石英石板小雙折射的測量摘要：測量了石英和藍寶石板在632.8 nm處的雙折射。觀察到的雙折射被認為是由光軸相對于平板幾何結(jié)構(gòu)的傾斜引起的。用兩種儀器方法進行了測量。空軍研究實驗室使用了穆勒矩陣激光旋光計，Hinds使用了exicor系統(tǒng)。介紹了測量技術(shù)，并給出了測量結(jié)果。簡介及背景石英和藍寶石是單軸晶體，當晶體定向時，使光束經(jīng)歷非凡和普通的指數(shù)，就可以很容易地觀察到這些材料的雙折射。如果晶體的光軸與光學系統(tǒng)的軸對齊，則不會觀察到本征雙折射。然而，如果這兩個軸沒有對齊，一個起源于這兩個軸之間的角度的雙折射將被觀察到。得到了石英和藍寶石的平板，經(jīng)過切割和拋光，使晶體光軸從平板的法線向表面傾斜。由x ...

折射率引導型光子晶體光纖的結(jié)構(gòu)類型與機理前言：光子晶體光纖（Photonic Crystal Fiber，PCF）的概念。與普通光纖是由包層與纖芯兩種介質(zhì)組成向類比，光子晶體光纖通常是由單一介質(zhì)構(gòu)成的，其包層周期性地規(guī)則對稱分布著具有波長量級的空氣孔陣列，包層外為涂覆層。因此，也可以稱其為“多孔光纖”（HoleyFiber）或“微結(jié)構(gòu)光纖”（MicrostructureFiber）。光纖的中心，即被空氣孔陣列包層包圍的纖芯部位，可以視為周期結(jié)構(gòu)陣列中存在的“缺陷”。光子晶體光纖的微結(jié)構(gòu)特性主要由三個參量決定，即空氣孔的直徑d，相鄰兩孔之間的距離Δ，以及纖芯的直徑D。光子晶體光纖的這種微結(jié)構(gòu)特定 ...

異性，產(chǎn)生雙折射，使尋常光與非尋常光折射率呈現(xiàn)差異，最終表現(xiàn)光束偏轉(zhuǎn)。折射率變化與電壓呈線性關(guān)系的稱為普克爾效應；而常用的非線性晶體KTP被用來做普克爾盒；目前，普克爾盒常用晶體的半波電壓基本在1000V~1800V之間，但是比較通用的驅(qū)動芯片MOSFET耐壓值大多小于1000V，而MOSFET由于自身工藝導致開關(guān)頻率又做不快，通常在幾百KHz，而CMOS晶體管的工作頻率可以達到幾十MHz，但是常見管子的耐壓值又比較低，只有700V左右；一款優(yōu)秀的脈沖選擇系統(tǒng)對于晶體來說，需要考慮半波電壓、工作頻率、透過率等，但是目前最大局限還是半波電壓稍高，給驅(qū)動設計帶來很高的要求；對于另一個核心部件，驅(qū)動 ...

具有雙曲率的折射(或反射)表面。此外，我們需要雙曲率曲面如此對齊，來保證曲面的對稱平面與x-z和y-z平面重合。這保證了我們的光學系統(tǒng)將具有雙平面對稱性，因此我們可以在x-z和y-z對稱平面上實現(xiàn)不同的放大倍數(shù)。將選擇光軸作為對稱平面的交點線。現(xiàn)在讓我們列出幾個已有的雙曲率曲面類型的例子，以便我們可以檢驗這類非旋轉(zhuǎn)對稱曲面的基本概念。從數(shù)學的角度來看，比較簡單的雙曲率曲面類型可能是一個橢圓拋物面，其表面矢高z在笛卡爾坐標下表示為其中和分別是x-z和y-z對稱平面曲率的主半徑。平行于x-y平面的截面是橢圓，垂直于x-y平面的截面是拋物線。從加工的角度來看，比較簡單的雙曲率曲面類型可能是環(huán)形曲面， ...

家解釋為圓雙折射的結(jié)果。圓雙折射是左右圓偏振光的折射率差。線偏振光可以用左右圓偏振光的線性組合表示。當線偏振光光束進入光活性樣品時，樣品的圓雙折射在左右圓偏振光分量之間產(chǎn)生相對相移。在樣品內(nèi)部沿路徑長度積分的凈相移稱為圓延遲或圓延遲。當光束離開樣品時，圓延遲產(chǎn)生線偏振平面的旋轉(zhuǎn)(光學旋轉(zhuǎn))。圓雙折射、圓延遲、圓延遲和旋光有時可以隨意互換使用。然而，旋光(α)的值與圓延遲(δc = 2α)的值相差2倍。較簡單的旋光偏振光計是由偏振片和交叉分析儀組成的。旋光性是在有手性樣品和沒有手性樣品的分析儀上零位的角差。簡單旋光式旋光計已用于制糖工業(yè)近兩個世紀。在現(xiàn)代的偏振計中，偏振調(diào)制器，如Hinds In ...

鏡陣列可分為折射型微透鏡陣列與衍射型微透鏡陣列兩類：折射型微透鏡(ROE)陣列：基于幾何光學的折射原理，光在兩種透明介質(zhì)交界處（如空氣和玻璃），將向折射率高的區(qū)域彎折。材料的折射率越高，入射光發(fā)生折射的能力越強。通過這個原理，將一個完整的激光波前在空間上分成許多微小的部分，每一部分被相應的小透鏡聚焦在焦平面上，光斑進行重疊，從而實現(xiàn)在特定區(qū)域?qū)⒐饩鶆蚧瑢す馐_整形。其應用主要有光斑整形和光束轉(zhuǎn)化。圖2：折射型微透鏡陣列衍射型微透鏡(DOE)陣列：基于物理光學的衍射原理，光被透鏡陣列的表面浮雕結(jié)構(gòu)調(diào)制改變了波前相位，從而實現(xiàn)了光波的調(diào)制、變換。激光經(jīng)過每個衍射單元后發(fā)生衍射，并在一定距離（ ...

由于二色光的折射率差比折射率小得多，由此折射率差引起的二色光線的光路差別為一小量,而二光線的光程差更為二級小量。若略去這二級小量,則可用二色光的中間色光的光路長D來代替和,由此得這就是軸上點波色差的表示式。它表示二色波面于中心相切時，在所計算孔徑處的偏離量。如果邊緣光線的 ,就表示二色波面在邊緣處相交，或在邊緣帶上二色光的波像差相等。消色差系統(tǒng)就要求這樣。應用上述公式計算波色差時，主要在于計算主色光在系統(tǒng)各光學零件中的光路長在計算機程序中，光路計算統(tǒng)一應用空間光線公式，D值已作為一個中間量算出，可直接取用。用 D-d法計算波色差有不少好處。1.它不像計算幾何色差那樣，由二個大數(shù)和相減而得，而是 ...

衍射光柵或高折射率材料（如SF57玻璃棒）需要被添加到光束路徑中，而且光譜范圍是有限的。關(guān)于光譜聚焦方法的詳細解釋可以在近期的一份出版物中找到。簡而言之，如果一次只對單個拉曼位移感興趣，皮秒激光器的設置要簡單得多。飛秒激光器是快速獲取高光譜圖像的不錯選擇，其代價是系統(tǒng)的復雜性。Moku:Lab LIA可以與皮秒和飛秒激光器配對。在本應用說明中介紹的使用案例中，飛秒激光器（Spectra-physics Mai Tai）與SF57玻璃棒一起用于光譜聚焦。調(diào)制、延遲階段和掃描頭泵和斯托克斯光束通常由聲光調(diào)制器（AOM）或電光調(diào)制器（EOM）進行調(diào)制。調(diào)制頻率通常在MHz范圍內(nèi)。這有助于減少光熱膨脹 ...

M）EOM的折射率。調(diào)幅（AM）EOM由PBS、半波片、四分之一波片、電光晶體和反射鏡組成。反射鏡安裝在壓電陶瓷上，以補償腔長的長期變化。當X軸偏振光束發(fā)射到AM-EOM時，半波片將光束旋轉(zhuǎn)45°，以獲得Z軸和X軸上相等的分量。由于雙折射效應，光束沿橢圓偏振，在四分之一波片和中旋轉(zhuǎn)傳播。仔細調(diào)整波片后，當反射光束到達時，大部分激光功率仍停留在X軸上。PBS1作為一個分析儀，在Z軸向外反射激光功率。當調(diào)制電壓加載在上時，Z軸和X軸之間的激光功率比發(fā)生變化，導致?lián)p耗調(diào)制。這種腔體設計保證了兩個EOM在不同的工作模式下工作。一個EOM作為損耗相關(guān)的驅(qū)動器，另一個EOM作為相位相關(guān)的驅(qū)動器，以減少不良 ...

表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測量。點衍射干涉儀不需要標準參考件，可以用于高精度面型的檢測，是一種非常重要的高精度測量儀器。1.1測試光路測試系統(tǒng)主要由D7點衍射干涉儀主機，準直器，5mm口徑鋁鏡，光學平臺等構(gòu)成。1.2 測試環(huán)境溫度：21℃±1℃；濕度：30%-70%1.3 絕對精度檢測（Accuracy）絕對精度的檢測采用波前均方根差（wavefront RMS differential ，WRMSD）的計算方法，WRMSD是干涉儀穩(wěn)定性和測量有效性的嚴格標準。它定義為所有測量波前差異的均方差加上2X均方差的測量集，并定義為所有測量波前的平均值的綜合參考。測試步驟：1）測試部分從0°開始 ...