ender 干涉儀，所以這些方法需要時間相干源（通常是激光），重要的是必須仔細控制其光程長度的參考臂。波前傳感是用于研究光束像差的眾所周知的技術。在大多數應用中，只考慮低階像差（如球差或彗差），因為像差階越低，對光束的影響越強。因此，數千個相位測量點足以分析光束波前并隨后補償低階像差，這是 Shack-Hartmann 波前傳感器 (SHWFS) 所允許的，主要用于自適應光學。波前傳感器 (WFS) 的主要功能是對給定平面中的相位進行采樣，該平面通常對應于放置傳感器的平面：與數字全息術不同，無需使用參考臂。當然，可以將 WFS 平面與給定的物平面光學共軛。對于相位顯微鏡，放置在物平面中的樣品引 ...

并送入典型的干涉儀的兩個臂(圖2)。干涉儀的一個臂具有精確的延遲級，可快速掃描。在延遲之后，兩束光束被重新組合并使用一個讀出非線性過程進行測量，例如只在兩束光束都存在時才提供信號的和頻率生成。通過記錄輸出信號作為干涉儀的一個臂的延遲的函數，并使用已知的光速將延遲距離轉換為時間，可以高精度地推斷出兩束之間的時間延遲(很容易<50 fs)。一旦自相關器記錄到兩個光束的時間重疊，這將足以產生CARS或SRS信號。圖2.Mach-Zender型自相關器的原理圖。入射的激光束被分成兩支。其中一個臂具有可控的延遲階段(τ)。更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有 ...

射臂采用掃描干涉儀，通過掃描參考鏡獲得傅里葉光譜實現光譜測量，光源的光譜分布是中心波長為610nm和半峰全寬為170 nm。該技術較大地拓寬了光譜帶寬，增強了光強，測量結果更加準確。橢偏儀大多采用透鏡將寬帶光束聚集在樣品表面，然而透射式光學系統設計無法滿足寬光譜的測量要求，在深紫外情況下會產生明顯的色差問題。直到 2013 年，電子科技大學物理電子學院和中科院微電子所改變聚焦成像系統，研制了基于全反射聚焦光學系統的深紫外（DUV）寬帶光譜橢偏儀。該橢偏儀采用基于離軸拋物面鏡和平面反射鏡的全反射式光學系統實現寬光譜（200-1000 nm）測量，離軸拋物面鏡用于產生或聚焦準直 光束，平面反射鏡用 ...

的色散測量。干涉儀實驗布局如下：1.超連續源SCT10002.光纖寬帶耦合器50/503.自由空間長度可調臂。4.參考標準光纖5.光子器件表征6.光譜分析儀7.快速示波器“使用脈沖激光器的主要優點是，通過同步控制脈沖重疊，在全VIS-NIR范圍內獲得條紋的zui佳可見度，分辨率低于1nm?！背嗣}沖重疊的優點外，使用SCT1000脈沖超連續源進行干涉測量還有更多的好處。zui直接的是光譜寬度。使用LED需要一個漫長而繁瑣的過程，因為每次更換光源時系統都必須重新調整。此外，有些波段是完全無法進入的。這意味著沿不完整波段重建曲線時精度較低。不僅刷的光譜更寬，而且點密度也更高。這一事實體現了使用脈沖 ...

Sagnac干涉儀，工作在670 nm波長。與傳統的偏振分析相比，Sagnac干涉儀對雙折射或地形效應等互反效應不敏感。這些影響通常會導致Kerr-SNOM圖像中的偽影。為了測試新的可變溫度UHV-Sagnac-SNOM的性能，人們使用了一小塊垂直磁化和大Kerr旋轉(紅光約0.41)的TbFeCo磁光(MO)盤。表面輪廓由1毫米寬的軌道組成，由0.6毫米寬和100毫米深的凹槽分隔。沿著磁道，等間距的磁位與相反的磁化被熱磁寫入。圖2圖2(a)和(b)顯示了MO盤的Sagnac-SNOM圖像以及同時記錄的地形圖像。在地形圖像中可以清晰地檢測到軌跡和凹槽，這表明在目前的設置下，尖端到樣本的距離控制 ...

ehnder干涉儀（MZI）中，可以看到在分束器（BS）分成的兩路上，都采用了AOD (Gooch & Housego, Inc.)，其中一路由120MHz到200MHz等間隔的多個射頻信號進行調制，將單個488nm的連續光分割成104個小光束組成的線性陣列，具有不同的頻率和出射（偏轉）角度，這里的每束光zui終代表了生成圖像中單個水平像素。而另一路通過AOD(Gooch & Housego, Inc.)產生一個本地振蕩光束，移頻了200MHz。兩路光束的模式匹配，zui終在50/50分束器中進行合束，并聚焦在細胞流上。該激發系統所產生的線性陣列激光，每個束光都有一個獨特的拍頻 ...

.相移型斐索干涉儀的工作原理對于斐索干涉儀，能夠觀察到參考平面與測量平面間的干涉條紋，能夠計算出條紋的位相分布。被測平面的表面輪廓可通過位相分布來確定。下圖為使用激光光源的斐索干涉儀基本的光學結構。激光束經物鏡、針孔、準直透鏡準直，參考光學平面與準直光束垂直，并采用光楔或減反射膜系來抑制它的背面反射。參考和測量面間的干涉條紋經電視攝像機來探測。分束器或λ/4波片以及偏振分束器用來引導光束入射于電視攝像機上。這種斐索干涉儀，需要采用長焦距的準直透鏡來獲得高的精度。干涉條紋函數I(x,y)：式中，I。為背景光強度；y(x,y)為條紋調制函數；φ(x,y)為被測條紋的位相分布函數；φ。為參考面與測量 ...

長）2.測長干涉儀的基本類型（1）泰曼一格林干涉儀泰曼一格林干涉儀是一種使用準直光束的邁克爾遜干涉儀。其光路本質和邁克爾遜干涉儀相同，都是采用分束器分光，兩束光再次重合進行干涉的方法。光路圖如下：當測試對象通過一個平面鏡時，每條入射光線的的傾斜角都是相等的，可看到的整個區域呈現相同的照明度，光程差為mλ/2時是亮條紋，光程差是(m+1/2)λ時為暗條紋，此時m是一個整數。當一個平面鏡傾斜時這種情況也將改變。此時，直條紋出現在觀察區域，條紋的數目和方向嚴格依賴于傾斜度。當被測對象不是完全平面時，條紋彎曲而且不在空間均勻分布。這樣的條紋圖像可以用于表面品質的測試，也可以用于地形表面的分析.分束鏡的 ...

方法一般利用干涉儀測量光強隨波長的變化情況。與傳統方法相比，傅里葉變換光譜具有同時捕獲整個光譜的優勢，使得其能在單次測量中分析多種氣體物種，極大地提高了效率和準確性。關鍵挑戰：傅里葉變換光譜測量中的光學延遲掃描傳統的傅里葉變換光譜在實現高分辨率和高刷新率方面面臨著挑戰。光譜分辨率受到干涉儀臂長差異的限制，這可能需要直接的光學延遲路徑調整。此外，傅里葉變換光譜中使用的機械掃描機制通常會在速度、靈敏度和可靠性方面帶來限制。這些限制推動了對替代方法的探索，克服這些挑戰就可以在氣體光譜應用中獲得更好的性能。雙梳光譜雙梳光譜是一種尖端技術，其利用頻率梳的獨特特性來實現具有高刷新速率的高分辨率氣體光譜。與 ...

相位偏折術/PDM/偏折測量（Deflectometry）技術簡介摘要：偏折測量技術（PDM）又稱為相位偏折術或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術,絕對檢測精度可達10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等面型的高精度檢測。具有測量角度大、非接觸、精度高、速度快等特點。偏折測量系統構成：相位偏折測量系統主要由CCD相機 、LCD顯示屏和待測件三個部分組成，系統配置如下圖。LCD顯示屏投射提前生成好的結構光正弦條紋，正弦條紋被待測鏡表面反射后發生畸變，CCD相機采集畸變后的條紋，再利用相位斜率映射 關系從畸變的條紋圖中計算出待測鏡梯 ...