、一個(gè)用于零延遲的電光晶體切割和一個(gè)分析器組成。輸入偏振器保證光束與晶體主軸成 45° 偏振。晶體充當(dāng)可變波片，隨著施加電壓的增加，將出射偏振從線偏振（從輸入旋轉(zhuǎn) 0°）變?yōu)閳A偏振、線偏振（旋轉(zhuǎn) 90°）、圓形等。分析儀僅透射已旋轉(zhuǎn)的出射偏振分量，從而分別產(chǎn)生 0、0.5、1 和 0.5 的總透射率。傳輸和應(yīng)用場(chǎng)之間的關(guān)系不是線性的，而是具有 sin2 依賴性。為了獲得線性幅度調(diào)制，這些調(diào)制器通常以 50% 的傳輸率進(jìn)行偏置，并且僅在施加的小電壓下工作。偏置調(diào)制器的兩種方法是一種，通過(guò)偏置三 ...

小點(diǎn)厚度測(cè)量高數(shù)值孔徑目標(biāo)問(wèn)題嚴(yán)重的問(wèn)題是用于確定薄膜厚度的干涉信號(hào)的對(duì)比度降低。在高數(shù)值孔徑物鏡中，光線在膠片中以不同角度折射（見(jiàn)圖1），因此光線在膠片材料中的路徑長(zhǎng)度不同。這意味著它們具有不同的相位差。一旦不同的光線組合在一起并且相位疊加在探測(cè)器上，相長(zhǎng)干涉峰/谷和相消干涉峰/谷之間的對(duì)比度就會(huì)減弱。這種影響的嚴(yán)重程度取決于具體的膠片疊層和數(shù)值孔徑。但是，一般來(lái)說(shuō)，效果隨著厚度的增加而增加。圖 1 大數(shù)值孔徑(NA) 的小光斑測(cè)量NA 如何影響厚度測(cè)量在硅氧化物測(cè)量示例中很容易看出效果。 200nm氧化物的UVVis反射光譜（200-1000nm）的模擬如圖2 所示。它顯示光譜隨著NA 的 ...

異質(zhì)結(jié)構(gòu)厚度測(cè)量基于ZnO的異質(zhì)結(jié)構(gòu)用于LED應(yīng)用。在異質(zhì)結(jié)構(gòu)中使用多對(duì)相同的層來(lái)放大光發(fā)射。使用MProbe UVVisSr系統(tǒng)(200nm -1000nm)測(cè)量層的厚度并驗(yàn)證其光學(xué)色散。該結(jié)構(gòu)具有重復(fù)60次(ZnO/Al2O3) × 60次的ZnO和Al203層對(duì)。為了確定ZnO和Al2O3的光學(xué)常數(shù)，測(cè)量了這兩種材料的兩厚樣品。圖1 厚氧化鋁樣品的測(cè)量:模型與測(cè)量的擬合。測(cè)定了Al2O3的厚度和光學(xué)常數(shù)。測(cè)量厚度:269 nm(光色散見(jiàn)圖2)圖2 測(cè)量所得Al2O3的光學(xué)色散。色散用柯西近似表示圖3 Al2O3薄樣品。從厚Al2O3樣品測(cè)定的光學(xué)色散在這里被用來(lái)驗(yàn)證樣品的性質(zhì)是有效的薄膜 ...