向異性引起的雙折射引起的反射探測光束和黑磷樣品內部的聲波之間的相互作用引起的。這些振蕩也通過校正減法抵消[注意，圖2(a)中的校正信號是平滑的，沒有振蕩]。這種方法使得TR-MOKE測溫法不容易出錯，因為任何與傳感器磁化狀態無關的雜散信號都可以被抵消。圖2. 使用9兆赫調制頻率和w0=12 μm的激光光斑尺寸在涂覆有26.9納米厚的三丁基錫化合物層的黑磷樣品上測量的TR-MOKE信號的例子。(a)作為延遲時間函數的正(M+)、負(M)和校正的vin信號。插圖顯示了前幾百ps時出現的周期為21 ps的布里淵散射振蕩。這些振蕩在校正后的Vin中被抵消。(b)比率信號——來自實驗(符號)和熱模型模擬 ...

上晶體的自然雙折射和輸出光的折射率相匹配。盡管這種方式可以實現相位匹配，但是限制了這些材料只能在小波長范圍內實現。而通過改變結構，讓PPLN晶體的晶向周期性反轉，通過在每個正弦產生的峰值反轉晶向，可以避免光子間反相，最終，產生的光子數量將隨著光通過晶體的傳播而增加，獲得高轉換效率。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

應該不會產生雙折射，并且光纖的偏振態在傳播過程中是不會改變的。然而，在實際中，常規光纖在生產過程中，會受到外力作用等原因，使光纖粗細不均勻或彎曲等，就會使其產生雙折射現象。當光纖受到任何外部干擾，例如波長、彎曲度、溫度等的影響因素時，光的偏振態在常規光纖中傳輸時就會變得雜亂無章。而保偏光纖的應用則是可以解決這一偏振態變化的問題，但它并不是消除光纖中的雙折射現象，而是通過在光纖幾何尺寸上的設計，產生更強烈的雙折射， 來消除應力對入射光偏振態的影響。保偏光纖在拉制過程中，當線偏振光沿光纖的一個特征軸傳輸時，部分光信號會耦合進入另一個與之垂直的特征軸，最終造成出射偏振光信號偏振消光比的下降，從而影響 ...

向同性，產生雙折射現象，即當一束光線通過有內應力的玻璃時，將產生傳播速度不同的兩束光線，分別稱為尋常光線和非常光線。鋼化玻璃產品是表面應力為 70 MPa 或更高。電視面板的內應力要低得多，但這些應力可以增強面板抵抗玻璃因典型陰極射線管的真空而損壞的能力。汽車擋風玻璃或電視面板等退火產品具有低或中等的表面應力（小于或約 7 MPa）。所生產制品內的應力分布在很大程度上取決于工藝條件，因此該參數表示玻璃生產過程的控制。玻璃成型模型可以預測產品內的最終應力分布。因此，應力分布的準確測量可以提供有關此類模型準確性的信息，并可以指導改進模型的開發。應力引起的雙折射是眾所周知的。當光照射到各向異性晶體（ ...

光纖出現固有雙折射是因為存在內部各向異性。而要使光纖中的偏振光傳播時保持穩定的偏振態，則在垂直的軸向上的偏振光相位差應保持恒定。二、POTDR傳感技術外部擾動會改變光纖的雙折射，進一步改變光纖傳輸矩陣中的矩陣元素，因此光纖外部的擾動會最終反映在偏振態上。POTDR用脈沖激光器產生光脈沖，經過起偏器，保證注入光纖的傳感脈沖為完全偏振光。檢偏器用來使特定偏振態的散射光通過。偏振光耦合進光纖后，光纖受外部環境影響會改變其中背向散射光的偏振態，能夠經過檢偏器的光就發生了變化。就可以據此探測光纖的擾動傳感。從應用上來看，POTDR主要是測量與光纖中光波偏振態有關的物理量，在電壓測量、持續振動、快速擾動及 ...

示意圖，其中雙折射聚合物納米柱的高度H和平面內旋轉角度θ分別對透射光的幅度和相位響應進行獨立控制。c、基于COMH的兩個圖像平面(z1和z2)上的光學可尋址全息視頻顯示，可以在COMH的動量空間尋址大量依賴于OAM的正交圖像幀實驗結果：視頻1：圖像平面z=z1的全息視頻顯示視頻2：圖像平面z=z2的全息視頻顯示附錄：三維激光打印復振幅超表面全息圖(1)、使用商業光刻系統(Photonic Professional GT, Nanoscribe)。在IP-L 780 resist(Nanoscribe)中，通過浸入式配置的Plan-Apochromat 63x/1.40 Oil DIC Zeis ...

性，這會導致雙折射。對于具有高 NA 的光纖，這種效果更強。-波導對隨機折射率波動的敏感性降低。 （對于大模式面積低NA的單模光纖，這可能是個問題。）-使用較高摻雜濃度（例如鍺）的纖芯來提高折射率差可能會增加散射損耗。纖芯/包層界面的不規則性也會導致同樣的情況，這對于較大的折射率差異更為重要。激光束的數值孔徑有時，文獻中包含關于激光束數值孔徑的陳述。這個術語的使用實際上是不提倡的，因為數值孔徑應該被認為是基于光線光學的，不能在這里使用。盡管如此，這種陳述的含義也可以被理解。這里，數值孔徑取為半角光束發散角的正切。在近軸近似內，正切可以省略，結果為 λ?/?(π?w0 )其中 w0 是束腰半徑。 ...

用液晶的電控雙折射現象，在驅動電壓下折射率連續變化，實現對入射光的相位調制。但由于液晶的一些特性，驅動電壓改變量和相位改變量是非線性關系，實際使用中需要測量并確定相位調制特性曲線?，F介紹一種相位分析方法——白光干涉法，來確定LCOS芯片的相位調制特性曲線。白光干涉法采用邁克爾孫干涉儀的結構，在參考鏡前設置補償玻璃板（同LCOS芯片前的玻璃板），消除對光路的影響，從而使參考光和反射光達成白光干涉條件。分析干涉圖可得到LCOS芯片的相位輪廓，進而分析相位調制的特性曲線。上圖為白光干涉法的裝置示意圖。白光由確定中心波長的鹵鎢燈發射，經毛玻璃散射。然后由線偏振片獲得與LCOS液晶指向矢平行的偏振方向。 ...

由于這些晶體雙折射的溫度依賴性，這種簡單的幾何形狀對于大多數電光晶體來說是不實用的。這種依賴性將溫度相關的波片引入調制器。因此，使用雙折射非線性介質（例如 LiNbO3）的未補償調制器的傳輸將表現出顯著的熱漂移。這種溫度敏感性可以通過穩定單晶調制器的溫度或使用兩個相同的晶體來克服。第二種方案采用光學串聯放置的兩個等長晶體，它們的主軸相對于彼此旋轉 90°，如圖 3 所示。因此，光束的偏振分量在兩個折射率區域中的每一個中傳播相等的路徑長度，這導致結構的雙折射為零，與溫度無關。熱漂移限制了相位調制器的實用性，相位調制器通常由單晶制成。實際限制這些設備的性能有幾個實際限制。主要是，LiNbO3 的光 ...

爾斯效應，對雙折射晶體施加電壓克改變晶體折射率(如鈮酸鋰LiNbO3，波長λ=632.8nm，no= 2.29，非尋常光折射率為 ne= 2.20)，且折射率改變量一半與外加電壓呈線性關系，因而通過電壓可入射光的偏振態，這類似一個通過電壓控制旋轉的半波片，當控制普克爾盒的偏置電壓，時光的偏振改變角度為90°時，可以在兩偏振方向垂直的偏振片之間實現光調制。圖1：橫向普克爾盒的工作示意圖普克爾斯效應有縱向普克爾斯效應和橫向普克爾斯效應兩種；當電壓加壓方向平行與光傳播方向時，稱為縱向普克爾效應；當電壓加壓方向與光傳播方向垂直時，稱為橫向普克爾效應；普克爾盒的半波電壓與施加電壓方向的晶體長度相關，所以 ...