長干涉和傳統干涉儀的最大不同之處就在于多波長干涉的被測距離的相位變化是由多個波長同時決定，即產生一個由合成波長決定的相位差，整個測量相當于用一個合成波長等價于好幾個測量光波完成。在測量的過程中，選擇比較接近的兩個波長，可以得到的合成波長遠大于任一波長，然后用此合成波長去測距。若只采用單波長進行測量時，需要對相位差的整數部分和小數部分同時計數才能得到精確距離，并且計數過程一旦中斷就需要重新再次開始。而多波長干涉測量只需在選擇合適波長的情況下，然后通過只需要測量相位差變化的小數部分就可得到被測距離。當被測的目標距離較大時，可以先用一個比較大的合成波長進行測量，得到一個精度對較低的結果，根據測量的精 ...

通過分光鏡或干涉儀進行合并，并通過光探測器測量合并后的光強。合成后的電場，類似于混頻過程，會產生一個與兩束激光頻率差相等的拍頻。雙速光合并后的功率可以描述為：PPD和EPD表述在光探測器段的功率與電場。E1與E2表述兩束激光各自的電場。其中，ω1與ω2表述兩束激光的頻率,Φ1與Φ2表述兩束激光的相位. 將等式(2)與等式(3)代如等式(1)，得到：其中，高頻項（higher order terms）通常遠超出光電探測器與測量儀器的帶寬。雖然拍頻信號本身包含了兩束激光相位差信息，然而這個信息本身難以直接用于閉環系統的反饋信號。通常，一個單獨的相位檢測器會被用來獲取相位差的信息，將拍頻的交流信號轉 ...

膜厚測量儀及其在汽車前后燈中的應用在汽車前/后燈制造過程中，有幾個點的涂層厚度是至關重要的，需要對其進行質量控制，例如外硬質涂層（耐刮層），內部聚碳酸酯透鏡抗霧層，底座反射板上的硬涂層，保險杠蓋上的硬涂層等許多其他部件。每一種涂層都提出了一系列獨特的測量挑戰，例如聚碳酸酯和涂層材料之間較低的光學對比度、相互滲透/界面層、彩色零件（如紅色）、零件表面的反射紋理等等。美國Semiconsoft公司MProbe VisHC膜厚測量系統提供了堅固和易于使用的解決方案，允許直接測量產品上的涂層厚度。手動探頭MP-FLVis與一根柔性光纖電纜連接到系統上。符合樣品曲率的探頭可以很方便且很準確地進行測量。M ...

微透鏡陣列焦距檢測方法1，千分尺測量法西安工業大學通過透鏡焦距和透鏡鏡面半徑的理論關系，利用顯微鏡測量微透鏡陣列子單元的直徑并用千分尺測量矢高，從而完成焦距的測量，圖 1-1所示。圖1-1 平凸透鏡焦距示意圖對于一般的平凸型微透鏡陣列，利用顯微鏡和千分尺分別測量子單元直徑 Ф和矢高 h，計算其焦距為： （1-1）早期的微透鏡陣列制造常采用熔融光刻膠法制作，形成的是平凸面形的透鏡，利用該方法能完成相應的焦距測量。由于平凸透鏡焦距受凸面曲率半徑限制，使得該類型微透鏡陣列的應用受到較大的局限。另外，該檢測方法采用千分表接觸是測量微透鏡陣列的矢高，易造成微透鏡表面的 ...

的馬赫-曾德干涉儀 (MZI) 網格(mesh)可以實現任意矩陣乘法而不會產生基本損耗(fundamental loss)，這些架構也很容易配置和控制。具體來說，zui近的硅光子神經形態電路已經證明了使用相干光對矩陣向量乘法的奇異值矩陣分解實現。在這種情況下，在硅芯片上制造的MZI實現了逐元素乘法。這種設計代表了使用光的神經網絡z關鍵構建模塊之一的真正并行實現，現代代工廠(foundry)可以輕松地批量制造這種類型的光子系統。這種設計的挑戰之一是 MZI 的數量隨著向量中元素數量N以N2增長，這是實現任意矩陣的必要結果。隨著光子電路尺寸的增加，損耗、噪聲和缺陷也成為更大的問題。因此，構建足夠準 ...

ehnder干涉儀(MZI)在硅芯片上展示了一個突破性的、完全集成的光學神經網絡(optical neural network,ONN)。通過計算每個MZI的相應相位，可以將任意矩陣有效地映射到該ONN硬件上。對于此類網絡，所需的非線性可以通過利用強度調制器、相機的飽和效應、光電二極管的二次非線性、半導體放大器的飽和、可飽和吸收器等多種方法來實現。從那時起，人們提出了許多方案來進一步優化這些陣列的實現及其片上訓練過程。雖然 ONN 在學術和工業界中都受到了相當大的關注，但現在研究人員越來越意識到，改變芯片上的相位是不可取的，而且會顯著掩蓋光子加速器的潛在優勢。在這些結構中，相位變化通常由熱光移 ...

馬赫-曾德爾干涉儀(MZI)組成的可編程納米光子處理器(programmable nanophotonic processor, PNP)實現。每一個MZI包含在兩個50%倏逝波定向耦合器之間的熱-光移相器(θ)，隨后是另一個移相器(φ)，見圖2c、d。如圖2a、b，激光耦合進OIU單元完成矩陣變換，隨后被光電二極管陣列探測，然后被計算機讀取并模擬非線性激活函數，激光重新注入OIU執行下一層(兩個OIU完成一次奇異值分解)。(2) 片上訓練。通常，神經網絡的參數使用梯度下降的方法訓練得到，在計算機上，常見的方式是使用反向傳播方法計算梯度，這個過程非常耗時。在ONN上使用前向傳播和有限差方法(f ...

位門通過級聯干涉儀實現，該干涉儀由半波片和光束偏移器(beam displacer, BD)組成。在三層結構中，特征狀態是通過一個受控分束器(controlled beam splitter, CBS)引入的，該受控分束器由5個半波片和3個光束位移器組成(第1個BD根據光子的偏振態，將其分為不同的空間模式，隨后的HWPs和BDs在光子的偏振態和空間模式上實現受控的雙量子位門)，特征狀態(酉算子Ui的參數，它在訓練過程中是固定的)信息編碼在半波片的設置角度中。實驗結果：MNIST數據集之外的圖像分類。(a)子分類器輸出狀態的測量概率。(b)分類結果。參考文獻：Kunkun Wang, Lei X ...

析儀可以表征干涉儀等儀器的復頻譜響應，快速繪制出系統的傳遞函數。同時，內置的 FIR濾波器可以產生較為精確的信號延遲。Moku:Lab功能與參數主要參數?雙通道200 MHz模擬輸入?雙通道300 MHz模擬輸出?12-bit 500 MSa/s 低噪聲ADC?Xilinx Zynq 7000 Series FPGA?<20 nV/√Hz 輸入噪聲(高于 1 MHz時)主要功能?集成了12個不同的測試測量儀器?專門為Pound–Drever–Hall和其他常見的激光鎖頻方式所開發的儀器功能?雙通道基于鎖相環的相位/頻率探測裝置?Python, MATLAB, 和LabVIEW的API支持 ...

Kaleo套件-模塊化計量解決方案隨著光學系統復雜性的增加，計量團隊通常需要特定的測量參數（測試波長、精度、分辨率、相關結果……）。 PHASICS?Kaleo Kit解決了這?挑戰，它是?于光學鑒定的模塊化系統。Kaleo 套件是各種兼容模塊的組合，可讓您創建經濟?效、緊湊且易于使?的系統，它可以適應?泛的測量配置，并確保樣品在開發的所有階段滿足質量要求。?次采集即可獲取樣品的所有參數：TWE、RWE、波前像差、MTF、PSF 等等。一、Kaleo Kit的選型只需要3個步驟1.選擇您的波前傳感器2.選擇您的R-cube，波長（nm）36540553062574078081085094010 ...