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平場聚焦鏡(f-theta鏡)
Kaleo MTF測量工作站
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀
單模/多模光束整形器
高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器
償大氣引入的像差。Babcock 的開創性論述中所提出的光學校正器叫做“Ediophor”,設想用一層薄的反射層覆蓋在一層油膜上面,然后在油膜上面施加電荷,靜電力使油膜根據電荷的空間分布產生相應的厚度變化,從而對入射的光線產生光程調制,這就是變形鏡的原型,如圖1。圖1 巴布科克提出的變形鏡原理但在當時的技術條件下沒能真正實現這樣的結構。之后隨著激光技術的發明和應用以及軍事研究的刺激,變形鏡的技術得以迅速發展,這也直接推動了自適應光學技術的發展。在美國軍方合同的支持下,Itek 公司的J.W.Hardy 等人于1974年發明了整體式壓電驅動變形鏡用于空間目標觀測系統。1984年,Itek 公司與 ...
的靜態和動態像差,使激光諧振腔保持正確的諧振條件,改善激光的光強和相位分布,提高輸出功率;腔外自適應光學技術是將波前校正器置于激光諧振腔外,利用波前補償的原理改善激光器輸出光束的相位分布,以達到提高遠場能量集中度的目的。腔內自適應光學校正相對來說技術更為復雜,因為激光腔內模式的產生過程本身就很復雜,需要進行數值仿真來迭代分析。早在1980年代,就有一系列的針對非穩腔CO2 激光器進行校正的理論分析和實驗結果,但實驗結果表明,很難取得良好的校正效果而往往只能校正少量的人工引入的誤差。90 年代以后,俄羅斯科研人員針對Nd:YAG 激光在開展校正工作,Cherezova 等的論文總結了他們的研究結 ...
學系統的波前像差檢測,虹膜定位像差引導,大口徑高精度光學元器件檢測,平行光管/望遠鏡系統的檢測與裝調,紅外、近紅外探測,激光光束性能、波前像差、M^2、強度的檢測,高精密光學元器件表面質量的檢測等領域發揮著越來越重要的作用。法國PHASICS公司研發團隊,突破傳統技術的壁壘,成功研發出了世界上分辨率最高的四波剪切干涉技術波前探測器。本文簡單介紹了波前傳感器的原理和典型應用,以及四波剪切干涉技術原理,比較了剪切干涉技術的波前分析儀與傳統哈特曼傳感器的特點。引 言:波前傳感器(Wave Front Sensor),按照其技術發展的歷史可以分為三個階段:第一階段,1900年德國科學家哈特曼采用挖孔的 ...
被廣泛的用于像差校正,體積成像和可編程神經元激發。 其中液晶空間光調制器(SLM)是高分辨率的相位調制器,能夠創建復雜的相位圖,以在三維(3D)體積內可實現任意的光束偏轉,可實現三維(3D)體積重塑。 Meadowlark Optics(MLO)公司最新的SLM將面填充率從83.4%提高到96%,并將分辨率從512 x 512像素提高到1920 x 1152像素,同時在1064 nm處達到300 Hz的液晶響應時間(0-2π)和845Hz的幀頻,可覆蓋波段:850-1650nm。 本文總結了MeadowlarkOptics公司新的SLM的功能,以及SLM在雙光子及三光子顯微微鏡成像應用中的優勢 ...
光學元件存在像差之外,更重要的原因是光波存在衍射效應,使得一個理想無限小的點物體發射的光波通過系統成像后,由于成像系統口徑有限,物體光的高頻成分被阻擋,最終參與成像的只有物體光波的低頻成分(因此傳統成像系統本質上相當于一個低通濾波器),使得最終的像不再是一個無限小的理想點,而成為了一個彌散的亮斑,稱為“艾里斑”。因此當兩個點物體距離較近時,它們通過成像系統后形成的兩個艾里斑就會重疊到一起無法分辨,兩個物點恰能分辨的距離就是極限分辨距離,對應的張角即為極限分辨角,這就是著名的“瑞利判據”。科學家發現,通常情況下該極限分辨率與光的波長(λ)、成像系統口徑(D)和數值孔徑(NA)等參數有關。瑞利判據 ...
點的PSF的像差敏感。為了確保在大體積上的一致激發,校正顯微鏡中SLM和其余光學元件的像差是很重要的。 許多用于表征和校正像差的算法都基于Zernike多項式。然而,對圓形孔徑的依賴不適用于描述正方形或矩形陣列的像差。已經開發了基于SLM的干涉子孔徑的替代策略[9],以確保SLM的有效區域上的像差可以被校正到λ/ 40或更好。如圖7所示,由于使用了制造工藝,MLO SLM的本身的波前像差很低。(a)原始的1920 x 1152像素SLM波前(λ/ 7 RMS)(b)應用了像差校正的波前(λ/ 20 RMS)(c)未應用校正的像差曲面圖。(d)應用校正后的像差曲面圖。5. 計算全息算法優化美 ...
里手動輸入各像差參數,如piston,Tiltx,Tilty, power, Astigx, Astigy, Comax ,Comay等和半徑,中心位置。Zernike多項式八、疊加功能疊加功能可以把2張相位圖疊加在一起,有時候是非常有用的,例如把5X5點陣疊加上一個閃耀光柵,就可以讓點陣偏離中心位置消除了0級光斑的影響;如下圖所示。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
應用于考察波像差影響因素的場合,如大氣光學和自適應光學領域;實際光束的S一般小于1,S越接近1,則光束質量越好。值得注意的是,斯特列爾比S 無法給出能量應用型系統所關注的空間光強分布信息。另外斯特列爾比S只能反映光束質量的優劣,對光學系統設計和優化缺乏足夠的指導能力。4.光束傳播因子M最常用的光束質量評價標準,被國際光學組織和國際標準組織ISO認證的評價參數。光束傳播因子M 定義為光束空間束寬積ωθ與理想光束空間束寬積ω θ 之間的比值,公式為M =ωθ/ω θ 。M 因子同時考慮了束寬和遠場發散角的變化對激光光束質量的影響。通常,激光光束在經過理想的光學系統時,空間光束束寬積是不變量,避免了 ...
多項式來表示像差,每一個小圖標代表一種像差。單位是um, Reset按鈕可以設置DM為一個平面。8 .LOOP CONTROL 該界面可以執行校正及開始或停止Loop功能;在執行校正(calibrate)該變型鏡后,可以在開環條件下從DM modes里設置參數控制DM面型,在閉環情況下可以從Loop Mode Target里控制面型。Show Calib. Res按鈕顯示校正的信息。時間軸顯示的是設置波前與實際探測到的波前間的差值,從Time span里修改顯示時間長度。9. LOOP Mode Target 該界面只能用于閉環情況下設定目標波前,然后ACE軟件會控制變形鏡達到設定值;每個小圖 ...
候,都會產生像差。在效率方面,當反射表面是干凈且沒有缺陷的時候,棱鏡內表面全反射的效率是100%,當然還存在棱鏡入射面和出射面上玻璃-空氣交界處的菲涅爾損耗,但是可以通過在棱鏡入射面和出射面上鍍增透膜來減少這一部分損耗。棱鏡相比于反射鏡還要一點好處,當整個系統處于一個給定的均勻的溫度變化環境之中時,整個棱鏡會整體地擴張或者縮小,對于整個光學系統來產生的影響較小,而當使用反射鏡的時候,由于反射鏡和固定反射鏡裝置由不同的金屬制成,所以會對溫度有不同的響應,從而相比棱鏡,對整個系統產生更多更差的影響。您可以通過我們的官方網站了解更多的產品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
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