需要利用到無衍射光斑,先生成環形無衍射光斑,再將環形無衍射光斑照射進光折變材料,在光折變材料中留下環形包層結構。比如利用純相位空間光調制器對高斯分布的入射光進行相位調制,產生無衍射貝塞爾光束,并將生成的無衍射貝塞爾光束以一定的功率照射光折變材料,產生環形封閉的光波導包層。而且采用加熱或者均勻光照的方法均可擦除材料中的光波導痕跡,材料可重復利用,也變相降低了成本。空間光調制器的原理?本文所使用的空間光調制器是純相位空間光調制器,即空間光調制器對入射光的相位空間分布根據輸入圖像的信息進行對應的調制。目前主流純相位空間光調制器使用的是液晶調制機制。液晶器件,除了用于顯示以外,其以良好的穩定性、可進行 ...
子β(又稱為衍射極限倍數因子)是使用較為廣泛的一種激光光束質量評價指標,其定義為實際光束遠場發散角θ(上文中的遠場發散角)與理想光束遠場發散θ角之間的比值,即β=θ/θ 。實際光束的β值一般均大于1,β數值越小,光束質量越高(類似于M )。但是運用β評定光束質量時需要忽略不計測量系統造成的衍射影響,β因子必須與測量光學系統的參數無關,此時它是衡量激光器輸出光束質量的一個合理特征參數;且因之可反映實際光束在遠場平面內的能量集中度和可聚焦性,所以β因子同樣適用于能量型應用的場合。相對而言β因子很明顯的不足在于,因接收激光遠場光斑的測量設備靶面有限,當激光光束經遠距離傳輸后光束質量退化較為嚴重時,遠 ...
分離的經物體衍射后的光與自由傳播的光進行強度關聯成像。鬼成像技術的基本原理為:一束光經過物體衍射后照射到沒有空間分辨率的筒狀探測器內,另一束參考光則不經過物體,進入高空間分辨率的CCD,作為參考光得到空間分布。當兩束光被收集以后,通過對這兩束光的強度值進行一個關聯計算就可以恢復出待測物體的信息。 計算鬼成像技術相對于傳統的鬼成像,引入了可以產生隨機強度分布的DMD(數字微反射鏡),從而不再需要參考光路,只需要用一個單像素相機就可以完成測量。DMD或者振幅型LCOS為壓縮感知的鬼成像(compressive ghost imaging)的核心器件。4、時間反轉技術 時間反轉技術(Time Rev ...
影響,經光柵衍射后的光在各個方向上的能量分布不均勻,zui終呈現為入射光強和實際探測光強之間的非線性。同時,探測器對不同強度入射光的響應的線性度,信號放大電路的線性度也會影響設備的亮度精度。這些在儀器測試階段可以明確的系統誤差,生產商可以通過硬件上或軟件上的補償來消除。圖 2 某款探測器的波長靈敏度曲線三、數據重復性各器件性能可靠性:儀器中,各器件對環境的敏感程度影響著測試數據的穩定性,這些影響可能來自機械震動、環境溫度變化等。噪聲水平:各類光電二極管、CCD都存在暗電流,且暗電流大小會受探測器溫度影響較大,儀器內部產生的熱量能否及時從設備中排出,對設備測試數據的穩定性影響明顯。四、光譜分辨率 ...
,脈沖整形,衍射光學等領域。SLM的剖面圖和相位調制原理圖如圖一所示:圖1 SLM截面圖及相位調制原理蓋板玻璃起到保護和封裝液晶的作用,針對實際使用中光源的不同波長范圍,蓋板玻璃表面鍍有相應波長范圍的寬譜AR膜,可以大大減少反射光,提高系統效率。前透明電極層位于液晶層的頂部,加載有恒定電壓。液晶層是SLM中的工作物質,液晶分子的排列狀況可以在電場作用下發生變化,從而改變經過該像素的光的相位延遲。像素位于液晶層底部,其上鍍有鋁或介質膜的反射層,具有很高的反射效率。集成電路背板將加載到像素的灰度轉換為相應的電壓,與透明電極一起在該像素上形成控制液晶層偏轉的電場。偏振光從設備頂部進入,經過蓋板玻璃 ...
發生的第一階衍射位置。 然后將光束輪廓儀移動到位于L2的焦平面的“BP或D2”位置。 這可以將SLM上的相位遠場傅立葉平面成像,使得可以通過調節光圈尺寸和位置來分離第一階衍射光束。 這使得當光束輪廓儀用探測器替換時,能夠監視第一階衍射能量。對于實際測試,將激光器設置為最大功率,并使用P1,HW和P2的集合來改變入射到SLM上的功率。 P2具有固定的方向,以確保偏振是線性的,并且相對于SLM處于固定的軸上。 將FM1放在適當的位置,然后將P1和HW繞光軸旋轉,以達到在D1上測得的所需激光能量,并記錄該能量讀數。 然后將FM1翻轉到適當的位置,并點亮SLM。 一旦D2以脈沖激光頻率實現了同步鎖定, ...
徑中添加一對衍射光柵或高折射率材料(例如SF57玻璃棒),讓光譜范圍受到限制。有關頻譜聚焦方法的詳細說明可以在最近的出版物中找到。簡而言之,如果一次關注單個拉曼位移,則皮秒激光的設置要簡單得多。飛秒激光器是快速高光譜圖像采集的首選,但系統比較復雜性。 Moku:Lab LIA可以與皮秒和飛秒激光器配對使用。在本文中介紹的用例中,飛秒激光器(Spectra-physics Mai Tai)與SF57玻璃棒一起用于光譜聚焦。調制,延遲階段和掃描:泵浦和斯托克斯束通常由聲光調制器(AOM)或電光調制器(EOM)進行調制。調制頻率通常在MHz范圍內。這有助于減少由光熱膨脹產生的背景并提高圖像采集速度。 ...
。而通過引入衍射光柵等光學反饋元件,構成的外腔半導體激光器能對線寬壓窄,產生高質量激光。1、可調諧外腔半導體激光器的基本模型圖1 外腔半導體激光器基本結構示意圖外腔半導體激光器是在原有半導體激光器的基礎上,通過引入外部光學反饋元件,達到選頻以及改善激光器性能的作用,簡單的結構示意圖如圖1所示。其中半導體激光器自身的諧振腔稱為內腔,而激光器的后反射面以及外腔鏡所構成的諧振腔稱為外腔。外腔鏡將部分二極管激光器輸出光反饋回內腔,反饋光束會引起激光輸出強度振蕩,其頻率會隨著腔長、激光設計以及工作條件而發生變化。正是基于二極管激光器對于光反饋敏感的這個特性,外腔起到了波長選擇的作用,使得外腔半導體激光器 ...
級Ao模式的衍射圖案。Z后一個面板(e)在20 μs的時間窗口內包含Z大振幅投影,顯示點焊產生的“陰影”,即焊縫后Ao模式的振幅顯著降低。未來的工作將集中于利用觀察到的特征進行缺陷檢測和表征。圖5:單側測量的結果(a)典型的時間軌跡,顯示在前110 us內的導波和隨后從激勵點到達的空氣耦合信號。(b)-(d)導波的時間演化。(b)點焊的波分量和Ao分量。(c), (d)點焊周圍Ao模式的衍射。(e)超過20 μs跨度的Z大振幅投影,顯示焊縫周圍的振幅分布。圖6: B掃描,根據傳播速度識別觀察到的模態。傳感器對準被掃描激勵點超過50毫米的距離。左圖:290 μs。包含導波和后期空氣耦合信號的時間 ...
被聚焦到一個衍射有限的光點,并在樣品上掃描。發出的熒光被一個光電倍增管接受,其時間信號被映射到相應的像素上,zui終形成圖像。由于樣品被激發,信號是被逐點采集的,這種方法克服了散射組織的廣域成像中像素交叉干擾。由于雙光子顯微鏡具有更高的光收集效率、更深的穿透力和更低的光毒性,通常是共焦顯微鏡的良好替代方案。但雙光子顯微鏡或任何激光掃描顯微鏡的致命弱點是它緩慢的速度,因為樣品是按順序逐點掃描成像的,這將是對更大的神經元回路活動進行成像的一個基本障礙。有各種掃描方法可用于改善速度,比如XY掃描振鏡 (< 10 fps) 或者是共振掃描器 (> 30 fps) 以及Z軸掃描的壓電控制物鏡 ...
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