折射式望遠鏡物鏡一般說，望遠鏡物鏡的視場較小，例如大地測量儀器中的望遠鏡，視場僅 1~2度；天文望遠鏡的視場則是以分計的；而一般低倍率的觀察用望遠鏡，視場也只在10 度以下。但物鏡的焦距和相對孔徑相對較大，這是為保證分辨率和主觀亮度所必需的，可認為是長焦距、小視場中等孔徑系統(tǒng)。因此，望遠鏡物鏡只需對軸上點校正色差、球差和對近軸點校正彗差，軸外像差可不予考慮，其結(jié)構(gòu)相對比較簡單，一般有折射式望遠鏡物鏡、反射式望遠鏡物鏡、折反射式望遠鏡物鏡，這篇文章主要介紹折射式望遠鏡物鏡。這類物鏡要達到上述像質(zhì)要求并無困難，但要求高質(zhì)量時，要同時校正二級光譜和色球差就相當不易。后者常只能以不同程度地減小相對孔徑 ...

上，上半部分折射率為n1，下半部分折射率為n2，光會在界面處發(fā)生反射和折射，如下圖所示。示意圖 單色光在各向同性且材質(zhì)均勻的界面上的反射和折射其中Eip、Erp和Etp分別為p光的入射、反射和折射電矢量，Eis、Ers和Ets分別為s光的入射、反射和折射電矢量，θ1和θ2為入射角和折射角。光波電矢量可以分解為振動方向平行于入射面的p光和振動方向垂直于入射面的s光。分別定義p光和s光的反射系數(shù)rp和rs，由麥克斯韋方程組和邊界條件，能夠推導出p光、s光的反射系數(shù)與介質(zhì)折射率、入射角和折射角的關(guān)系，即菲涅耳反射系數(shù)。如果您對橢偏儀有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：https://www.aun ...

由各層薄膜的折射率、消光系數(shù)和膜層厚度等參量決定，故可表達為式中：n1、n2和n3分別為空氣、薄膜和襯底的折射率；k2和k3分別為薄膜和襯底的消光系數(shù)。通過對Ψ和Δ的擬合，可以得出被測物體的參量。橢偏技術(shù)按采樣原理可以分為消光式和光度式 ，也稱為零橢偏法與非零橢偏法。消光式橢偏測量方法在每一個波長通過旋轉(zhuǎn)起偏器和補償器后尋找到合適的角度，使經(jīng)樣品反射后的偏振光為線性偏振光，然后調(diào)整檢偏器角度產(chǎn)生消光效果后，記錄此時檢偏器和起偏器相對于入射平面的角度，計算出樣品對應的參數(shù)。光度式橢偏測量方法則是對探測器接收到的光強進行傅里葉分析，推導出所測樣品的特性，并不需要測量角度，盡可能排除了人為誤差，測量 ...

也被稱為圓雙折射效應。V oight和Cotton和Mouton在順磁液體中發(fā)現(xiàn)的磁雙折射現(xiàn)象。這些效應被稱為線性磁雙折射。Williams以及Fowler和Fryer首先應用磁光成像技術(shù)來實現(xiàn)磁疇的可視化，這些都是基于Kerr效應。由于克爾顯微鏡的這些較早的應用，連續(xù)的系統(tǒng)發(fā)展大大增強了傳統(tǒng)克爾技術(shù)的能力。通過干涉層的應用實現(xiàn)了顯著的對比度增強，但克爾顯微鏡的突破是隨著20世紀80年代視頻顯微鏡和數(shù)字圖像處理的引入而來的。自20世紀50年代以來，法拉第顯微鏡也主要用于磁性柘榴石薄膜和正鐵氧體的透射實驗，由于法拉第效應比克爾效應強得多，因此不需要電子對比度增強?；赩oigt效應的透射顯微鏡也 ...

但對于透明或折射率差異小的樣品，其對比度和分辨率較低。對藍藻和綠藻而言，綠藻主要含有葉綠素，可以用藍光有效地激發(fā)。藍藻含有藻膽體，最好用綠光激發(fā)。根據(jù)不同色素的吸收特性，可以生成偽彩色圖像，以區(qū)分藍藻和綠藻。Lumencor的光引擎是通過一些列的固態(tài)光源（LED、自研發(fā)光管和激光器）構(gòu)成的，每個光源的數(shù)量、波長、帶通、光功率和工作模式都可以針對應用的需求為客戶量身定制，擁有一流的亮度、穩(wěn)定性和獨特的定量電子控制系統(tǒng)，滿足客戶對于不同波長激發(fā)光的多種需求。下圖就是運用該技術(shù)檢測在北卡羅來納州Betz湖所提取的水樣并生成的偽色彩圖像。由美國國家環(huán)境保護局公共衛(wèi)生與環(huán)境評估中心的Robert Zuc ...

誘導了圓形雙折射，因此，兩種圓形光模式在通過半導體傳播時經(jīng)歷了不同的相移，這導致入射線偏振光的偏振面旋轉(zhuǎn)。圖2.4.2 K時n↑= 1.5·1017 cm?3和n↓= 0.5·1017 cm?3的Kerr旋轉(zhuǎn)譜圖2為根據(jù)圖1的吸收系數(shù)計算得到的克爾旋轉(zhuǎn)光譜期望值?？藸栃D(zhuǎn)僅在砷化鎵帶隙附近是非零的。此外，在頻譜的中間存在一個符號反轉(zhuǎn)。這表明正確的光子能量的選擇對GaAs中pMOKE測量起著至關(guān)重要的作用。實驗發(fā)現(xiàn)，不同樣品的克爾旋轉(zhuǎn)光譜略有不同。因此，在n-GaAs樣品上進行pMOKE測量的第1步是優(yōu)化探針激光束的光子能量。zui重要的是，對于一個固定的光子能量，克爾旋轉(zhuǎn)角θK與GaAs導帶的 ...

二維電子系統(tǒng)中砷化鎵的磁光克爾效應除了本體砷化鎵的自旋注入實驗外，二維電子系統(tǒng)的自旋注入實驗進行光學測量并不像在大塊GaAs樣品上進行pMOKE測量那么簡單，因為2DEG對稱性的降低可能會嚴重影響光學選擇規(guī)則，從而影響pMOKE的強度。事實上，研究表明，在狹窄(約10 nm寬)的GaAs/(Al,Ga)As量子阱(QW)系統(tǒng)中，約束勢迫使價帶中重空穴態(tài)的軌道角動量和自旋角動量向垂直于QW平面的面外方向運動。此外，約束提升了Γ-point處重空穴態(tài)和輕空穴態(tài)的簡并性，將輕空穴帶移至較低能量處(見圖1)?？紤]到這兩個因素，只有面外極化重空穴才能促進與導電帶電子的復合過程。這對磁光過程有重大影響。在 ...

應、磁線陣雙折射、塞曼效應、磁光克爾效應等。（１）磁光法拉第效應磁光法拉第效應又稱磁光旋光效應，是指當一束線偏振光從磁光材料沿磁場方向透射時，由于材料折射率的不同，磁光材料中的左旋和右旋偏振光，即偏振面相對于入射光的偏振面偏轉(zhuǎn)一定角度的一種磁光現(xiàn)象。法拉第效應產(chǎn)生的根本原因是磁光材料中的電子等磁性粒子發(fā)生光學躍遷。在磁場的作用下，這種躍遷使得在磁光材料內(nèi)部傳輸?shù)淖笮龍A偏振光和右旋圓偏振光產(chǎn)生一定的色散差，導致zui終透射光的偏振面相對入射光旋轉(zhuǎn)了一定角度。（２）磁線振雙折射當一束線偏振光以垂直于磁場方向的方向從磁光材料傳輸時，線偏振光被分解成兩個偏振光，兩種偏振光在材料中以不同的相速度傳播，即 ...

窮大能量時的折射率,Eg,Ａ,Ｂ,Ｃ則為正的常數(shù)；10.形模型 為了在較寬的頻譜上表達物質(zhì)的光學常數(shù),一般需要考慮上述多種模型，則可以得到：Ｌ(Ｅ)為某些特定的線形,例如高斯線形、洛倫茲形、臨界點線形等, Ｂ(Ｅ)為能量緩變的背景。如果您對橢偏儀相關(guān)產(chǎn)品有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：http://www.champaign.com.cn/three-level-56.html更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設(shè)備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究、國 ...

膜層的厚度及折射率和 吸收系數(shù)，檢驗膜層的均勻性，幫助鑒別膜層組分，測量物質(zhì)的折射率和消光系數(shù)，研究各種表面層和表面過程，諸如氧化、腐蝕、吸附、潤滑、催化等。因此，橢偏光儀在許多工業(yè)部門和基本研究中都可應用。（1）固體薄膜光學性質(zhì)的測量應用橢偏術(shù)可對單層吸收膜、雙層膜及多層膜進行測量,得到材料的光學常數(shù)折射率Ｎ和吸收系數(shù)Ｋ,進而得到其介電常數(shù)。近年來也實現(xiàn)了對離子注入損傷分布的測量、超晶格、粗糙表面、界面的測量。（2）物理吸附和化學吸附用橢偏術(shù)方法在現(xiàn)場且無損地研究過與氣態(tài)、液態(tài)周圍媒質(zhì)相接觸地表面上吸附分子或原子形態(tài)的問題。（3）界面與表面的應用橢偏廣泛用于研究處于各種不同環(huán)境中的材料的表面 ...