表面增強(qiáng)拉曼散射這是一項(xiàng)基于SERS的污染物選擇性檢測(cè)工作，污染物以雙酚A（BPA）為代表。涉及BPA的污染物對(duì)金屬表面吸附的親和力很弱，這就限制了SERS技術(shù)在檢測(cè)BPA中的應(yīng)用。 此外實(shí)際樣品包含復(fù)雜的成分，SERS信號(hào)可能會(huì)受到干擾，導(dǎo)致定性檢測(cè)能力低。分子印跡聚合物（MIPs）是一種對(duì)目標(biāo)分子具有高親和力的人工模板制備識(shí)別材料，將SERS與分子印跡技術(shù)結(jié)合起來，以獲得選擇性和靈敏度方面的綜合優(yōu)勢(shì)。二、待測(cè)樣品制備過程首先合成模板配合物：雙酚A-三乙氧基硅烷，接著合成核殼結(jié)構(gòu)：第1步合成的模板在增強(qiáng)基底Au納米顆粒表面，然后去除雙酚A，zui后將去除雙酚A的模板與目標(biāo)待測(cè)物混合即可進(jìn)行選 ...

于測(cè)量是通過散射光進(jìn)行的，因此無需從電池中提取氣體即可測(cè)量各種逸出氣體的分壓，使用專門設(shè)計(jì)的拉曼分析裝置對(duì)18650圓柱形電池進(jìn)行氣體分析。為了加速氣體逸出，停留電位從 4.2 變?yōu)?4.8 V，直至2000小時(shí)。通過這種方法使用商用超級(jí)電容器成功地對(duì)逸出氣體進(jìn)行了原位拉曼分析。研究表明，新開發(fā)的氣體分析裝置無干擾且高度可靠。圖1：用于原位拉曼測(cè)量的 LIB-拉曼電池示意圖兩個(gè)光學(xué)窗口，以及池體和 18650 池之間的軟金屬密封，將內(nèi)部大氣與環(huán)境隔離本研究所有氣體測(cè)量均使用專門設(shè)計(jì)的 LIB-拉曼電池進(jìn)行，電池示意圖如圖1，它由電池主體、電池蓋和 18650 電池組成。池體由一個(gè)氣體收集通道、 ...

射，經(jīng)毛玻璃散射。然后由線偏振片獲得與LCOS液晶指向矢平行的偏振方向。然后分束鏡將透射光分為兩路，一路光反射到參考鏡經(jīng)過補(bǔ)償玻璃板，再原路返回。另一路光透射后在LCOS芯片的液晶內(nèi)經(jīng)過雙折射產(chǎn)生相位延遲，再原路返回。兩路光最后再在CCD前疊加，產(chǎn)生白光短路干涉，由CCD記錄干涉圖樣。LCOS裝載在壓電位移臺(tái)上，以便調(diào)整光程差，進(jìn)而獲得多組干涉圖樣。根據(jù)獲得的干涉圖組，分析情況獲得三維相位輪廓。調(diào)整在LCOS上加載電壓，獲得從0到255灰度值的圖案，（a）圖為在LCOS上觀測(cè)的圖像。可得到對(duì)應(yīng)的干涉圖樣，（b）圖為L(zhǎng)COS的干涉圖。可看出單張干涉圖出現(xiàn)扭曲，說明液晶的相位調(diào)制不是線性的。可在改 ...

，它會(huì)對(duì)拉曼散射信號(hào)產(chǎn)生較大的增強(qiáng)(圖1)。因此可以假設(shè)兩個(gè)因素負(fù)責(zé)信號(hào)的增強(qiáng)。電磁效應(yīng)被認(rèn)為是更主要的，有時(shí)也被稱為“第①層效應(yīng)”，因?yàn)樗蠓治鑫锓肿优c金屬表面直接接觸。這兩種因素都可以通過位于銀、金等金屬中的表面等離子體的概念得到很好的理解。當(dāng)?shù)入x子體激元垂直于金屬表面振蕩時(shí)引起散射，反映了表面的粗糙度，這種粗糙度可以是物理粗糙度，也可以是一些納米粒子產(chǎn)生的粗糙度。由于法向拉曼散射得到的信號(hào)通常非常微弱，因此為了獲得更多可檢測(cè)或增強(qiáng)的信號(hào)，人們傾向于采用SERS技術(shù)。這項(xiàng)技術(shù)可以提供分子與表面相互作用的信息，從而可以檢測(cè)到較低濃度的分析物。這種特殊制備的金屬表面，如金，銀和銅，將拉曼信號(hào) ...

束產(chǎn)生的拉曼散射，通過冷卻CCD相機(jī)獲得高光譜線圖像，實(shí)現(xiàn)高速拉曼成像，沿y軸平行檢測(cè)400個(gè)拉曼光譜。物鏡的組合和選擇在一定程度上受到了物理上是否可能將它們放置在裝置中以及可以放置的被觀察樣本的大小的限制。另外一個(gè)光路來誘導(dǎo)拉曼散射的外延線照明，使用一個(gè)線形焦點(diǎn)，以能夠比較貝塞爾和傳統(tǒng)外延線照明模式之間的成像特性。使用圖1(a)中的倒立鏡可以切換兩種成像模式。貝塞爾照明的偏振方向設(shè)置為x方向，使探測(cè)物鏡能夠有效地收集誘導(dǎo)拉曼散射。分光光度計(jì)的狹縫寬度設(shè)為1 Airy單位，使狹縫共聚焦效應(yīng)也可實(shí)現(xiàn)z向的空間分辨率。光學(xué)裝置的細(xì)節(jié)如圖1所示。圖一該顯微鏡的有效點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(PSF)是光學(xué)照明點(diǎn)擴(kuò)散 ...

般來說，拉曼散射光大約比瑞利散射光弱106倍。如果有很大一部分瑞利散射光進(jìn)入光譜儀，那么光譜儀內(nèi)部的散射光會(huì)產(chǎn)生一個(gè)顯著的背景信號(hào)，這個(gè)背景信號(hào)會(huì)壓倒拉曼信號(hào)。為防止瑞利散射光進(jìn)入光譜儀，應(yīng)使用大于6的組合光密度(OD)的濾光片。傳統(tǒng)上采用雙級(jí)單色器作為濾光片來阻擋瑞利散射光，但其體積較大，傳輸效率較低。由多種介電材料涂層制成的精密干涉濾光片常用于商用拉曼光譜儀，使用簡(jiǎn)單，傳動(dòng)效率高。然而，截止頻率通常被限制在100波數(shù)。基于熱折變玻璃的濾光片技術(shù)的發(fā)展使得濾光片的截止頻率低至5 波數(shù)。這提供了一個(gè)獨(dú)特的機(jī)會(huì)，使用高通量的單級(jí)光譜儀訪問低于100波數(shù)的低頻區(qū)域。由于這些體全息布拉格陷波濾波器的 ...

聲子模式拉曼散射實(shí)驗(yàn)可以測(cè)量由振動(dòng)對(duì)稱而具有拉曼活性的晶體的特定聲子模式的能量。考慮到原子構(gòu)型的對(duì)稱性，每個(gè)晶體都可以被歸類到一個(gè)特定的點(diǎn)群，這決定了可能的拉曼主動(dòng)振動(dòng)模式。精確的聲子能量是通過考慮振動(dòng)模式、原子質(zhì)量和它們的相互作用強(qiáng)度來確定的。二維材料的每一層都可以指定一個(gè)特定的點(diǎn)群，一個(gè)特定的聲子是否可以通過拉曼散射到達(dá)取決于聲子模的對(duì)稱性和晶體的對(duì)稱性。對(duì)于少層二維材料，晶體的對(duì)稱性取決于層數(shù)。嚴(yán)格地說，在相同的材料中，不同厚度的相似振動(dòng)模式，其模態(tài)符號(hào)應(yīng)該是不同的。然而，在許多情況下，為了方便起見，人們使用塊晶體的統(tǒng)一表示法來表示其他厚度的模態(tài)。聲子模的層數(shù)依賴性很特別，以石墨烯為例， ...

會(huì)一直有瑞利散射信號(hào)發(fā)出，這些散射的瑞利信號(hào)通過耦合器被耦合到探測(cè)器中，剩余的一路光波經(jīng)過反射后作為參考光通過耦合器同樣被耦合到探測(cè)器中。從原理上來看，COTDR和OFDR對(duì)瑞利信號(hào)的檢測(cè)方式相同，都是相干信息探測(cè)。滿足了相干條件的瑞利散射信號(hào)光，會(huì)在光電探測(cè)器上發(fā)生混頻。光傳輸過程中的衰減會(huì)累計(jì)，累計(jì)得的兩路光是總?cè)鹄?span style="color:red;">散射強(qiáng)度的重要參量，對(duì)光纖中某一具體位置，可以通過頻譜上各頻率點(diǎn)反推出光纖中的各個(gè)位置。由于比重與光纖沿線的衰減成正比，可以從各個(gè)頻率點(diǎn)的功率得到光纖沿線各個(gè)位置處的衰減情況。OFDR的空間分辨率和頻譜的分辨率有關(guān)，從時(shí)域到頻域的變換，頻率分辨率由信號(hào)的持續(xù)時(shí)間決定，最終，OF ...

含有可引起光散射的顆粒和凝膠結(jié)構(gòu)。為了實(shí)現(xiàn)良好的光學(xué)測(cè)量，優(yōu)化光斑尺寸非常重要，MProbe 20 非常適合這種測(cè)量。工藝開發(fā)過程中水凝膠膜的厚度可能非常不均勻。 MProbe 系統(tǒng)可以快速測(cè)量厚度分布，以幫助流程優(yōu)化。測(cè)量分析使用基于FFT 的專有算法，這減少了校準(zhǔn)需求，非常適合生產(chǎn)中的在線測(cè)量。MProbe 系統(tǒng)可以提供24/7 連續(xù)在線厚度監(jiān)測(cè)，并通過TCP 或模擬形式輸出數(shù)據(jù)（用于PLC集成）使用 MProbe 20VisHR 系統(tǒng)測(cè)量載玻片上水凝膠膜的反射光譜。條紋表示水凝膠層和載玻片中的干擾。可以從頂部或底部進(jìn)行測(cè)量在大多數(shù)情況下，MProbe 20 Vis 為水凝膠薄膜提供z佳厚 ...

于其他偽影（散射、厚度不均勻性等）而減弱，NA 效應(yīng)會(huì)使干涉條紋幾乎消失，在這種情況 下，軟件校正無濟(jì)于事。需要根據(jù)應(yīng)用要求評(píng)估物鏡的使用。 如果可能的話，使用低數(shù)值孔徑物鏡總是更好。實(shí)際上，在所有應(yīng)用中，低NA（理想情況下NA < 0.5）對(duì)測(cè)量光譜的影響非常小。圖 4 校正TFCompanion 中的NA 影響。 TFCompanion 有一個(gè)選項(xiàng)可以在“高ji”選項(xiàng)卡 （主屏幕）中設(shè)置測(cè)量的NA–這將包括曲線擬合期間計(jì)算中的NA 校正（通常不需要FFT 校正）MProbe 40 MSP 系統(tǒng)使用NA<0.55 的長(zhǎng)工作距離 物鏡。這非常大限度地減少了幾乎所有膠片疊層的測(cè)量信號(hào) ...