描法布里珀羅干涉儀自動調整以恢復單模工作。可選波長：在某些二極管沒有覆蓋的必須采用SHG系統才能得到的波長，MOGLabs注入鎖定放大系統具有非常大的吸引力。例如461nm（1W）用于鍶原子鐘；399nm (400mW) 用于鐿原子鐘；405nm (500mW) 用于全息；509nm用于銫里德堡激發和電離；435nm和445nm用于工業應用；其他包括一些SHG系統不是很穩定的波長如657、689和698nm。如果您對此感興趣，請聯系我們。 ...

域法橫向剪切干涉儀相比于哈特曼，他將前面的微透鏡整列修改為0和pi的相位板。回復的相位能通常分辨率更高。波前控制器變形鏡連續型變形鏡Alpao公司提供薄膜型的，連續表面變形鏡，每個驅動利用電磁的方式控制運動。變形鏡分立式變形鏡鏡面不在是連續的，有單獨的小鏡面組，每個單獨的鏡面可以做上下運動，有些公司單獨鏡面可以做傾斜。但是相對于連續的鏡面，分立式會有衍射光產生，效率偏低。液晶空間光調制器液晶空降光調制器，對于入射光需要線偏振光束。而且由于是像素組成的，同樣也存在著衍射的現象。最后液晶相位延遲是與波長有關的器件。反饋控制有模型的反饋使用哈特曼傳感器測量得到的波前信息，將相位按照不同模式展開，展開 ...

激光器、光纖干涉儀。而在SSPD應用中，就屬于偏振敏感器件的應用。在本篇文章中，主要討論三環型偏振控制器的原理，進而在偏振調試時使探測器達到最優探測效率。三環型偏振控制器主要由三個環路、基座、壓蓋等組成，覆蓋波長范圍從500-1600nm。光纖纏繞在一定半徑三個光纖圓圈上產生彈光效應，同時改變三個圓圈的方位角給光纖施加應力，產生雙折射。產生雙折射大小主要取決于光纖的包層半徑、光纖環繞半徑和波長。實踐驗證該控制器可產生全方位的偏振態變化。基于上面的模型，通常將三個環形控制器可以等效為λ/4，λ/2，λ/4。從上圖左邊第一個圓環起，可將任意偏振態的光轉換為線偏振態，再由等效為λ/2圓環改變偏振方向 ...

常低于用傳統干涉儀測量的水平。作為MEMS鏡面的基材，硅具有較優的潔凈度、平整度。在光束轉向應用的Z后制造步驟中，硅鏡面必須涂覆以獲得所需波長的高反射率。在標準生產過程中，硅鏡上會涂上一層薄薄的鋁，所有庫存的MEMS鏡面都用的鋁涂層。一些研發生產過程中的設計被涂上了黃金。一般來說，可以使用其他涂層材料，但有必要找到薄的、低應力的涂層，而不會顯著降低鏡子的平整度特性。這是一個非常具有挑戰性的要求，因為MEMS反射鏡的厚度非常小，因此在每個新情況下都需要大量的研發工作。在使用鋁涂層的標準工藝中，在任何類型和尺寸的鏡子中都保持>5m的曲率半徑。圖2MEMS鏡面涂層：標準鋁涂層(左)，金涂層（右 ...

使用Phasics SID4相位成像相機進行表面測量Phasics SID4相位成像相機，可以集成在商業或者自制的光學顯微鏡裝置上。為了提高樣品的整體性能，測量物體表面特性是一種有效的方法。對于此類應用，Phasics的軟件可以分析光程差，并且實時轉化為物體表面的形貌。硬件方面，Phasics相機體積小、結構緊湊，并且易于使用。事實上，Phasics的波前分析儀能夠與實驗室常用的相機一樣易于集成。整個相機可以輕松集成到生產線或者實驗室中。表面測量結構Phasic SID4相位相機利用的是一種四波橫向剪切技術，將入射光分成剪切的4束，然后再互相干涉形成干涉圖，通過傅立葉逆變換可以得到入射光的相位 ...

可以通過光學干涉儀的控制臂和測量臂之間的相移來測量極小的位移。Liquid Instruments的Moku設備可以提供兩種檢測射頻信號相位的儀器：鎖相放大器和數字相位測量儀。在本應用說明中，我們將介紹這兩個儀器的工作原理，并為不同的應用場景提供儀器選擇指南。介紹鎖相放大器和相位表（數字相位測量儀）是兩種常用于從振蕩信號中獲取相位信息的儀器。鎖相放大器可以被視為開環相位檢測器。相位是由本地振蕩器、混頻器和低通濾波器直接計算出來的。相比而言，相位表則采用數字鎖相環（PLL）作為其相位檢測器，使用一個反饋信號來實時調節本地振蕩器的頻率。這可以被視為一種閉環相位檢測方法。在我們介紹這兩種儀器之前，我 ...

延遲線的光學干涉儀先在集成光學芯片上實現，并通過一個一體化封裝將集成光學芯片、激光二極管、探測器陣列和光學透鏡組成一個小型化激光傳感模組。摯感光子自主研發的激光傳感平臺通過專有的數字信號處理（DSP）算法，可提供LDV技術中的瞬時位移、振動和光學相位測量等多種功能，此外還可以實現與常規三角法激光位移傳感器一樣的絕對位移／距離的測量， 并具有同等甚至更優的測量精度。激光同軸位移傳感器（左）與傳統的三角法激光位移傳感器（右）對比三．技術參數介紹昊量光電全新推出的激光振動/位移傳感器光學元件集成化可以實現更加復雜的設計和更多的功能。集成光學芯片可以在一個單一的光學基底上包含數十到數百個光學元件，包括 ...

hnder 干涉儀進行測量和校正，包括偏振分束器或雙透鏡開普勒型成像光學元件等光學元件。中展示了一種基于剪切干涉儀的方法，該方法能夠以相對簡單的方式同時測量扭曲液晶顯示器的幅度和相位調制。在這里，應該注意的是，除了與干涉儀對準相關的固有缺陷，以及它們對機械振動或空氣湍流的高靈敏度外，上述校準設置還需要大量的光學元件。代替干涉測量，可以替代地實施基于衍射的方法來獲得校準曲線。 一般來說，這些方法依賴于對衍射場的分析，這是由于光與某些多相 DOE 的相互作用，這些 DOE 以前被編碼到 SLM 中。 為了獲得校準曲線，他們采用相位檢索算法。 其他方法只是量化遠場中相應 DOE 的參數之一，例如由兩 ...

諸如一等量塊干涉儀、激光絕對重力儀等對測量不確定度要求較高的干涉測量系統中。633nm附近碘的吸收光譜在精密測量和工業測量中使用較為廣泛的激光頻標或波長標準，是波長為633nm 的穩頻He-Ne激光器，例如：蘭姆凹陷穩頻激光器、雙頻激光器、橫向塞曼穩頻激光器、雙縱模穩頻激光器等等。 它們的頻率穩定度可達10－10量級，個別可達10－11量級，其頻率復現性大致在1×10－7至1×10－8之間，它們的真空波長值及測量不確定度必須用高①級的基準來進行測量。 而633nm碘穩定激光器的頻率穩定度可進一步達到10－11至10－12量級，頻率復現性可達(1-2)×10－11；頻率或波長值的不確定度為2.5 ...

-to-2f干涉儀，以穩定頻率梳和特征的偏移頻率梳子。當周期極化鈮酸鋰晶體長度為1 mm，極化周期為31.30 ~ 32.81μm時，輸出光譜的紅移邊緣頻率增加了一倍。這種可調設計使的信噪比（SNR）優化成為可能。在100 kHz的分辨率帶寬下，檢測到的拍音信噪比為41dB，如圖3（a）所示。然后，對來自10MHzRb原子鐘的參考信號進行濾波、分割、放大和相位檢測。使用數字-模擬混合Pi2D控制器將產生的誤差信號轉換為反饋信號。利用帶寬為500 kHz的高壓源放大的高頻反饋信號驅動腔內AM-EOM進行快速調制。利用低頻反饋信號作為驅動信號來控制泵電流。為了實現梳齒與基準激光器之間的鎖相，我們將 ...