用于光子器件色散的FYLA白光激光器這份OPA技術報告介紹了由FYLA開發的超連續光譜激光SCT的主要特點，以及與一個研究中心共同開發的應用報告。穩定的超連續光源在鑒定光子設備方面具有非常顯著的優勢。穩定的超連續光源在鑒定光子設備方面具有非常顯著的優勢：全 VIS-NIR 光譜可用性、高光譜功率密度和低損耗耦合等。不僅能測量振幅，還能輕松測量相位特性。在這項工作中，我們提出了一種使用固定重復率的脈沖FYLA SCT超連續源測量光子器件(如光子晶體光纖)色散的干涉測量方法。脈沖重疊的同步控制允許條紋的zui佳可見性，導致非常高分辨率的色散測量。干涉儀實驗布局如下：1.超連續源SCT10002.光 ...

較低時延、低色散、低非線性、高損傷閾值等優點，是可以代替傳統實芯光纖、突破光纖非線性性容量極限的潛在傳輸光纖?？招竟饫w在低損耗、傳輸帶寬與通信能力、低非線性等方面都有著傳統光纖不可比擬的優勢。空芯光纖在理論突破、制備技術、基礎應用研究方面都已經取得了較好的進展?？招痉粗C振光纖以及基于空芯反諧振光纖的光纖通信系統將會有更大的技術突破與應用前景，有潛力成為下一代低損耗超寬長距離傳輸的通信光纖，可望突破現有技術瓶頸。相信經過產業界與科學界的聯合創新，低損耗超寬帶空芯光纖技術將逐漸走向成熟并實現商業化，也將極大地有利于光纖通信系統未來擴容與升級，對于提升光纖系統的容量具有前瞻性的重要價值。如果您對光子 ...

段，以便能與色散或阿貝數相適應。第二類邊界條件是以結構參數為自變量的函數的邊界條件，是對結構參數函數的限制，包括正透鏡的邊緣厚度、焦距或倍率、后截距、系統的總長度等，甚至也可把系統的成本作為邊界條件。對這類邊界條件需提出相應的目標值和限制要求。凡是不符合所規定的限制條件和要求時，都稱為違反邊界條件。對第一類邊界條件通常用以下方法處理：1. 變數替換法，此法常用于對透鏡中心厚度的控制。如果透鏡的中心厚度為d，定義一個新的變數，使。是透鏡的最小厚度允許值，是一大于零的值。此時，不論取何值，都不會違反邊界條件。這種方法在程序處理上非常方便。2.當迭代后的新解違反邊界條件時，將違反的變數人為改變到允許 ...

光產生一定的色散差，導致zui終透射光的偏振面相對入射光旋轉了一定角度。（２）磁線振雙折射當一束線偏振光以垂直于磁場方向的方向從磁光材料傳輸時，線偏振光被分解成兩個偏振光，兩種偏振光在材料中以不同的相速度傳播，即產生磁雙折射，這就是磁線振動雙折射效應。磁線振動雙折射效應與磁性材料的磁致伸縮密切相關，根據磁光材料的磁線振動雙折射現象不同，可分為Cotton-Mouton效應和Wagert效應。（３）塞曼效應塞曼效應是指當光源置于磁場中時，光源發出的譜線在磁場的作用下分裂成數條，分裂后的譜線之間的間隔的磁光現象，其間隔大小與磁場強度成正比。塞曼效應產生的原因是磁光材料中電子的軌道磁矩和自旋磁矩在外 ...

lmeier色散公 式,實際應用中用波長代替能量作為參量：5.EMA(有效介質)模型有效介質模型應用于兩種或兩種以上的不同組份合成的混合介質體系,多達 5種不同材料組成的混合材料、多晶膜、金屬膜、表面粗糙的膜、多孔膜、不同材料或合金的分界面、不完全起反應的混合材(TiSi、WSi)、無定形材料和玻璃；其基本思想是將混合介質當作一種在特定的光譜范圍內具有單一有效介電常量張量的“有效介質”,是把均勻薄膜的微觀結構與其宏觀介電常數相聯系.它包含3種有效介質模型：5.1 lorentz-Lorenz有效介質模型zui簡單的異構介質是介電函數分別為εa和 εb的兩種介質隨機地混合在一起,其有效介電函數可 ...

的傳輸模式、色散、數值孔徑等特性，進而影響光纖的傳輸距離和帶寬。因此，需要根據不同的傳輸需求和條件來設計合適的光纖結構。光纖連接：光纖連接是指將兩根或多根光纖連接在一起或與其他器件連接在一起的過程，它會導致光信號在連接處產生反射、透射或偏振等現象，從而引起部分能量的損失。因此，需要采用高精度的切割、對準、固定等技術來保證光纖連接的質量和穩定性。圖2光纖對接示意圖光纖布線：光纖布線是指將光纖從一個地點延伸到另一個地點的過程，它會受到外界環境因素如溫度、濕度、壓力、振動等的影響，從而導致光纖產生彎曲、扭曲、拉伸等變形，進而引起部分能量的損失。因此，需要采用合理的布線方式和保護措施來減少光纖布線對光 ...

射率對比度和色散提供了有效方法，并且能夠提供有效的光譜分辨率，從而獲得波導的色散指數。除此之外，橢偏成像技術可以用于對導電聚合物膜層的研究，通過橢偏成像可以獲得聚合物層的空間分布信息和不同厚度層的顯著形態差異。 此外，橢偏成像還應用在原位測試方面。例如對界面氧化層變化的分析可以顯示氧化層厚度變化，精確到納米級 。對于水媒質中油滴到達石英固體表面上時形貌的變化，橢偏成像能夠準確地測定在液滴和界面之間發生薄膜排水時液滴輪廓的變化。該技術對厚膜和薄膜的測量都很敏感，無需掃描表面，可實時生成薄膜輪廓。到目前為止，橢偏成像技術在納米材料檢測方面已經取得長足的進步， 橢偏光譜成像已經可以對復雜二維分布的納 ...

脈沖的群速度色散，然而它惡化了探針束的偏振狀態，否則探針束在整個顯微鏡中保持偏振消光比為0.0005。聚焦光斑的直徑分別為300 nm和600 nm。反射的探針光束被分束器收集，聚焦在直徑為20 um的針孔上。對于某些示例，這種共聚焦配置可用于消除來自樣品襯底的背景散射光。在針孔之后，用一個偏振器來分析探測光束的克爾旋轉，該偏振器相對于入射光束的交叉偏振方向的角度為幾度(交叉偏振器技術)然后用光電倍增管和鎖定檢測方案進行檢測。垂直于樣品平面施加zui大振幅為±4kOe的可變靜態磁場H。樣品可以用XY壓電掃描臺在±40 um的距離上進行掃描，精度為2 nm。CoPt3光盤是由15 nm的CoxP ...

角線電導率的色散部分，從這些部分他們可以計算法拉第和克爾光譜。八十年代末，幾個研究小組又開始研究MO光譜的計算問題。Ebert和Uspenskii和Khalilov計算了3b鐵磁體對角線和非對角線電導率的吸收部分，這與Callaway和同事計算的光譜進行了類似的實驗，甚至有些不太好。Daalderop等人進一步計算了UNiSn光導率的吸收成分，并通過Kramers-Kronig變換計算了色散成分，隨后得到了第1個理論MOKE譜。Daalderop等人預測UNiSn的極性克爾旋轉為5c，但不幸的是，他們沒有發表在簡單系統上對他們的計算方法的測試。鑒于MO計算固有的困難，這種測試似乎是強制性的。此 ...

默斯-海森堡色散方程，該方程根據電偶極子算子的能量特征值和矩陣元素給出了折射率(克拉默斯和海森堡1925)。他通過考慮SO誘導的能量特征值分裂來解釋左圓偏振光和右圓偏振光折射率的差異，但忽略了SO耦合對波函數的影響。Kittel(1951)認為，SO耦合對波函數的影響可以產生同樣大的貢獻。Argyres(1955)提出了一個更完整的公式，其中處理了SO相互作用和自旋極化。因此，在五十年代，磁光學的基本起源被理解為SO耦合和交換分裂的相互作用。在同一時期，從世紀之交到五十年代，實驗技術不斷改進，但沒有新的發現可以報道。唯yi的例外是馬約拉納(1944)在應用磁場中發現順磁性金屬中的MO克爾效應。 ...