射產生的電子躍遷吸收帶，通過分析本征吸收的吸收帶我們可以從中挑選處合適的低損耗的窗口區，從而提高信號的傳輸效率。（2）非本征吸收損耗即雜質吸收，造成非本征吸收的原因可能是由于工藝的不完善引入的了新的雜質導致雜質的吸收損耗。其中對非本征吸收影響比較大有兩種：1. 過渡金屬離子Fe3+、Mn3+ 、Ni3+ 、Cu2+ 、Co2+ 、Cr3+等，這些過渡金屬離子在0.6um-1.6um波段范圍內光吸收能力較強，光纖制造過程中，過渡金屬離子的數量應減少到十億分之一以下，這樣可以將損耗控制1dB/km以下。2. 氫氧根離子（OH-），水分子中解析出來的OH-振動吸收導致信號衰減并呈現出三個吸收峰：0. ...

低能級電子層躍遷到高能級電子層。高能態的電子是不穩定的，它會在極短的時間內（10-8s），以輻射光的形式釋放能量后，回到原來的能態。這時發出的光即為熒光（fluorescence），其波長比激發光的波長要長，原理如圖2-6所示。利用物質對光吸收的高度選擇性，可制成各種濾片，吸收一定波長范圍的光或允許特定波長的光通過，用來激發不同的熒光素，產生不同顏色的熒光。對于熒光的激發波長一般都在紫外和可見波段，而對于熒光的發射波段一般都在可見光波段觀察熒光一般都采用落射熒光觀察方式，就是激發光是由顯微物鏡照射到樣品上，而不是大家常見的在樣品下方進行透射照明的方式，當然也存在一些使用透射熒光的觀察方式，但是 ...

量后，從基態躍遷到某一激發態上，再以輻射躍遷的形式發出熒光并回到基態。將激發光關閉后，分子的熒光強度也將隨時間逐漸下降。假定一個無限窄的脈沖光（δ函數）激發n0個熒光分子到其激發態，處于激發態的分子將通過輻射或非輻射躍遷返回基態。假定兩種衰減躍遷速率分別為Γ和Knr，則激發態衰減速率可表示為：其中n(t)表示時間ｔ時激發態分子的數目，由此可得到激發態物種的單指數衰減方程：上式中衰減總速率的倒數τ＝(Γ＋Knr)-1即為熒光壽命。熒光強度正比于衰減的激發態分子數，因此可將上式改寫為:該式中，I0即為分子受激發時的zui大光強。我們將該熒光強度下降至激發時的熒光zui大強度I0的1/e（約37％） ...

方向指向上）躍遷至高能狀態（磁場方向指向下），縱向磁場強度隨之不斷減小。第二個影響是由于頻率一致，所有吸收能量的質子會相互吸引靠攏，產生相同的相位，橫向磁場強度隨之不斷增大。四．“成像”那么，射頻脈沖關閉后發生了什么呢？當射頻脈沖消失后，這些共振的H原子會慢慢恢復到原來的方向和幅度，這個過程稱之為“弛豫”。弛豫分為橫向弛豫和縱向弛豫。橫向弛豫也稱T2弛豫，即橫向磁化逐漸減少的過程，橫向磁化從zui大值減少了63%所花費的時間為T2；縱向弛豫也稱為T1弛豫，即縱向磁化逐漸恢復的過程，縱向磁化恢復到平衡狀態強度的63%所需的時間為T1。弛豫時間與質子密度有關，不同組織的T1和T2值有很大的差異。簡 ...

用氣體的原子躍遷，這可能會受到氣體壓力和放電條件等因素的影響，從而導致波長發射的可預測性和精確性降低。這些因素也會影響光譜穩定性，從而降低長時間使用時的精度。這一改變可更加適用于需要長時間一致波長的應用，例如熒光、拉曼光譜和光刻過程，DPSS激光器在特定波長下可以提供穩定、長期的高性能。超窄線寬和光譜純度DPSS 激光器可產生低發散度的高質量TEM00高斯光束。與氣體和離子激光器相比，DPSS激光器的線寬在更長的相干長度上窄了幾個數量級，這有助于高分辨率測量，同時也降低干擾和噪聲強度。這些都是半導體檢測和光譜學等分析應用中的關鍵參數，DPSS激光器可以提供更高的準確性和清晰度。提高能效，減少發 ...

還會出現帶間躍遷。因此對于金屬和載流子濃度較高的半導體材料，其介電常數可以用Drude+Lorentz Oscillator模型模型進行描述：其中為高頻晶格介電常數，wp為等離子體頻率，v為阻尼頻率，Ecenterr為振子的中心能量，Aj為j振子的振幅。Aj振幅和橫向和縱向的聲子頻率有關，，其中WL為橫向聲子頻率，為縱WT向聲子頻率。m為振子的數目。了解更多詳情，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-56.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括 ...

電子轟擊產生躍遷光輻射，從而產生氣體的電離、熒光物質的發光以及照相乳膠感光等。用電子束來轟擊金屬―靶‖材時將產生X射線，通過衍射圖譜的分析，可以獲得其成分、內部原子或者分子的結構和形態等信息。當X射線掃描晶體物質時，X射線因晶格間距等效光柵的存在而發生光的散射和干涉。干涉效應使得X射線的散射強度增強或減弱，其中強度zui大的光被認為是X射線衍射線。圖2-5是晶面間距是d的n級反射圖示。在布拉格公式中：d為晶面間距，θ為布拉格角，λ為入射波長。當入射光照射到晶面上時會發生輻射，且輻射部分將成為球面波同步傳播，其光程差是波長的整數倍。一部分入射光的偏轉角度是2θ，會在衍射圖案中產生反射點。通過已知 ...

00nm處有躍遷，在長波段(600nm-800nm)存在波動。圖4-3(b)是對應的吸收系數α和反射率R值隨波長的變化圖，可以看到R值在500nm處存在躍遷，趨近于zui大值1后，經文獻查閱知這屬于基底Au的反射特性。說明沒有沉積之前所得到的橢偏測試結果主要反應的是襯底的信息，ITO和溶液對其影響甚小，也進一步證明該流動型裝置用于監測薄膜沉積是可行的。對于α值，在370nm和600nm附近存在吸收峰，其和文獻中報道的ITO玻璃基板上Au納米膜的連續可見光吸收光譜出現的峰位十分接近，相對于文獻其峰位發生藍移且兩峰值存在差異，這可能是由于Au薄膜上溶液和ITO帶來的影響。圖4-3沉積0s時(a)P ...

CU2O激子躍遷將如圖所示。圖(a)是在300nm-500nm波段用四振子LorentzOscillator+Drude模型擬合得到的不同沉積時間下的中心能量以及代表了不同類型的激子激發相應的能量線。可以看到180 s和900s得到了三個擬合中心能量，其余時間得到了四個中心能量。從中心能量與橫線的對比中看出，在沉積時間為180s時的三個中心能量分別為EOA/EOB(EOA/EOB表示該能量是EOA或者EOB激子吸收峰)、EOC/EOD和E1A激子吸收峰；360s出現的前兩個能量為EOA/EOB激子吸收峰，后兩個能量分別為EOC/EOD和E1A激子吸收峰；540s前兩個能量分別為EOC/EOD和 ...

在圖中出現的躍遷可能是沉積基底表面的干涉現象的要進驗另外Δ/和Δ/圖線的長波段的雜亂同樣表明在長波段(500-800nm)該測試系統對薄膜的表征不理想，后續研究可盡量在小于500nm的波段進行。圖4-12相對于180s沉積的變化(a)；(b)；(c)/;(d)/了解更多橢偏儀詳情，請訪問上海昊量光電的官方網頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-56.html更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電關于昊量光電：上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商，產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生 ...