光波導折射率測量單次測量光波導或者光子器件中的折射率由于光波導低損耗的特性，因此在光子設備和系統中被大量使用。光波導的折射率分布是決定插入損耗和傳播模式的關鍵參數。基于定量相位成像技術（QPI），Phascis的波前分析儀可以作為測量折射率變化的高精度計量儀器。準確測量折射率變化，對于生產光子器件的開發、優化和質量監控是必要的。作為一種非破壞性測量方法，QPI可提供精確的波導折射率分布。SID4成像系統適用于測量光纖或激光寫入波導。集成在光學顯微鏡Phascis定量相位成像（QPI）相機安裝在經典明場顯微鏡上，并且無需修改顯微鏡。Phasics輸出的相位圖可以輕易的轉化為折射率，如下所示，OP ...

果一束光線在折射率為p的介質中從軸上的一點出發，與軸成4角，并在折射率為p'的像空間中與軸成$'角，如果通過這個軸向物鏡點的所有光線都沒有像差，其中橫向倍率為G，那么相鄰的軸向點將沒有像差，當且僅當另一方面，阿貝正弦條件指出，在類似的情況下，橫向物體平面的鄰近點只有在符合下面條件的情況下才能成像而不產生像差總的來說，這些條件是相互矛盾的，它們表明，不管像差的順序如何，擺脫初級像差的條件是物體位置的必然函數。在早期的研究中，對于不同的物體位置，這些條件的變化已經得到了詳細的研究;結果表明，除了指定物體的位置外，還必須指定停止的位置，這樣才有可能用任何其他位置的差來表示任何給定物體 ...

光學系統物方折射率和像方折射率不同時，節平面與主平面不再重合。位置關系由下式決定：關于昊量光電：昊量光電 您的光電超市！上海昊量光電設備有限公司致力于引進國外先進性與創新性的光電技術與可靠產品！與來自美國、歐洲、日本等眾多知名光電產品制造商建立了緊密的合作關系。代理品牌均處于相關領域的發展前沿，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、精密光學元件等，所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防及前沿的細分市場比如為量子光學、生物顯微、物聯傳感、精密加工、先進激光制造等。我們的技術支持團隊可以為國內前沿科研與工業領域提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等優 ...

外包層是一種折射率較低的摻氟二氧化硅（SiF）材料，這意味著激光僅與光纖內的玻璃材料相互作用，使其非常可靠且對溫度不敏感（高達200°C）我們仔細甄選了纖芯成分，從而獲得了高效率（每根新光纖上測試的功率轉換效率都高于40%）和低的1μm放大自發輻射，這也是10年來開發的iXblue鉺鐿共摻光纖一直被認可的標記。“使用高溫雙層丙烯酸酯涂層（HTC）可將長期工作溫度范圍提高至125°C，使IXblue全玻璃有源光纖成 為惡劣環境下1.5μm激光雷達的理想解決方案。”iXblue產品線經理Arnaud Laurent 解釋道。全玻璃設計保證泵浦激光僅僅與光纖中玻璃材質接觸，確保在苛刻使用環境中長期運 ...

壓克改變晶體折射率(如鈮酸鋰LiNbO3，波長λ=632.8nm，no= 2.29，非尋常光折射率為 ne= 2.20)，且折射率改變量一半與外加電壓呈線性關系，因而通過電壓可入射光的偏振態，這類似一個通過電壓控制旋轉的半波片，當控制普克爾盒的偏置電壓，時光的偏振改變角度為90°時，可以在兩偏振方向垂直的偏振片之間實現光調制。圖1：橫向普克爾盒的工作示意圖普克爾斯效應有縱向普克爾斯效應和橫向普克爾斯效應兩種；當電壓加壓方向平行與光傳播方向時，稱為縱向普克爾效應；當電壓加壓方向與光傳播方向垂直時，稱為橫向普克爾效應；普克爾盒的半波電壓與施加電壓方向的晶體長度相關，所以縱向普克爾盒的半波電壓非常高 ...

機運動會造成折射率起伏，導致光束發生畸變、相干性減弱、光強衰減等一系列湍流效應。這些變化在強湍流或長距離傳輸時尤為明顯，從而嚴重制約了自由空間光通信的發展。大氣湍流是一種雜亂無章的運動，具有以下特性（1）湍流運動具有不規則的隨機特性。大氣湍流是在外力作用下產生的一種運動方式，隨外力增加，流體運動狀態由層流變為湍流，運動逐漸失去穩定性，變成不規則、雜亂無章的非線性運動。（2）湍流參數具有統計規律特性。雖然湍流運動是一種不規則運動，但其相鄰空間點上的運動參數具有一定的相關特性。因此，可以采用統計平均法等統計規律對湍流進行估算和預測。（3）湍流對初始條件敏感依賴性。洛倫茨較早推斷出大氣對初始條件敏感 ...

樣本中的微小折射率變化轉換為實際圖像中相應的幅度變化。 這種技術的主要優點是活細胞可以在其自然狀態下進行檢查，而無需事先被殺死、固定和/或染色。 Zernike contrast 允許樣品界面的可視化，但橫向分辨率相對較差，并且偽影的出現妨礙了任何正確的定量相位測量。Nomarski 對比（或 DIC 用于微分干涉對比）顯微鏡是一種更流行的相位成像技術，可在一個方向上提供樣品相位梯度。圖像呈現的輸出強度是振幅和相位梯度對比與對樣本中光路長度梯度的非線性響應的混合。標準 DIC 系統本質上大多是定性的。這就是為什么一些研究項目提出將相移方法應用于DIC來獲取線性相位梯度圖像。特別是，已經提出了一 ...

,光學元件的折射率會隨溫度變化，并且光學、機械元件都會由于熱膨脹而產生變形，由此而導致的像差稱為熱差。因此在設計時需要對此進行分析，必要時還需要采用消熱差的設計方法。相關文獻：《幾何光學 像差 光學設計》（第三版）——李曉彤 岑兆豐更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，系統集成等服務。您可以通過我們昊量光電的官方網站ww ...

水凝膠薄膜厚度測量MProbe VisHC系統提供強大且易于使用的解決方案，允許直接在產品上測量層。手動探頭MP-FLVis通過柔性光纖電纜連接到系統。探頭符合樣品的曲率，可以方便地進行精確測量。它用于測量大于1英寸(25mm)的零件。較小的測點(<200μm)減小了后反射率的影響。MProbe VisHC軟件對HC膜采用厚膜算法，對防霧涂層采用曲線擬合算法。算法可以很容易地調整/訓練，以測量甚至具挑戰性的樣本。測量過程是容易的，沒有經驗的操作員使用和理解。水凝膠薄膜有許多應用。它是一種有趣的應用是生物傳感器，其中水凝膠膜厚度的控制很重要，例如基于熒光的水凝膠傳感器。在其他傳感器中，例如 ...

像散校正光纖光譜儀-數據校準和校正光譜儀校準通常被理解為“波長校準”。這確實是絕對必要的，每個光譜儀都必須具備它。但還有很多工作要做：暗信號校正、非線性校正、固定模式噪聲(FPN) 校正和各種數據處理選項，例如Boxcar 平均。這對于有源 CMOS 探測器陣列（如Hamamatsu S11639）尤其重要，其中每個像素都充當獨立探測器。批量生產的光譜儀通常只進行z低限度的校正——足以滿足基本用途。每個像素的信號轉換路徑。有源 CMOS 探測器由獨立的固定硅探測器（像素）組成，每個探測器都有自己的電容器（電荷到電壓轉換）和源極跟隨器。釘扎硅探測器本身具有高度線性并具有相同的暗噪聲。然而，獨立電 ...